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走査型プローブ顕微鏡

シーズコード S100001933
掲載日 2010年10月6日
研究者
  • 武笠 幸一
  • 末岡 和久
  • 加茂 直樹
  • 細井 浩貴
  • 澤村 誠
技術名称 走査型プローブ顕微鏡
技術概要 この走査型プローブ顕微鏡は、カンチレバー1と、このカンチレバー1上に形成された探針2と、この探針2の先端部分に形成された、アームチェア型の結晶構造を有し、伝導性を呈するカーボンナノチューブ3と、カーボンナノチューブ3に接続されたスピン偏極電子源とを具える。スピン偏極電子源からカーボンナノチューブ3を介して磁性試料中にスピン電子を注入せしめ、磁性試料の表面磁気構造及びスピン偏極度の空間分布の少なくとも一方を測定する。カーボンナノチューブ3はアームチェア型の結晶構造を有し、金属的な性質を帯びるようになって伝導性を呈する。したがって、このようなカーボンナノチューブ3の量子伝導性を利用した物性測定を行うことができる。具体的には、カーボンナノチューブ3に対してスピン偏極電子源を接続する。そして、このスピン偏極電子源などから所定の磁性試料に対して電子注入を行うとともに、磁性試料からのトンネル電流や弾道電子放出電流を、カーボンナノチューブ3を介して検出することにより、試料の磁気構造やスピン偏極度などの空間分布を測定することができる。
画像

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研究分野
  • 電子顕微鏡,イオン顕微鏡
展開可能なシーズ 種々の物性測定が可能であるとともに、生化学分野など種々の分野に適用することのできる新規な構成の走査型プローブ顕微鏡を提供する。
探針の先端部分にカーボンナノチューブを設けているので、カーボンナノチューブの微細な大きさと、このカーボンナノチューブの先端部分が有する伝導性又は修飾分子の物理特性とに応じて、種々の試料の種々の物性特性の測定が可能となる。
用途利用分野 ナノテクノロジー技術、カーボンナノチューブ、物性特性測定
出願特許   特許 国際特許分類(IPC)
( 1 ) 学校法人北海道大学, . 武笠 幸一, 末岡 和久, 加茂 直樹, 細井 浩貴, 澤村 誠, . 走査型プローブ顕微鏡. 特開2003-004619. 2003-01-08
  • G01N  13/12     
  • G12B  21/04     

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