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METHOD AND DEVICE FOR IDENTIFYING BRAGG GRATING STRUCTURE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Foreign code F070001651
File No. F070001651
Posted date Sep 7, 2007
Country WIPO
International application number 2006JP302909
International publication number WO 2007/004339
Date of international filing Feb 14, 2006
Date of international publication Jan 11, 2007
Priority data
  • P2005-257777 (Sep 6, 2005) JP
  • P2005-194118 (Jul 1, 2005) JP
Title METHOD AND DEVICE FOR IDENTIFYING BRAGG GRATING STRUCTURE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
Abstract Structure of the super-grating structure fiber Bragg grating (FBG) is identifiedand by using the identification method, a super-grating structure FBG temporarilycreated is subjected to phase trimming. A continuous light is introduced to oneend of the super-grating structure FBG (10) whose structure is to be identifiedand a measured spectrum D () of the reflected light outputted from thatend is measured by an optical spectrum analyzer (11). On the other hand, an analysisspectrum H () of Fourier analysis model of the super-grating structureFBG is calculated. The spectrum D () is compared tot he spectrum H ()and the parameter of the Fourier analysis model is updated by the method of leastsquares (LMS) algorithm to make a final decision. Since the structure (characteristics)of the temporarily created super-grating structure FBG is identified, thisis compared to a desired structure (characteristics) and subjected to phasetrimming, thereby obtaining a super-grating structure FBG having desired characteristics.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】ブラッググレーティングの構造の同定方法であって,所定の波長範囲にわたってほぼ強度が一定の光を発生し,前記光を光サーキュレータによってブラッググレーティングに導き,この光サーキュレータから出力されるブラッググレーティングの反射光の実測スペクトルを光スペクトル分析装置から得,あらかじめ作製したフーリエ解析モデルの解析スペクトルと実測スペクトルの比較により,これらの両スペクトルの差が最小になるようにフーリエ解析モデルのパラメータを特定する,ブラッググレーティングの構造の同定方法。

【請求項2】光導波路内に間隙部をあけて複数のサブブラッググレーティングを配置した超格子構造ブラッググレーティングを一旦作成し,この作成した超格子構造ブラッググレーティングの構造を請求の範囲第1項に記載の方法により同定し,同定した構造における反射光波間位相差を求め,求めた反射光波間位相差が所望の値となるように上記間隙部の物理定数を調整する,超格子構造ブラッググレーティングの作成方法。

【請求項3】ブラッググレーティングの構造の同定装置であって,所定の波長範囲にわたってほぼ強度が一定の光を発生する光源,上記光源からの光をブラッググレーティングに導き,かつブラッググレーティングの反射光を出力する光サーキュレータ,前記光サーキュレータから出射する光の実測スペクトルを測定する光スペクトル分析装置,およびあらかじめ作製したフーリエ解析モデルの解析スペクトルのデータと上記光スペクトル分析装置から出力される実測スペクトルのデータとを比較し,両スペクトル・データの差が最小になるようにフーリエ解析モデルのパラメータを特定するパラメータ演算処理手段,を備えたブラッググレーティングの構造の同定装置。

【請求項4】光導波路内に間隙部をあけて複数のサブブラッググレーティングを配置した超格子構造ブラッググレーティングを一旦作成し,この作成した超格子構造ブラッググレーティングの構造を請求の範囲第3項に記載の装置により同定し,同定した構造における反射光波間位相差を求め,求めた反射光波間位相差が所望の値となるように上記間隙部の物理定数を調整する,超格子構造ブラッググレーティングの作成方法。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • University Of Yamanashi
  • Inventor
  • Hanawa, Masanori
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BE BF BG BJ BR BW BY BZ CA CF CG CH CI CM CN CO CR CU CY CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI FR GA GB GD GE GH GM GN GQ GR GW HR HU ID IE IL IN IS IT JP KE KG KM KN KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV LY MA MC MD MG MK ML MN MR MW MX MZ NA NE NG NI NL NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SI SK SL SM SN SY SZ TD TG TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW
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