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FREQUENCY MEASURING APPARATUS AND FREQUENCY MEASURING METHOD

Foreign code F080001934
File No. F080001934
Posted date Sep 12, 2008
Country WIPO
International application number 2007JP055885
International publication number WO 2007/119488
Date of international filing Mar 22, 2007
Date of international publication Oct 25, 2007
Priority data
  • P2006-079686 (Mar 22, 2006) JP
Title FREQUENCY MEASURING APPARATUS AND FREQUENCY MEASURING METHOD
Abstract In a first frequency measuring apparatus, a frequency or a period can be measured with high accuracy and high resolution without increasing a sampling interval because of using times at many zero cross positions for the measurement by measuring the period or the frequency of waveform information on the basis of the average value of the time at each of the zero cross positions in a predetermined range including a zero cross position whose time is to be measured. In a second frequency measuring apparatus, the frequency or the period can be measured with high accuracy and high resolution without increasing the sampling interval because of using the times at many zero cross positions for the measurement by measuring the period or the frequency of the waveform information on the basis of the average value of the difference between a plurality of the times calculated from the time at each of the zero cross positions in a predetermined range including the zero cross position whose time is to be measured.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】入力された波形情報の第1のゼロクロス位置を含む第1の所定範囲内の複数のゼロクロス位置各々の時刻の平均値を、前記第1のゼロクロス位置に対する第1の時刻として算出する第1の算出手段と、前記波形情報の前記第1のゼロクロス位置とは異なる第2のゼロクロス位置を含む第2の所定範囲内の複数のゼロクロス位置各々の時刻の平均値を、前記第2のゼロクロス位置に対する第2の時刻として算出する第2の算出手段と、前記第1の時刻、前記第2の時刻、及び前記第1のゼロクロス位置と前記第2のゼロクロス位置との間に存在する波の数に基づいて、前記波形情報の周期及び周波数の少なくとも一方を測定する測定手段と、を含む周波数測定装置。

【請求項2】入力された波形情報の第1のゼロクロス位置を含む第1の所定範囲内の複数のゼロクロス位置の各々と、前記第1のゼロクロス位置とは異なる第2のゼロクロス位置を含む第2の所定範囲内の複数のゼロクロス位置の各々との時刻の差を各々算出する算出手段と、前記算出手段によって算出された時刻の差の平均値及び前記第1のゼロクロス位置と前記第2のゼロクロス位置との間に存在する波の数に基づいて、前記波形情報の周期及び周波数の少なくとも一方を測定する測定手段と、を含む周波数測定装置。

【請求項3】前記第1の所定範囲は、第1のゼロクロス位置の前後同数のゼロクロス位置を含む範囲であり、前記第2の所定範囲は、第2のゼロクロス位置の前後同数のゼロクロス位置を含む範囲である請求項1又は2記載の周波数測定装置。

【請求項4】入力された波形情報の第1のゼロクロス位置を含む第1の所定範囲内の複数のゼロクロス位置各々の時刻の平均値を、前記第1のゼロクロス位置に対する第1の時刻として算出し、前記波形情報の前記第1のゼロクロス位置とは異なる第2のゼロクロス位置を含む第2の所定範囲内の複数のゼロクロス位置各々の時刻の平均値を、前記第2のゼロクロス位置に対する第2の時刻として算出し、前記第1の時刻、前記第2の時刻、及び前記第1のゼロクロス位置と前記第2のゼロクロス位置との間に存在する波の数に基づいて、前記波形情報の周期及び周波数の少なくとも一方を測定することを特徴とする周波数測定方法。

【請求項5】入力された波形情報の第1のゼロクロス位置を含む第1の所定範囲内の複数のゼロクロス位置の各々と、前記第1のゼロクロス位置とは異なる第2のゼロクロス位置を含む第2の所定範囲内の複数のゼロクロス位置の各々との時刻の差を各々算出し、前記算出された時刻の差の平均値及び前記第1のゼロクロス位置と前記第2のゼロクロス位置との間に存在する波の数に基づいて、前記波形情報の周期及び周波数の少なくとも一方を測定することを特徴とする周波数測定方法。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • National University Corporation Gunma University
  • Inventor
  • Fujii, Yusaku
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BE BF BG BH BJ BR BW BY BZ CA CF CG CH CI CM CN CO CR CU CY CZ DE DK DM DZ EC EE EG ES FI FR GA GB GD GE GH GM GN GQ GR GT GW HN HR HU ID IE IL IN IS IT JP KE KG KM KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LT LU LV LY MA MC MD MG MK ML MN MR MT MW MX MY MZ NA NE NG NI NL NO NZ OM PG PH PL PT RO RS RU SC SD SE SG SI SK SL SM SN SV SY SZ TD TG TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
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