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DOI TYPE RADIATION DETECTOR

Foreign code F100002296
File No. 329P
Posted date Nov 29, 2010
Country WIPO
International application number 2008JP068279
International publication number WO 2010/041313
Date of international filing Oct 8, 2008
Date of international publication Apr 15, 2010
Title DOI TYPE RADIATION DETECTOR
Abstract This aims to provide a DOI type radiation detector in which scintillation crystals arranged two-dimensionally on a light receiving surface to form rectangular section groups in extending directions of the light receiving surface of a light receiving element (10) are stacked up to make a three-dimensional arrangement and responses of the crystals that have detected radiation are made possible to identify at response positions on the light receiving surface, so that a three-dimensional radiation detection position can be obtained. In the DOI type radiation detector, scintillation crystals (51, 52, 53, 59) are right triangle poles extending upwards from the light receiving surface and the response positions on the light receiving surface are characterized. With this structure, DOI identification of a plurality of layers can be carried out by simply performing an Anger calculation of a light receiving element signal.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】 受光素子の受光面の広がり方向に矩形区画群を形成するように該受光面上に2次元に配設したシンチレーション結晶を積層して3次元に配列し、放射線を検出した結晶の応答を受光面上の応答位置で識別可能とすることで、放射線検出位置を3次元で得るようにしたDOI型放射線検出器において、
 シンチレーション結晶を受光面上方に延びる直角三角柱として前記受光面における応答位置に特徴を持たせたことを特徴とするDOI型放射線検出器。

【請求項2】 前記受光面の所定位置上方における所定の2層間のシンチレーション結晶の組み合わせを、第1層を受光面上方に延びる直角三角柱とし、第2層を受光面上方に延びる直方体柱として、受光面における両結晶の応答位置を受光面の広がり方向にずらせたことを特徴とする請求項1に記載のDOI型放射線検出器。

【請求項3】 前記受光面の所定位置上方における所定の2層間のシンチレーション結晶の組み合わせを、第1層と第2層共に受光面上方に延びる直角三角柱とし、それらの向きを異ならせることで、受光面における両結晶の応答位置を受光面の広がり方向にずらせたことを特徴とする請求項1に記載のDOI型放射線検出器。

【請求項4】 前記受光面の所定位置上方における所定の2層のシンチレーション結晶の材質を互いに変えて、受光面における両結晶の応答位置を受光面の広がり方向にずらせたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のDOI型放射線検出器。

【請求項5】 二つの前記直角三角柱の斜辺を互いに対向するように配設して四角柱とし、前記長方形区画を形成したことを特徴とする請求項1及至4のいずれかに記載のDOI型放射線検出器。

【請求項6】 前記受光面の所定位置上方における所定の2層間のシンチレーション結晶の組み合わせを、
 各々の頂角を形成する辺が互いに集中するように四つの直角三角柱のシンチレーション結晶を配設して形成した四角柱ブロックと、
 各々の一角を形成する1辺が互いに集中するように4つの四角柱のシンチレーション結晶を配設し且つ両四角柱ブロックの柱軸に対する垂直断面が同形状となるように形成した四角柱ブロックとし、
 各四角柱ブロックが前記長方形区画を形成することを特徴とする請求項1に記載のDOI型放射線検出器。

【請求項7】 前記結晶の大きさが、対角線で4分割した場合の結晶2つ分である請求項1に記載のDOI型放射線検出器。

【請求項8】 前記結晶2つ分の大きさの結晶を最下層に用いたことを特徴とする請求項7に記載のDOI型放射線検出器。

【請求項9】 八つの前記直角三角柱のシンチレーション結晶を各々の頂角を形成する1辺が互いに集中するように配設して四角柱ブロックを形成し、
 更に該四角柱ブロックの側面を反射材で囲って側面遮光四角柱ブロックとし、
 受光面の所定位置上方における所定層間で該側面遮光四角柱ブロックの重なりを直角三角柱のシンチレーション結晶の短辺の長さだけ該短辺の1延長方向にずらすことで受光面における両結晶の応答を受光面の広がり方向にずらせたことを特徴とする請求項1に記載のDOI型放射線検出器。

【請求項10】 4層において、各層毎に前記延長方向を相違させたことを特徴とする請求項9に記載のDOI型放射線検出器。

【請求項11】 二つの前記直角三角柱のシンチレーション結晶を各々の斜辺が互いに対向するように配設して四角柱を形成し、
 更に該四角柱の四つを各々の前記斜辺を含まない1角を形成する辺が互いに集中するように配設して四角柱ブロックを形成し、
 更に該四角柱ブロックの側面を反射材で囲って側面遮光四角柱ブロックとし、
 受光面の所定位置上方における所定層間で該側面遮光四角柱ブロックの重なりを直角三角柱のシンチレーション結晶の短辺の長さだけ短辺の1延長方向にずらすことで、受光面における両結晶の応答を受光面の広がり方向にずらせたことを特徴とする請求項1に記載のDOI型放射線検出器。

【請求項12】 4層において、各層毎に前記延長方向を相違させたことを特徴とする請求項11に記載のDOI型放射線検出器。

【請求項13】 請求項9又は10と請求項11又は12に記載のDOI型放射線検出器を組み合わせて、受光面の所定位置上方における八層までの結晶の各応答を受光面の広がり方向にずらせたことを特徴とするDOI型放射線検出器。

【請求項14】 請求項1乃至13のいずれかにおけるDOI型放射線検出器の材質を変えて積層し、更に多層構造としたことを特徴とするDOI型放射線検出器。

【請求項15】 前記直角三角柱が、直角2等辺三角柱であることを特徴とする請求項1乃至14のいずれかに記載のDOI型放射線検出器。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • National Institute of Radiological Sciences
  • Inventor
  • INADAMA, Naoko
  • MURAYAMA, Hideo
  • SHIBUYA, Kengo
  • NISHIKIDO, Fumihiko
  • YAMAYA, Taiga
  • YOSHIDA, Eiji
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM,DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT(UTILITY MODEL),HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME(PETTY PATENT),MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM,PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,ST,SV(UTILITY MODEL),SY,TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
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