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DISTORTION INSPECTING APPARATUS AND DISTORTION INSPECTING METHOD meetings

Foreign code F110002357
Posted date Jan 12, 2011
Country WIPO
International application number 2008JP059681
International publication number WO 2008/149712
Date of international filing May 26, 2008
Date of international publication Dec 11, 2008
Priority data
  • P2007-147309 (Jun 1, 2007) JP
Title DISTORTION INSPECTING APPARATUS AND DISTORTION INSPECTING METHOD meetings
Abstract Provided is a distortion inspecting apparatus which can accurately inspect distortion of a transparent material by simple constitution. A distortion inspecting apparatus (50) is provided for inspecting perspective distortion of a glass (transparent material) (4). The distortion inspecting apparatus is provided with a projector (projecting means) (1) for projecting a plurality of display points arranged at prescribed intervals; a screen (display means) (2) for displaying and passing through an image projected by the projector (1); a supporting table (arranging means ) (3) for arranging the glass (4) at a position where the image passed through the screen (2) is passed through; a CCD camera (imaging means) (5) for photographing the image passed through the glass (4); an image processing circuit (6) for processing data of the image photographed by the CCD camera (5) into a format so that a computer can easily process the image data; a PC (control means) (7) for receiving the image data processed by the image processing circuit (6) and calculating a displacement quantity; and an LCD driver (8) for driving a liquid crystal panel arranged in the projector (1).
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】透明物体の透視歪を検査する歪検査装置であって、所定間隔に配置された複数の表示点を投影する投影手段と、該投影手段により投影された画像を表示し且つ透過させる表示手段と、該表示手段を透過した前記画像を透過させる位置に前記透明物体を配置する配置手段と、該透明物体を透過した画像を撮影する撮像手段と、制御手段と、を備え、前記制御手段は、基準となる透明物体を透過した画像の基準位置座標を予め記憶しておき、該基準位置座標と前記検査対象としての透明物体を透過した画像の検査位置座標とを比較して、前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする歪検査装置。

【請求項2】透明物体の透視歪を検査する歪検査装置であって、所定間隔に配置された複数の表示点を投影する投影手段と、該投影手段により投影された画像を透過させる位置に前記透明物体を配置する配置手段と、該透明物体を透過した画像を表示する表示手段と、該表示手段上に表示された画像を撮影する撮像手段と、制御手段と、を備え、前記制御手段は、基準となる透明物体を透過した画像の基準位置座標を予め記憶しておき、該基準位置座標と前記検査対象としての透明物体を透過した画像の検査位置座標とを比較して、前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする歪検査装置。

【請求項3】反射物体の反射歪を検査する歪検査装置であって、所定間隔に配置された複数の表示点を投影する投影手段と、該投影手段により投影された画像を反射する位置に前記反射物体を配置する配置手段と、該反射物体により反射した画像を表示する表示手段と、該表示手段上に表示された画像を撮影する撮像手段と、制御手段と、を備え、前記制御手段は、基準となる反射物体により反射した画像の基準位置座標を予め記憶しておき、該基準位置座標と前記検査対象としての反射物体により反射した画像の検査位置座標とを比較して、前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする歪検査装置。

【請求項4】反射物体の反射歪を検査する歪検査装置であって、所定間隔に配置された複数の表示点を表示する表示手段と、該表示手段により表示された画像を反射する位置に前記反射物体を配置する配置手段と、該反射物体により反射した画像を撮影する撮像手段と、制御手段と、を備え、前記制御手段は、基準となる反射物体により反射した画像の基準位置座標を予め記憶しておき、該基準位置座標と前記検査対象としての反射物体により反射した画像の検査位置座標とを比較して、前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする歪検査装置。

【請求項5】前記透過物体又は前記反射物体を前記配置手段に配置して歪検査を実施する場合、前記制御手段は、前記表示点を順次表示させて前記撮像手段により該表示点を撮影し、前記基準位置座標と前記検査位置座標の位置関係に基づいて前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の歪検査装置。

【請求項6】前記透過物体又は前記反射物体を前記配置手段に配置して歪検査を実施する場合、前記制御手段は、前記表示点をコード化して表示させて前記撮像手段により該表示点を撮影し、前記基準位置座標と前記検査位置座標の位置関係に基づいて前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の歪検査装置。

【請求項7】前記透過物体又は前記反射物体を前記配置手段に配置して歪検査を実施する場合、前記制御手段は、前記表示点の全てを1度で表示させて前記撮像手段により該表示点を撮影し、前記基準位置座標と前記検査位置座標の位置関係に基づいて前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の歪検査装置。

【請求項8】前記投影手段は、複数の表示点を有する液晶パネルと、該液晶パネルの背面から投光する光源と、レンズを有する光学系と、を備えて構成されていることを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の歪検査装置。

【請求項9】前記表示手段は、背面発光手段を有する液晶パネルにより構成されていることを特徴とする請求項4に記載の歪検査装置。

【請求項10】前記表示手段は、所定間隔に配置された発光ダイオードにより構成されていることを特徴とする請求項4に記載の歪検査装置。

【請求項11】透明物体の透視歪を検査する歪検査方法であって、所定間隔に配置された複数の表示点を投影する投影手段と、該投影手段により投影された画像を表示し且つ透過させる表示手段と、該表示手段を透過した前記画像を透過させる位置に前記透明物体を配置する配置手段と、該透明物体を透過した画像を撮影する撮像手段と、制御手段と、を備え、前記制御手段は、基準となる透明物体を透過した画像の基準位置座標を予め記憶しておき、該基準位置座標と前記検査対象としての透明物体を透過した画像の検査位置座標とを比較して、前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする歪検査方法。

【請求項12】透明物体の透視歪を検査する歪検査方法であって、所定間隔に配置された複数の表示点を投影する投影手段と、該投影手段により投影された画像を透過させる位置に前記透明物体を配置する配置手段と、該透明物体を透過した画像を表示する表示手段と、該表示手段上に表示された画像を撮影する撮像手段と、制御手段と、を備え、前記制御手段は、基準となる透明物体を透過した画像の基準位置座標を予め記憶しておき、該基準位置座標と前記検査対象としての透明物体を透過した画像の検査位置座標とを比較して、前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする歪検査方法。

【請求項13】反射物体の反射歪を検査する歪検査方法であって、所定間隔に配置された複数の表示点を投影する投影手段と、該投影手段により投影された画像を反射する位置に前記反射物体を配置する配置手段と、該反射物体により反射した画像を表示する表示手段と、該表示手段上に表示された画像を撮影する撮像手段と、制御手段と、を備え、前記制御手段は、基準となる反射物体により反射した画像の基準位置座標を予め記憶しておき、該基準位置座標と前記検査対象としての反射物体により反射した画像の検査位置座標とを比較して、前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする歪検査方法。

【請求項14】反射物体の反射歪を検査する歪検査方法であって、所定間隔に配置された複数の表示点を表示する表示手段と、該表示手段により表示された画像を反射する位置に前記反射物体を配置する配置手段と、該反射物体により反射した画像を撮影する撮像手段と、制御手段と、を備え、前記制御手段は、基準となる反射物体により反射した画像の基準位置座標を予め記憶しておき、該基準位置座標と前記検査対象としての反射物体により反射した画像の検査位置座標とを比較して、前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする歪検査方法。

【請求項15】前記透過物体又は前記反射物体を前記配置手段に配置して歪検査を実施する場合、前記制御手段は、前記表示点を順次表示させて前記撮像手段により該表示点を撮影し、前記基準位置座標と前記検査位置座標の位置関係に基づいて前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする請求項11乃至14の何れか一項に記載の歪検査方法。

【請求項16】前記透過物体又は前記反射物体を前記配置手段に配置して歪検査を実施する場合、前記制御手段は、前記表示点をコード化して表示させて前記撮像手段により該表示点を撮影し、前記基準位置座標と前記検査位置座標の位置関係に基づいて前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする請求項11乃至14の何れか一項に記載の歪検査方法。

【請求項17】前記透過物体又は前記反射物体を前記配置手段に配置して歪検査を実施する場合、前記制御手段は、前記表示点の全てを1度で表示させて前記撮像手段により該表示点を撮影し、前記基準位置座標と前記検査位置座標の位置関係に基づいて前記基準位置座標の変位量を算出することを特徴とする請求項11乃至14の何れか一項に記載の歪検査方法。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • UNIVERSITY OF MIYAZAKI
  • Inventor
  • KAWASUE, Kikuhito
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM(UTILITY MODEL),DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT,HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME(PETTY PATENT),MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM,PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,SV(UTILITY MODEL),SY,TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)

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