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APPARATUS FOR DETERMINING BRAIN ATROPHY, METHOD OF DETERMINING BRAIN ATROPHY AND PROGRAM FOR DETERMINING BRAIN ATROPHY

Foreign code F110002439
File No. S2006-0759-C0
Posted date Mar 4, 2011
Country WIPO
International application number 2007JP056839
International publication number WO 2007/114238
Date of international filing Mar 29, 2007
Date of international publication Oct 11, 2007
Priority data
  • P2006-094442 (Mar 30, 2006) JP
Title APPARATUS FOR DETERMINING BRAIN ATROPHY, METHOD OF DETERMINING BRAIN ATROPHY AND PROGRAM FOR DETERMINING BRAIN ATROPHY
Abstract Since brain atrophy occurs not only in a specific cross-section but over the whole brain or remarkably in a specific lobe (for example, the temporal lobe), it is desirable that the determination of brain atrophy is conducted not only by determining the atrophy in the frontal lobe but also checking the atrophy in the temporal lobe, the parietal lobe and the occipital lobe. Intracranial capacity, gray matter volume and white matter volume are individually extracted, computed and expressed in numerical values via image processing with the use of a plural number of MRI slice images and the like. Using the proportions of these numerical values, the ratio of the gray matter and the ratio of the white matter to the whole brain are computed. By comparing a number of measurement data obtained by the automated computing as described above with clinical cases, brain atrophy is objectively determined.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】頭部のスライス画像を取得する取得手段と、前記取得手段により取得された前記スライス画像を構成する画素の強度に基づいて、前記頭部における組織又は領域の体積を示す数値を算出する体積算出手段と、前記体積算出手段により算出された数値から、予め設定された判定基準に基づいて、前記頭部における脳萎縮を判定する判定手段と、前記判定手段による判定結果を示す情報を出力する出力手段と、を備える脳萎縮判定装置。

【請求項2】前記取得手段は、複数の前記スライス画像を取得して、前記体積算出手段は、前記複数の前記スライス画像に基づいて各数値を算出する、ことを特徴とする請求項1に記載の脳萎縮判定装置。

【請求項3】前記体積算出手段は、前記頭部の頭蓋内体積、並びに前記頭部の灰白質の体積及び白質の体積の少なくとも一つを含んでなる脳体積を示す数値を算出し、前記判定手段は、前記体積算出手段により算出された前記頭部の頭蓋内体積を示す数値と、前記脳体積を示す数値との比の値を算出して、当該比の値から前記脳萎縮を判定することを特徴とする請求項1又は2に記載の脳萎縮判定装置。

【請求項4】前記体積算出手段は、前記頭蓋内体積のうち、脳の外郭部分と脳室部分とに分けて、脳脊髄液の占める領域の脳脊髄液体積を示す数値を算出し、前記判定手段は、前記体積算出手段により算出された前記脳脊髄液体積を示す数値にも基づいて、前記脳萎縮を判定することを特徴とする請求項3に記載の脳萎縮判定装置。

【請求項5】前記体積算出手段は、前記頭部の灰白質の体積及び白質の体積の少なくとも一つを含んでなる脳体積を示す数値を算出すると共に、前記取得手段により取得された前記スライス画像を構成する画素の強度に基づいて、前記頭部の灰白質及び白質の少なくとも一つの形状を算出して、当該形状の凸包を算出して、当該凸包の体積を示す数値を算出し、前記判定手段は、前記体積算出手段により算出された前記凸包の体積を示す数値と、前記脳体積を示す数値との比の値を算出して、当該比の値から前記脳萎縮を判定することを特徴とする請求項1又は2に記載の脳萎縮判定装置。

【請求項6】前記体積算出手段は、前記スライス画像を構成する画素の強度に基づいて、EMアルゴリズムにより当該画素が示す前記頭部の組織又は領域を区別して、前記体積を示す数値を算出することを特徴とする請求項1~5の何れか一項に記載の脳萎縮判定装置。

【請求項7】前記体積算出手段は、前記EMアルゴリズムにより当該画素が前記頭部の組織又は領域を示す確率を算出して、算出した確率に基づいて、前記体積を示す値を算出することを特徴とする請求項6に記載の脳萎縮判定装置。

【請求項8】前記スライス画像は、MRIにより得られたスライス画像であることを特徴とする請求項1~7の何れか一項に記載の脳萎縮判定装置。

【請求項9】前記スライス画像は、前記頭部における外耳道中心と眼球中心とを通る面に平行な面を断面とした画像であることを特徴とする請求項1~8の何れか一項に記載の脳萎縮判定装置。

【請求項10】情報処理装置による脳萎縮判定方法であって、頭部のスライス画像を取得する取得ステップと、前記取得ステップにおいて取得された前記スライス画像を構成する画素の強度に基づいて、前記頭部における組織又は領域の体積を示す数値を算出する体積算出ステップと、前記体積算出ステップにおいて算出された数値から、予め設定された判定基準に基づいて、前記頭部における脳萎縮を判定する判定ステップと、前記判定ステップにおける判定結果を示す情報を出力する出力ステップと、を含む脳萎縮判定方法。

【請求項11】頭部のスライス画像を取得する取得機能と、前記取得機能により取得された前記スライス画像を構成する画素の強度に基づいて、前記頭部における組織又は領域の体積を示す数値を算出する体積算出機能と、前記体積算出機能により算出された数値から、予め設定された判定基準に基づいて、前記頭部における脳萎縮を判定する判定機能と、前記判定機能による判定結果を示す情報を出力する出力機能と、を情報処理装置に実行させる脳萎縮判定プログラム。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION SHIZUOKA UNIVERSITY
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION HAMAMATSU UNIVERSITY SCHOOL OF MEDICINE
  • Inventor
  • YAMAMOTO, Seiji
  • TSAGAAN, Baigalmaa
  • ABE, Keiichi
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH,BR(UTILITY MODEL),BW,BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM,DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH,GM,GT,HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM,PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,SV,SY,TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN,ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MT,NL,PL,PT,RO,SE,SI,SK,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW,GH,GM,KE,LS,MW,MZ,NA,SD,SL,SZ,TZ,UG,ZM,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
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