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GENERATING DEVICE, GENERATING METHOD, AND PROGRAM achieved

Foreign code F110002498
File No. 8033PCT
Posted date Mar 10, 2011
Country WIPO
International application number 2009JP063586
International publication number WO 2010/021233
Date of international filing Jul 30, 2009
Date of international publication Feb 25, 2010
Priority data
  • P2008-211473 (Aug 20, 2008) JP
Title GENERATING DEVICE, GENERATING METHOD, AND PROGRAM achieved
Abstract The objectives are to reduce the launch transition and eventually the risk of yield loss even with few indefinite value (don't care) bits within the input bits, such as in the case of test compression, without affecting the amount of test data, the failure detection rate, performance, or circuit design even with real speed scan testing while observing the internal signal lines, as well as to enable reduced power consumption in testing. A converting device (1) is provided with a specific internal signal line extracting unit (3), a specific internal signal line differentiating unit (5), a specifying unit (7) that specifies indefinite input value bits and input logic bits in the input bits, and an assignment unit (9) that assigns a logical value 1 or a logical value 0 to indefinite value bits in the input bits containing the specified indefinite input value bits. The specifying unit (7) is provided with an indefinite input value bit specifying unit (11) and an input logic bit specifying unit (13).
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】 与えられる集合であって、故障検出対象の論理回路に入力される入力ビットが、論理値1若しくは論理値0の論理ビットからなるテストベクトルの集合、少なくとも一つのビットが未定値の未定値ビットを含み残余のビットが論理ビットであるテストキューブの集合、又は、テストベクトルとテストキューブとの組み合わせの集合から、前記与えられた集合が持つ少なくとも1つの特性を維持しつつ若しくは向上させつつ新たな集合を生成する生成装置であって、
 入力ビットにおける論理ビット及び未定値ビットとすべきビットを特定する特定手段を備え、
前記特定手段が、
 前記論理回路内の特定の内部信号線であって、それぞれに指定される論理値を有している第一の特定内部信号線、それぞれに指定される論理値とは異なる論理値を有している第二の特定内部信号線、及び、未定値を有している第三の特定内部信号線に関し、
 前記与えられた集合に基づき、前記特性を維持しながら若しくは向上させながら、
  前記第一の特定内部信号線が有する前記各指定される論理値の少なくとも一つを未定値の状態に変更させること、
  前記第二の特定内部信号線には当該異なる論理値の少なくとも一つを維持させて当該維持された異なる論理値を有する第二の特定内部信号線を前記指定される論理値以外の状態とさせること、及び、
  前記第三の特定内部信号線には当該未定値の少なくとも一つを維持させ又は前記異なる論理値に変更させて当該維持された未定値を有する又は当該変更された異なる論理値を有する第三の特定内部信号線を前記指定される論理値以外の状態とさせることについて、
  少なくともいずれかが可能な、入力ビットにおける論理ビット及び未定値ビットとすべきビットを、
 特定する、生成装置。

【請求項2】 前記特定の内部信号線には後段回路が接続されており、
 前記各指定される論理値及び前記各指定される論理値とは異なる論理値は、前記後段回路をコントロールする値である、請求項1記載の生成装置。

【請求項3】 前記後段回路はフリップフロップ回路群であり、前記特定の内部信号線は前記フリップフロップ回路群を制御するための信号線であり、
 前記特定の内部信号線に論理値1又は論理値0を割り当てる割当手段をさらに備え、
 前記割当手段が、前記特定処理により特定された未定値ビットとすべきビットを含む入力ビットにおける未定値ビットに対し、
  前記第一の特定内部信号線が未定値の状態に変更可能なものについては前記各指定される論理値とは異なる論理値を有するように論理値1又は論理値0を割り当て、
  前記第三の特定内部信号線が維持された未定値を有している場合には前記各指定される論理値とは異なる論理値を有するように論理値1又は論理値0を割り当てる、請求項2記載の生成装置。

【請求項4】 与えられる集合であって、故障検出対象の論理回路に入力される入力ビットが、論理値1若しくは論理値0の論理ビットからなるテストベクトルの集合、少なくとも一つのビットが未定値の未定値ビットを含み残余のビットが論理ビットであるテストキューブの集合、又は、テストベクトルとテストキューブとの組み合わせの集合から、前記与えられた集合が持つ少なくとも1つの特性を維持しつつ若しくは向上させつつ新たな集合を生成する生成方法であって、
 特定手段が、前記論理回路内の特定の内部信号線であって、それぞれに指定される論理値を有している第一の特定内部信号線、それぞれに指定される論理値とは異なる論理値を有している第二の特定内部信号線、及び、未定値を有している第三の特定内部信号線に関し、
 前記与えられた集合に基づき、前記特性を維持しながら若しくは向上させながら、
  前記第一の特定内部信号線が有する前記各指定される論理値の少なくとも一つを未定値の状態に変更させること、
  前記第二の特定内部信号線には当該異なる論理値の少なくとも一つを維持させて当該維持された異なる論理値を有する第二の特定内部信号線を前記指定される論理値以外の状態とさせること、及び、
  前記第三の特定内部信号線には当該未定値の少なくとも一つを維持させ又は前記異なる論理値に変更させて当該維持された未定値を有する又は当該変更された異なる論理値を有する第三の特定内部信号線を前記指定される論理値以外の状態とさせることについて、
  少なくともいずれかが可能な、入力ビットにおける論理ビット及び未定値ビットとすべきビットを、
 特定する特定処理を含む、生成方法。

【請求項5】 前記特定の内部信号線には後段回路が接続されており、
 前記各指定される論理値及び前記各指定される論理値とは異なる論理値は、前記後段回路をコントロールする値である、請求項4記載の生成方法。

【請求項6】 前記後段回路はフリップフロップ回路群であり、前記特定の内部信号線は前記フリップフロップ回路群を制御するための信号線であり、
 割当手段が、前記特定処理により特定された未定値ビットとすべきビットを含む入力ビットにおける未定値ビットに対し、
  前記第一の特定内部信号線が未定値の状態に変更可能なものについては前記各指定される論理値とは異なる論理値を有するように論理値1又は論理値0を割り当て、
  前記第三の特定内部信号線が維持された未定値を有している場合には前記各指定される論理値とは異なる論理値を有するように論理値1又は論理値0を割り当てる、
 割当処理を含む、請求項5記載の生成方法。

【請求項7】 請求項4から6のいずれかに記載の生成方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • National University Corporation Kyushu Institute of Technology
  • Inventor
  • MIYASE Kohei
  • WEN Xiaoqing
  • KAJIHARA Seiji
  • YAMATO Yuta
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CL(UTILITY MODEL),CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM,DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT(UTILITY MODEL),HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME,MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM(UTILITY MODEL),PE(UTILITY MODEL),PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,ST,SV(UTILITY MODEL),SY,TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MK,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,SM,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
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