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RARE-EARTH COMPLEX AND USE THEREOF

Foreign code F110002609
File No. S2007-0451-C0
Posted date Mar 29, 2011
Country WIPO
International application number 2008JP000464
International publication number WO 2008/111293
Date of international filing Mar 6, 2008
Date of international publication Sep 18, 2008
Priority data
  • P2007-059484 (Mar 9, 2007) JP
Title RARE-EARTH COMPLEX AND USE THEREOF
Abstract A rare-earth complex which has circularly light-polarizing properties and high luminescent properties. The rare-earth complex comprises: a central ion which is a rare-earth ion; and ligands coordinated to the rare-earth ion which are a binaphthyl-structure ligand as an optically active ligand and another optically active ligand which is not a binaphthyl-structure ligand.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】一般式(1)【化1】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、Xは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、L*はビナフチル構造配位子とは異なる光学活性構造配位子、nは1から4の整数を表す。)で表されることを特徴とする希土類錯体。

【請求項2】一般式(2)【化2】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、XおよびYは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、RはC1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれかを表す。)で表されることを特徴とする希土類錯体。

【請求項3】一般式(3)【化3】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、Z1~Z3およびYは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、RはC1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれかを表す。)で表されることを特徴とする希土類錯体。

【請求項4】前記希土類イオンが、Euのイオンであることを特徴とする請求項1~3のいずれかに記載の希土類錯体。

【請求項5】一般式(1)【化1】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、Xは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、L*はビナフチル構造配位子とは異なる光学活性構造配位子、nは1から4の整数を表す。)で表される希土類錯体を用いた発光部材を含むセキュリティシステム。

【請求項6】一般式(2)【化2】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、XおよびYは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、RはC1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれかを表す。)で表される希土類錯体を用いた発光部材を含むセキュリティシステム。

【請求項7】一般式(3)【化3】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、Z1~Z3およびYは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、RはC1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれかを表す。)で表される希土類錯体を用いた発光部材を含むセキュリティシステム。

【請求項8】前記希土類イオンが、Euのイオンであることを特徴とする請求項5~7のいずれかに記載のセキュリティシステム。

【請求項9】一般式(1)【化1】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、Xは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、L*はビナフチル構造配位子とは異なる光学活性構造配位子、nは1から4の整数を表す。)で表される希土類錯体を用いた発光光源。

【請求項10】一般式(2)【化2】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、XおよびYは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、RはC1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれかを表す。)で表される希土類錯体を用いた発光光源。

【請求項11】一般式(3)【化3】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、Z1~Z3およびYは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、RはC1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれかを表す。)で表される希土類錯体を用いた発光光源。

【請求項12】前記希土類イオンが、Euのイオンであることを特徴とする請求項9~11に記載の発光光源。

【請求項13】一般式(1)【化1】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、Xは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、L*はビナフチル構造配位子とは異なる光学活性構造配位子、nは1から4の整数を表す。)で表される希土類錯体を用いた測定用標識剤。

【請求項14】一般式(2)【化2】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、XおよびYは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、RはC1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれかを表す。)で表される希土類錯体を用いた測定用標識剤。

【請求項15】一般式(3)【化3】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、Z1~Z3およびYは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、RはC1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれかを表す。)で表される希土類錯体を用いた測定用標識剤。

【請求項16】前記希土類イオンが、Euのイオンであることを特徴とする請求項13~15のいずれかに記載の測定用標識剤。

【請求項17】一般式(1)【化1】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、Xは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、L*はビナフチル構造配位子とは異なる光学活性構造配位子、nは1から4の整数を表す。)で表される希土類錯体を用いた光学機能材料。

【請求項18】一般式(2)【化2】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、XおよびYは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、RはC1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれかを表す。)で表される希土類錯体を用いた光学機能材料。

【請求項19】一般式(3)【化3】(式中、Ln(III)は3価の希土類イオン、Z1~Z3およびYは同一または異なる水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、C1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれか、RはC1からC20の基、水酸基、ニトロ基、アミノ基、スルホニル基、シアノ基、シリル基、ホスホン酸基、ジアゾ基、メルカプト基のいずれかを表す。)で表される希土類錯体を用いた光学機能材料。

【請求項20】前記希土類イオンが、Euのイオンであることを特徴とする請求項17~19のいずれかに記載の光学機能材料。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION NARA INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
  • Inventor
  • HASEGAWA, Yasuchika
  • KAWAI, Tsuyoshi
  • HARADA, Takashi
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO,AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH,BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM(UTILITY MODEL),DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH,GM,GT,HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME(PETTY PATENT),MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM,PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,SV(UTILITY MODEL),SY,TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN,ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW,GH,GM,KE,LS,MW,MZ,NA,SD,SL,SZ,TZ,UG,ZM,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
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