Top > Search of International Patents > SIGNAL PROCESSING DEVICE

SIGNAL PROCESSING DEVICE

Foreign code F110002611
File No. S2007-0631-C0
Posted date Mar 29, 2011
Country WIPO
International application number 2008JP055757
International publication number WO 2008/123315
Date of international filing Mar 26, 2008
Date of international publication Oct 16, 2008
Priority data
  • P2007-092067 (Mar 30, 2007) JP
Title SIGNAL PROCESSING DEVICE
Abstract It is possible to provide a signal processing device which can preferably restore a target original signal from a mixed signal obtained by mixing a plurality of original signals. An isolated signal generation unit (20) generates a plurality of isolated signals independent from one another from one frame of the mixed signal converted into a frequency region. According to a first and a second isolated signal, a mask processing unit (30) judges the noise state of the first separated signal for each of frequency bins. Moreover, the mask processing unit (30)removes from the first isolated signal, a first noise component obtained according to the judgment result of the noise state. A noise amount measuring unit (40) measures a noise amount of the first isolated signal. According to the noise amount measured by the noise amount measuring unit, a noise signal selection unit (50) selects a noise signal for each of frequencies. A noise removal processing unit (60) removes the second noise component form the noise removal signal inputted from the mask processing unit (30) for each of the frequency bins. The noise removal processing unit (60) outputs as a target signal, the noise-removed signal from which the second noise component has been removed.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】複数の波動源(10)のうち対象となる波動源(10)から出力された原信号を目的信号として復元する信号処理装置であって、
 (a) 各々が、前記複数の波動源から出力された複数の原信号につき、該複数の原信号の混合信号として観測可能な複数の観測部(15)と、
 (b) 各観測部(15)で観測されて周波数領域に変換された1フレーム分の前記混合信号から、互いに独立した複数の分離信号を前記フレーム内の周波数ビン毎に生成する分離信号生成部(20)と、
 (c) 前記複数の分離信号のうち前記目的信号に対応する第1分離信号と、前記複数の分離信号のうち前記第1分離信号以外の第2分離信号と、に基づいて、前記第1分離信号の雑音状況を判断する処理と、
 雑音状況の判断結果に基づいて求められた第1雑音成分を前記第1分離信号から除去することにより雑音除去信号を生成する処理と、
 前記雑音状況の判断結果に基づいて雑音状況信号を生成する処理と、
を、前記フレーム内の周波数ビン毎に行うマスク処理部(30)と、
 (d) 前記マスク処理部(30)側から入力された前記周波数ビン毎の雑音状況信号に基づいて、前記フレーム毎に、前記第1分離信号に含まれる雑音量を計測する雑音量計測部(40)と、
 (e) 前記雑音量計測部(40)によって計測された前記雑音量に基づいて、前記周波数ビン毎に、前記第2分離信号のうちの1つの信号を雑音信号として選択する雑音信号選択部(50)と、
 (f) 前記雑音信号に基づいて生成された第2雑音成分を、前記雑音除去信号から前記周波数ビン毎に除去するとともに、前記第2雑音成分が除去された前記雑音除去信号を目的信号として出力する雑音除去処理部(60)と、
を備えることを特徴とする信号処理装置。

【請求項2】請求項1に記載の信号処理装置において、
 前記マスク処理部(30)は、前記周波数ビン毎に、前記目的信号に対応する前記第1分離信号の振幅スペクトルと、前記第2分離信号の振幅スペクトルと、の大小比較に基づいて、前記雑音状況の判断と、前記雑音状況信号の生成と、を行い、
 前記雑音量計測部(40)は、前記雑音状況信号を計数することによって、前記雑音量を計測することを特徴とする信号処理装置。

【請求項3】複数の波動源(10)のうち対象となる波動源(10)から出力された原信号を目的信号として復元する信号処理装置であって、
 (a) 各々が、前記複数の波動源から出力された複数の原信号につき、該複数の原信号を混合信号として観測可能な複数の観測部(15)と、
 (b) 各観測部(15)で観測されて周波数領域に変換された1フレーム分の前記混合信号から、互いに独立した複数の分離信号を前記フレーム内の周波数ビン毎に生成する分離信号生成部(20)と、
 (c) 前記複数の分離信号のうち前記目的信号に対応する第1分離信号と、前記複数の分離信号のうち前記第1分離信号以外の第2分離信号と、に基づいて、前記第1分離信号の雑音状況を判断する処理と、
 雑音状況の判断結果に基づいて求められた第1雑音成分を前記第1分離信号から除去することにより雑音除去信号を生成する処理と、
を前記フレーム内の周波数ビン毎に行うマスク処理部(30)と、
 (d) 前記分離信号生成部から入力された前記複数の分離信号に基づいて、前記フレーム毎に、前記第1分離信号に含まれる雑音量を計測する雑音量計測部(140,240)と、
 (e) 前記雑音量計測部(140,240)によって計測された前記雑音量に基づいて、前記周波数ビン毎に、前記第2分離信号のうちの1つの信号を雑音信号として選択する雑音信号選択部(50)と、
 (f) 前記雑音信号に基づいて生成された第2雑音成分を前記雑音除去信号から前記周波数ビン毎に除去するとともに、前記第2雑音成分が除去された前記雑音除去信号を目的信号として出力する雑音除去処理部(60)と、
を備えることを特徴とする信号処理装置。

【請求項4】請求項3に記載の信号処理装置において、
 前記雑音量計測部(140)は、前記分離信号生成部(20)から入力された周波数領域の第1分離信号を時間領域に変換するとともに、変換後の前記第1分離信号を用いて演算された尖度に基づいて、前記第1分離信号に含まれる前記雑音量を計測することを特徴とする信号処理装置。

【請求項5】請求項3に記載の信号処理装置において、
 前記雑音量計測部(240)は、前記分離信号生成部(20)から入力された第2分離信号の広がり状況に基づいて、前記フレーム毎に、前記第1分離信号に含まれる雑音量を計測することを特徴とする信号処理装置。

【請求項6】請求項5に記載の信号処理装置において、
 前記広がり状況は、第2分離信号の方向のばらつき状況であることを特徴とする信号処理装置。

【請求項7】請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の信号処理装置において、
 前記雑音除去処理部(60)は、前記雑音量計測部(40、140、240)側から入力された前記雑音量と、前記雑音信号選択部(50)によって選択された雑音信号と、に基づいて、前記第2雑音成分を生成することを特徴とする信号処理装置。

【請求項8】請求項1または請求項3に記載の信号処理装置において、
 前記雑音除去処理部(60)は、前記雑音除去信号の振幅スペクトルから前記第2雑音成分の振幅スペクトルを減算することによって、前記周波数ビン毎に前記目的信号の振幅スペクトルを演算することを特徴とする信号処理装置。

【請求項9】請求項1または請求項3に記載の信号処理装置において、
 M個の波動源(10)から出力されたM個の原信号は、それぞれN個の観測部(15)によって観測され(M、Nは、それぞれ2以上の自然数)、
 前記マスク処理部(30)は、1個の第1分離信号と、(M-1)×N個の第2分離信号と、に基づいて雑音状況を判断し、
 前記雑音信号選択部(50)は、(M-1)×N個の第2分離信号のうちの1つを、雑音信号として選択することを特徴とする信号処理装置。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION NARA INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
  • Inventor
  • SARUWATARI, Hiroshi
  • MORI, Yoshimitsu
  • BABA, Eiji
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO,AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH,BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM(UTILITY MODEL),DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH,GM,GT,HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME(PETTY PATENT),MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM,PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,SV(UTILITY MODEL),SY,TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN,ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
Please contact us by E-mail or facsimile if you have any interests on this patent.

PAGE TOP

close
close
close
close
close
close