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ACOUSTIC MEASUREMENT DEVICE AND ACOUSTIC MEASUREMENT METHOD meetings

Foreign code F110002695
File No. S2007-0915-C0
Posted date Apr 8, 2011
Country WIPO
International application number 2008JP062485
International publication number WO 2009/008478
Date of international filing Jul 10, 2008
Date of international publication Jan 15, 2009
Priority data
  • P2007-181146 (Jul 10, 2007) JP
Title ACOUSTIC MEASUREMENT DEVICE AND ACOUSTIC MEASUREMENT METHOD meetings
Abstract It is possible to realize a measurement system for accurately detecting a position of a sound source of a jet noise (screech) generated by a jet flow of a jet engine. High speed sampling is performed by applying a laser light into a jet flow and its surrounding by the schlieren optics and using a high speed optical sensor while shifting a measurement point. The value obtained by sampling is a result of the optical path curved by a density gradient generated in the arc-shape from the center of the jet air current. The value is subjected to a high-speed Fourier transform and decomposed into frequency components constituting the noise. After this, data belonging to a particular frequency is subjected to Abel transform so as to obtain a density gradient in the radial direction from the center of the jet air current. The obtained density gradient is visualized in a graph display so as to accurately know the position of the sound source and the state of the air current.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】 気流中の所定の計測点に光を通過させて前記光の輝度を電気信号に変換した輝度信号を出力する光学系と、
 所定のサンプリング周波数にて前記輝度信号を輝度データに変換するインターフェースと、
 前記輝度データとサンプリング時間情報と、前記計測点に係る計測位置情報を記憶する第1記憶部と、
 前記第1記憶部に記憶されている前記サンプル時間情報と前記輝度データを前記計測位置情報毎にフーリエ変換して、周波数成分情報と振幅データを得るフーリエ変換部と、
 前記計測位置情報と前記周波数成分情報と前記振幅データを記憶する第2記憶部と、
 前記第2記憶部に蓄積されている前記周波数成分情報から、特定の周波数成分に係る前記振幅データを取り出す解析対象周波数選択部と、
 前記解析対象周波数選択部で取り出された前記振幅データを、前記気流の中心からの半径方向位置における前記気流中の密度勾配の情報に変換するアーベル変換部と、
 前記アーベル変換部にて得られた半径方向位置情報と前記密度勾配を記憶する第3記憶部と、
 前記第3記憶部に蓄積されている前記半径方向位置情報と前記密度勾配情報を可視化処理する表示処理部と、
 前記表示処理部の結果を表示するディスプレイと
を具備する音響計測装置。

【請求項2】 前記光学系は、
 レーザ光源と、
 集光部と、
 ナイフエッジと、
 ピンホールを有するスクリーンと、
 前記スクリーンに設けられる光センサと
 よりなるシュリーレン光学系を構成するものである、請求項1記載の音響計測装置。

【請求項3】 更に、
 前記フーリエ変換部と前記第2記憶部との間に、前記周波数成分情報の平均値を得る平均演算部を具備するものである、請求項2記載の音響計測装置。

【請求項4】 気流中の所定の計測点にレーザ光を通過させて、前記レーザ光の屈折状態の変化を前記レーザ光の輝度の変化に変換して輝度信号を取得するステップと、
 前記輝度信号を所定のサンプリングクロックにてデータ変換し、サンプリング時間情報と輝度データを取得するステップと、
 前記サンプリング時間情報と前記輝度データを前記計測点の位置に係る計測位置情報と共に記憶するステップと、
 前記計測位置情報に係る前記時間情報と前記輝度データをフーリエ変換して、周波数成分情報と振幅データを得るステップと、
 前記周波数成分情報と前記振幅データを前記計測位置情報と共に記憶するステップと、
 前記周波数成分情報から所望の周波数を選択し、前記選択した周波数に係る前記振幅データと前記計測位置情報を取り出すステップと、
 前記選択された周波数に係る前記振幅データと前記計測位置情報をアーベル変換して、前記気流の中心からの半径方向位置における前記気流中の密度勾配のデータに変換するステップと、
 前記半径方向位置における前記密度勾配のデータを記憶するステップと、
 前記半径方向位置における前記密度勾配のデータを可視化表示するステップと
を含む、音響計測方法。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • National University Corporation Gunma University
  • Japan Aerospace Exploration Agency
  • Inventor
  • ARAKI, Mikiya
  • SONE, Yusuke
  • KOJIMA, Takayuki
  • TAGUCHI, Hideyuki
  • SHIGA, Seiichi
  • OBOKATA, Tomio
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM(UTILITY MODEL),DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT,HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME(PETTY PATENT),MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM,PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,ST,SV(UTILITY MODEL),SY,TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
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