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TEMPERATURE MEASURING METHOD AND TEMPERATURE CONTROL METHOD USING TEMPERATURE SENSITIVE MAGNETIC BODY meetings

Foreign code F110002714
File No. S2008-0223-C0
Posted date Apr 8, 2011
Country WIPO
International application number 2009JP050183
International publication number WO 2009/088062
Date of international filing Jan 9, 2009
Date of international publication Jul 16, 2009
Priority data
  • P2008-003608 (Jan 10, 2008) JP
  • P2008-163226 (Jun 23, 2008) JP
Title TEMPERATURE MEASURING METHOD AND TEMPERATURE CONTROL METHOD USING TEMPERATURE SENSITIVE MAGNETIC BODY meetings
Abstract Provided is a temperature measuring method using a temperature probe which arranges a temperature sensitive magnetic body having an arbitrary Curie point at a portion to be measured and generates a magnetic field from a magnetic field generation source arranged at a position apart from the portion to be measured, so that a magnetic sensor detects a change of a magnetic flux vector of the magnetic field which depends on the temperature of the temperature sensitive magnetic body, thereby measuring the temperature of the portion to be measured. Thus, it is possible to measure a temperature of a portion to be measured from a position apart from that portion in the wireless mode. The size of the temperature probe can be minimized. It is also possible to provide a temperature control method using the temperature measuring method and a system used for the method.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】 任意のキュリー点を有する感温磁性体を被計測部に配置するとともに、前記被計測部から離れた場所に設置された磁場発生源から磁場を発生させ、
 前記感温磁性体の温度に依存する、前記磁場の磁束ベクトルの変化を、磁気センサで検出することによって、
前記被計測部の温度を計測することを特徴とする、温度計測方法。

【請求項2】 それぞれ異なる任意のキュリー点を有する複数の感温磁性体を被計測部に配置するとともに、前記被計測部から離れた場所に設置された磁場発生源から磁場を発生させ、
 前記感温磁性体の温度に依存する、前記磁場の磁束ベクトルの変化を、磁気センサで検出することによって、
前記被計測部の温度を計測することを特徴とする、温度計測方法。

【請求項3】 前記磁場発生源が、交流電流を流したコイルであることを特徴とする、請求の範囲第1項1又は第2項に記載の温度計測方法。

【請求項4】 前記磁気センサがコイルであることを特徴とする、請求の範囲第1~3項のいずれか一項に記載の温度計測方法。

【請求項5】 前記感温磁性体が粉体であることを特徴とする、請求の範囲第1~4項のいずれか一項に記載の温度計測方法。

【請求項6】 前記感温磁性体に、誘導加熱しやすい発熱材料が併用されることを特徴とする、請求の範囲第1~5項のいずれか一項に記載の温度計測方法。

【請求項7】 前記磁気センサの出力が最小値(Vmin)となるように、前記磁気センサ及び前記磁場発生源の相対的な位置及び姿勢を調整して固定し、
 前記感温磁性体を前記被計測部に配置するとともに、前記磁気センサの出力が最大値(Vmax)となるように、前記磁気センサ及び前記磁場発生源と、前記感温磁性体との相対的な位置及び姿勢を調整して固定し、
 前記被計測部の温度が目標温度に達したときの前記磁気センサの出力(V)を、下記計算式より求めることを特徴とする、請求の範囲第1~6項のいずれか一項に記載の温度計測方法。
計算式:V=(Vmax-Vmin)×k+Vmin(ただし、kは0<k<1の定数である。)

【請求項8】 被計測部に配置される、任意のキュリー点を有する感温磁性体と、
 前記被計測部から離れた場所で磁場を発生させるとともに、前記感温磁性体の温度に依存する前記磁場の磁束ベクトルの変化を検出する検出部と、
を備えることを特徴とする、温度計測システム。

【請求項9】 前記検出部が、前記被計測部から離れた場所で磁場を発生させる磁場発生源、及び、前記感温磁性体の温度に依存する前記磁場の磁束ベクトルの変化を検出する磁気センサ、を備えることを特徴とする、請求の範囲第8項に記載の温度計測システム。

【請求項10】 前記検出部に、さらにロックインアンプが備えられることを特徴とする、請求の範囲第9項に記載の温度計測システム。

【請求項11】 任意のキュリー点を有する感温磁性体を被計測部に配置するとともに、前記被計測部を加熱用器具によって加熱し、
 前記被計測部から離れた場所に設置された磁場発生源から磁場を発生させるとともに、前記感温磁性体の温度に依存する前記磁場の磁束ベクトルの変化を磁気センサで検出し、
 前記磁気センサからの検出信号に基づいて前記加熱用器具を制御することを特徴とする、温度制御方法。

【請求項12】 前記磁場発生源が前記加熱用器具を兼ねる、請求の範囲第11項に記載の温度制御方法。

【請求項13】 被計測部に配置される、任意のキュリー点を有する感温磁性体と、
 前記被計測部から離れた場所で磁場を発生させるとともに、前記感温磁性体の温度に依存する前記磁場の磁束ベクトルの変化を検出する検出部と、
 前記被計測部を加熱する加熱部と、
 前記検出部から得られる検出信号に基づいて前記加熱部を制御するコンピュータを有する制御部と、を備えることを特徴とする、温度制御システム。

【請求項14】 前記検出部に、前記被計測部から離れた場所で磁場を発生させる磁場発生源が備えられ、該磁場発生源が前記感温磁性体を誘導加熱することで前記加熱部の役割を果たすことを特徴とする、請求の範囲第13項に記載の温度制御システム。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • AKITA UNIVERSITY
  • Inventor
  • YOSHIMURA, Noboru
  • MITOBE, Kazutaka
  • OGAWA, Jun-ichi
  • SAITO, Hajime
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM(UTILITY MODEL),DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT(UTILITY MODEL),HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME,MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM(UTILITY MODEL),PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,ST,SV(UTILITY MODEL),SY,TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MK,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
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