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FLUORESCENCE READER AND FLUORESCENCE READING METHOD meetings

Foreign code F110002754
File No. S2006-1364-C0
Posted date Apr 13, 2011
Country WIPO
International application number 2007JP000910
International publication number WO 2008/102417
Date of international filing Aug 27, 2007
Date of international publication Aug 28, 2008
Priority data
  • P2007-038706 (Feb 19, 2007) JP
Title FLUORESCENCE READER AND FLUORESCENCE READING METHOD meetings
Abstract [PROBLEMS] To provide a fluorescence reader such as a microarray reader structured in consideration of the influence originated from a fluorescent substance not concerned in the interaction between the probe material and a target substance. [MEANS FOR SOLVING PROBLEMS] A fluorescence reader (12) comprises an angle-of-incidence adjusting means (10) for adjusting the angle of incidence when light from a light source (7) is incident on a substrate (2) and a controller (11) having means for controlling the angle of incidence adjusted by the angle-of-incidence adjusting means (10), receiving information on the angle of incidence and informationon the intensities of fluorescence at a plurality of angles of incidence or information on a fluorescence image, and determining the penetration depth of the evanescent field from the information on the angle of incidence, and means for acquiring information on the fluorescence intensities at the determined penetration depths.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】プローブ物質(1)が固定された基板(2)と,前記プローブ物質(1)を収容するとともに,蛍光物質(3)とターゲット物質(4)とを含む試料(5)を,前記プローブ物質(1)と接触するように収容できる試料室(6)と,光源(7)と,前記光源(7)からの光を,前記基板(2)に導き,エバネッセント場を発生させるための,光学系(8)と,前記エバネッセント場により励起された前記蛍光物質(3)が発する蛍光強度又は蛍光像を検出するための蛍光検出部(9)とを具備する,プローブ物質とターゲット物質との特異的な相互作用を検出するための蛍光読取装置において,前記光学系(8)は,前記光源(7)からの光が前記基板(2)へ入射する際の入射角を調整する入射角調整手段(10)と,前記入射角調整手段(10)が調整する入射角の量を制御する制御装置(11),を具備し,前記制御装置(11)は,前記入射角調整手段(10)が調整した入射角に関する情報と,複数の入射角における前記蛍光検出部(9)が検出した蛍光強度又は蛍光像に関する情報とが入力され,前記複数の入射角について,前記入射角に関する情報からエバネッセント場の侵入長を求める手段と,求められた複数の侵入長における前記蛍光強度に関する情報を求める手段と,を具備する,蛍光読取装置(12)。

【請求項2】前記光学系(8)は,前記光源(7)からの光が入射する光学素子(13)と,前記光学素子を経由した光が入射する対物レンズ(14)とを具備し,前記入射角調整手段(10)は,前記光学素子(13)を,前記対物レンズ(14)との相対的な位置が変化するように,移動させる光学素子移動手段を具備する,請求項1に記載の蛍光読取装置(12)。

【請求項3】前記基板(2)の位置を移動させるための基板移動手段(15)を具備する,請求項1に記載の蛍光読取装置(12)。

【請求項4】前記制御装置は,前記複数の侵入長についてのエバネッセント場の侵入長と蛍光強度との関係を用いて,一方の軸を蛍光強度,もう一方の軸をエバネッセント場の侵入長としたグラフを求める手段を具備する,請求項1に記載の蛍光読取装置(12)。

【請求項5】前記制御装置は,前記複数の侵入長についてのエバネッセント場の侵入長と蛍光強度との関係を用いて,一方の軸を蛍光強度,もう一方の軸をエバネッセント場の侵入長としたグラフを求める手段と,前記グラフ上の各点を用いて,エバネッセント場の侵入長が0の場合の仮想的な蛍光強度を求める手段と,前記エバネッセント場の侵入長が0の場合の仮想的な蛍光強度と,設定された閾値とを比較する手段と,前記比較結果を用いて,前記プローブ物質(1)と前記ターゲット物質(4)とが相互作用したかどうかを判断する手段と,を具備する,請求項1に記載の蛍光読取装置(12)。

【請求項6】前記制御装置は,経過時間を観測する手段を具備する,請求項1に記載の蛍光読取装置(12)。

【請求項7】前記基板(2)は,前記プローブ物質(1)が固定されたスポット(21)を有し,前記蛍光検出部(9)は,前記蛍光物質(3)が発する蛍光像を取得するものであり,前記制御装置(11)は,前記蛍光像を走査して,蛍光強度が変化する境界(21)を算出する手段と,前記境界の形状から,蛍光像のうちスポット内の領域(23)とスポット外の領域(24)を把握する手段と,前記スポット内の蛍光強度を求める手段と,を具備する,請求項1に記載の蛍光読取装置(12)。

【請求項8】前記プローブ物質(1)が固定された基板(2)は,試料室の下流域に位置するに従って,プローブ物質の濃度が大きくなる請求項1に記載の蛍光読取装置(12)。

【請求項9】ターゲット物質を蓄える試料庫と試料室とを接続する接続管が,試料室の最上流領域と接続されるのみならず,試料室の中流域にも1つ又は2つ以上接続される請求項1に記載の蛍光読取装置(12)。

【請求項10】複数の対物レンズを具備するとともに,前記複数の対物レンズに光を導入するための光学系を具備する請求項1に記載の蛍光読取装置(12)。

【請求項11】ターゲット物質を蓄える試料庫と,前記試料庫と複数の試料室とを接続する接続管とを有し,前記接続管は分岐部を有し,前記接続管の分岐部により分岐されるそれぞれの接続管の下流部は,前記複数の試料室にそれぞれ接続される請求項1に記載の蛍光読取装置(12)。

【請求項12】プローブ物質(1)が固定された基板(2)と,前記プローブ物質(1)を収容するとともに,蛍光物質(3)とターゲット物質(4)とを含む試料(5)を,前記プローブ物質(1)と接触するように収容できる試料室(6)と,光源(7)と,前記光源(7)からの光を,前記基板(2)に導き,エバネッセント場を発生させるための,光学系(8)と,前記エバネッセント場により励起された前記蛍光物質(3)が発する蛍光強度又は蛍光像を検出するための蛍光検出部(9)とを具備する,プローブ物質とターゲット物質との特異的な相互作用を検出するための蛍光読取装置を用いた蛍光読取方法において, 前記エバネッセント場の侵入長を変化させる工程と,前記エバネッセント場の侵入長を変化させた後に蛍光強度を求める工程とを繰り返し行い,複数のエバネッセント場の侵入長における蛍光強度を求めることを特徴とする蛍光読取方法。

【請求項13】前記エバネッセント場の侵入長を変化させる工程は,基板(2)へ入射する入射光の入射角を調整することにより,前記エバネッセント場の侵入長を変化させる請求項12に記載の蛍光読取方法。

【請求項14】前記複数の侵入長についてのエバネッセント場の侵入長と蛍光強度との関係を用いて,一方の軸を蛍光強度,もう一方の軸をエバネッセント場の侵入長としたグラフを求める請求項12に記載の蛍光読取方法。

【請求項15】前記基板(2)は,前記プローブ物質(1)が固定されたスポット(21)を有し,あるスポット(21)について前記複数の侵入長についてのエバネッセント場の侵入長と蛍光強度との関係を求めた後,所定時間後にそのスポット(21)について前記複数の侵入長についてのエバネッセント場の侵入長と蛍光強度との関係を求める請求項12に記載の蛍光読取方法。

【請求項16】プローブ物質(1)が固定された基板(2)と,前記プローブ物質(1)を収容するとともに,蛍光物質(3)とターゲット物質(4)とを含む試料(5)を,前記プローブ物質(1)と接触するように収容できる試料室(6)と,光源(7)と,前記光源(7)からの光を,前記基板(2)に導き,エバネッセント場を発生させるための,光学系(8)と,前記エバネッセント場により励起された前記蛍光物質(3)が発する蛍光強度又は蛍光像を検出するための蛍光検出部(9)とを具備する,プローブ物質とターゲット物質との特異的な相互作用を検出するための蛍光読取装置において,前記プローブ物質(1)が固定された基板(2)は,試料室の下流域に位置するに従って,プローブ物質の濃度が大きくなることを特徴とする蛍光読取装置(12)。

【請求項17】プローブ物質(1)が固定された基板(2)と,前記プローブ物質(1)を収容するとともに,蛍光物質(3)とターゲット物質(4)とを含む試料(5)を,前記プローブ物質(1)と接触するように収容できる試料室(6)と,光源(7)と,前記光源(7)からの光を,前記基板(2)に導き,エバネッセント場を発生させるための,光学系(8)と,前記エバネッセント場により励起された前記蛍光物質(3)が発する蛍光強度又は蛍光像を検出するための蛍光検出部(9)とを具備する,プローブ物質とターゲット物質との特異的な相互作用を検出するための蛍光読取装置において,前記ターゲット物質を蓄える試料庫と,前記試料庫と前記試料室とを接続する接続管をさらに具備し,前記接続管が,試料室の最上流領域と接続されるのみならず,試料室の中流域にも1つ又は2つ以上接続されることを特徴とする蛍光読取装置(12)。

【請求項18】プローブ物質(1)が固定された基板(2)と,前記プローブ物質(1)を収容するとともに,蛍光物質(3)とターゲット物質(4)とを含む試料(5)を,前記プローブ物質(1)と接触するように収容できる試料室(6)と,光源(7)と,前記光源(7)からの光を,前記基板(2)に導き,エバネッセント場を発生させるための,光学系(8)と,前記エバネッセント場により励起された前記蛍光物質(3)が発する蛍光強度又は蛍光像を検出するための蛍光検出部(9)とを具備する,プローブ物質とターゲット物質との特異的な相互作用を検出するための蛍光読取装置において,ターゲット物質を蓄える試料庫と,前記試料庫と複数の試料室とを接続する接続管とを有し,前記接続管は分岐部を有し,前記接続管の分岐部により分岐されるそれぞれの接続管の下流部は,前記複数の試料室にそれぞれ接続されることを特徴とする蛍光読取装置(12)。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY
  • NARA INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
  • Inventor
  • SUGIURA, Tadao
  • MORI, Masato
  • INAMOTO, Eiji
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH,BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM(UTILITY MODEL),DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH,GM,GT,HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME(PETTY PATENT),MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM,PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,SV(UTILITY MODEL),SY,TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN,ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MT,NL,PL,PT,RO,SE,SI,SK,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW,GH,GM,KE,LS,MW,MZ,NA,SD,SL,SZ,TZ,UG,ZM,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
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