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NONDESTRACTIVE TEST EQUIPMENT EMPLOYING SQUID MAGNETIC SENSOR

Foreign code F110002772
File No. S2008-0802-C0
Posted date Apr 14, 2011
Country WIPO
International application number 2009JP054125
International publication number WO 2009/110529
Date of international filing Mar 5, 2009
Date of international publication Sep 11, 2009
Priority data
  • P2008-054360 (Mar 5, 2008) JP
Title NONDESTRACTIVE TEST EQUIPMENT EMPLOYING SQUID MAGNETIC SENSOR
Abstract Provided is nondestructive test equipment employing an SQUID magnetic sensor and capable of detecting magnetic particles in an insulator or a magnetizable member of an electronic device destructively and exactly. The nondestructive test equipment employing an SQUID magnetic sensor comprises a magnet (4) for horizontal magnetization which applies a magnetix field to an article (3') under test in the longitudinal direction, a testing section (9) for setting an article (3) under test which is magnetized horizontally in the longitudinal direction by the magnet (4) for horizontal magnetization, conveyers (2, 5) for conveying the article (3) under test which is magnetized horizontally, and a gradiometer (8) for detecting particles which are magnetized horizontally along with a magnetizable member, i.e. the article (3) under test magnetized horizontally.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】(a)被検査物の長手方向に磁場を印加する水平帯磁用磁石と、
(b)該水平帯磁用磁石により長手方向に水平磁化された被検査物がセットされる検査部と、
(c)前記水平磁化された被検査物を搬送するベルトコンベアと、
(d)前記水平磁化された被検査物である磁化可能な部材とともに水平磁化されたパーティクルを検出するグラジオメータとを具備することを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項2】 請求項1記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記ベルトコンベアは、前記被検査物に磁場を印加する帯磁ステージとなる第1のベルトコンベアと、該第1のベルトコンベアとは別個に配置され、前記被検査物が検査される検査ステージとなる第2のベルトコンベアとを具備することを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項3】 請求項1記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記磁場の印加後に前記ベルトコンベアへ付着した異物の除去を行うためのクリーニング手段を配置することを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項4】 請求項1記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記磁化可能な部材が磁化されない部材中に配置されることを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項5】 請求項4記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記磁化されない部材が絶縁部材であることを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項6】 請求項5記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記絶縁部材がセラミックスであることを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項7】 請求項1記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記磁化可能な部材が活物質が塗布された導電箔であることを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項8】 請求項7記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記導電箔が銅箔又はアルミニウム箔であることを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項9】 請求項1記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記パーティクルは前記磁化可能な部材上または部材中に位置することを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項10】 請求項4記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記パーティクルが前記磁化されない部材中に位置することを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項11】 請求項1記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記パーティクルが磁性体であることを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項12】 請求項11記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記磁性体が鉄、ニッケル、若しくはコバルト、又は鉄、ニッケル、若しくはコバルトの何れかを含有する合金であることを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項13】 請求項1記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記水平帯磁用磁石が永久磁石であることを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項14】 請求項1記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記グラジオメータの位置は固定のまま、前記水平磁化された被検査物をX方向に移動させることにより1次元走査を行うことを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。

【請求項15】 請求項1記載のSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置において、前記被検査物の移動方向に直交する方向に複数個のグラジオメータを配置して、前記被検査物の幅方向の検査も同時に行うことを特徴とするSQUID磁気センサを用いる非破壊検査装置。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • National University Corporation TOYOHASHI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY
  • Inventor
  • TANAKA, Saburo
  • HATSUKADE, Yoshimi
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM(UTILITY MODEL),DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT(UTILITY MODEL),HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME,MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM(UTILITY MODEL),PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,ST,SV(UTILITY MODEL),SY,TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MK,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
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