Top > Search of International Patents > ADAPTIVE DIFFERENTIAL PULSE CODE MODULATION ENCODING APPARATUS AND DECODING APPARATUS

ADAPTIVE DIFFERENTIAL PULSE CODE MODULATION ENCODING APPARATUS AND DECODING APPARATUS achieved

Foreign code F110002852
File No. S2009-0230-C0
Posted date May 6, 2011
Country WIPO
International application number 2009JP071542
International publication number WO 2010/074200
Date of international filing Dec 25, 2009
Date of international publication Jul 1, 2010
Priority data
  • P2008-333060 (Dec 26, 2008) JP
Title ADAPTIVE DIFFERENTIAL PULSE CODE MODULATION ENCODING APPARATUS AND DECODING APPARATUS achieved
Abstract Provided are an ADPCM encoding apparatus and an ADPCM decoding apparatus wherein the compressibility can be enhanced and the degradation of sound quality can be prevented. Signals corresponding to the short-period and long-period changes of a sound signal are detected and an adaptive quantization characteristic is varied based on a combination of those two detected signals, thereby performing an appropriate quantization. In the ADPCM encoding apparatus (100), a subtracter (102) is used to calculate a differential value (dn) between a 16-bit input signal (Xn) and a decoded signal (Yn-1) of one sample before. Then, an adaptive quantizing unit (103) is used to adaptively quantize and convert the 16-bit differential value (dn) to length-variable ADPCM values (Dn) of one to eight bits. Then, a compression encoding unit (108) is used to compression encode the ADPCM values (Dn) to generate signals (D'n), which are then framed and outputted by use of a framing unit (130). In the ADPCM decoding apparatus, the framed input signals are decoded by performing the reverse of the foregoing processings.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】 サンプリングされたPCM信号を入力して、ADPCM信号を得るADPCM符号化装置であって、
 入力された前記PCM信号の所定時刻の信号値と、該信号値の1サンプル前の復号信号値との差分値を求める加算部と、
 前記PCM信号の短周期の変化を表す第1信号を検出する高周波計測部と、
 前記PCM信号の長周期の変化を表す第2信号を検出する低周波計測部と、
 前記第1信号及び前記第2信号に基づいて、前記差分値に対する適応量子化特性を変化させて、前記差分値をADPCM値に変換する適応量子化部と、
 前記ADPCM値を適応逆量子化して、前記復号信号値を得る適応逆量子化部と
 を備えるADPCM符号化装置。

【請求項2】 請求項1に記載のADPCM符号化装置において、
 前記適応量子化部は、前記第1信号及び前記第2信号に基づいて、前記適応量子化特性を変化させるための関数を選択し、該選択された関数を用いて前記差分値を量子化する
 ことを特徴とするADPCM符号化装置。

【請求項3】 請求項2に記載のADPCM符号化装置において、
 前記適応量子化部は、前記第1信号及び前記第2信号の組み合わせに基づいて、記適応量子化特性を変化させるための前記関数を選択する
 ことを特徴とするADPCM符号化装置。

【請求項4】 請求項2又は3に記載のADPCM符号化装置において、
 前記適応量子化部は、前記選択した関数により所定の演算が施された前記差分値を上書きする複数のレジスタからなる量子化部を有し、該複数のレジスタのうち、一部のレジスタが0値で固定されており、前記0値に固定されたレジスタに対応するビットを削除して前記差分値を量子化する
 ことを特徴とするADPCM符号化装置。

【請求項5】 請求項1~4のいずれかに記載のADPCM符号化装置において、
 前記高周波計測部は、直列接続された複数の遅延回路と、該複数の遅延回路のそれぞれの入力値及び出力値の差の絶対値を全て加算する第1演算器とを有し、
 前記低周波計測部は、前記直列接続された遅延回路と、前記複数の遅延回路のそれぞれの出力を全て加算し、該加算した値を前記遅延回路の個数で除算する第2演算器とを有し、
 前記直列接続された複数の遅延回路が、前記高周波計測部及び前記低周波計測部で共有されている
 ことを特徴とするADPCM符号化装置。

【請求項6】 請求項5に記載のADPCM符号化装置において、
 さらに、前記高周波計測部及び低周波計測部の出力側にそれぞれ接続され、前記第1信号及び前記第2信号の値をそれぞれ量子化する第1及び第2量子化部を備え、
 前記適応量子化部は、前記第1及び第2量子化部からそれぞれ出力される量子化された前記第1信号及び前記第2信号の値に基づいて、前記差分値に対する前記適応量子化特性を変化させる
 ことを特徴とするADPCM符号化装置。

【請求項7】 請求項1~6のいずれかに記載のADPCM符号化装置において、
 さらに、前記適応量子化部から出力される前記ADPCM信号を圧縮符号化する圧縮符号化部を備える
 ADPCM符号化装置。

【請求項8】 請求項1~7のいずれかに記載のADPCM符号化装置において、
 さらに、前記ADPCM信号又は前記圧縮符号化したADPCM信号をフレーム化するフレーム化部を備える
 ADPCM符号化装置。

【請求項9】 請求項8に記載のADPCM符号化装置において、
 前記フレーム化部は、一定期間分の前記ADPCM信号又は前記圧縮符号化したADPCM信号、及び、前記一定期間分における前記第1及び第2信号に対応する信号をフレーム化する
 ことを特徴とするADPCM符号化装置。

【請求項10】 ADPCM信号を入力して、PCM信号を得るADPCM復号化装置であって、
 入力される前記ADPCM信号を得る際に用いた適応量子化特性の変化を特定するための信号に基づいて、前記ADPCM信号の所定時刻の信号値に対する適応逆量子化特性を変化させて、前記信号値を差分値に変換する適応逆量子化部と、
 前記差分値と、1サンプル前の復号信号値とを加算して前記所定時刻の復号信号値を得る加算部と
 を備えるADPCM復号化装置。

【請求項11】 請求項10に記載したADPCM復号化装置であって、
 さらに、入力される前記ADPCM信号が圧縮符号化されたADPCM信号であり、該圧縮符号化されたADPCM信号を復号し、該復号したADPCM信号を前記適応逆量子化部に出力する圧縮復号化部を備える
 ADPCM復号化装置。

【請求項12】 請求項10又は11に記載のADPCM復号化装置であって、
 さらに、入力される前記ADPCM信号又は前記圧縮符号化したADPCM信号が、一定期間分の前記ADPCM信号又は前記圧縮符号化したADPCM信号、及び、前記一定期間分における前記適応量子化特性の変化を特定するための信号をフレーム化した信号であり、該フレーム化された信号をデフレーム化するデフレーム化部を備え、
 前記デフレーム化部は、前記一定期間分の前記ADPCM信号又は前記圧縮符号化したADPCM信号を読み出すとともに、前記一定期間分の前記適応量子化特性の変化を特定するための前記信号を読み出す
 ことを特徴とするADPCM復号化装置。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • Kyushu Institute of Technology
  • Inventor
  • SATO Yasushi
  • RYU Atsuko
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CL(UTILITY MODEL),CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM,DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT(UTILITY MODEL),HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME,MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM(UTILITY MODEL),PE(UTILITY MODEL),PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,ST,SV(UTILITY MODEL),SY,TH(PETTY PATENT),TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MK,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,SM,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
Please contact us by E-mail or facsimile if you have any interests on this patent.

PAGE TOP

close
close
close
close
close
close