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IONIZATION METHOD AND APPARATUS WITH PROBE, AND ANALYTICAL METHOD AND APPARATUS

Foreign code F110002907
File No. S2009-0032-C0
Posted date May 9, 2011
Country WIPO
International application number 2009JP068294
International publication number WO 2010/047399
Date of international filing Oct 19, 2009
Date of international publication Apr 29, 2010
Priority data
  • P2008-271954 (Oct 22, 2008) JP
Title IONIZATION METHOD AND APPARATUS WITH PROBE, AND ANALYTICAL METHOD AND APPARATUS
Abstract The tip of an electroconductive probe (11) is brought into contact with a sample under the atmospheric pressure to capture a sample (S). While feeding a solvent into the tip of the probe (11) that has captured the sample, high voltage is applied to the probe (11) for electro-spray to ionize molecules of the sample (S) located at the tip of the probe. In this case, a very small amount of fine solvent droplets are fed into the tip of the probe to realize mild electro-spray. According to the above constitution, the size of charged droplets is miniaturized, and consequently, all the components in the sample can be analyzed without selectivity for the components. Further, in imaging which requires a lot of time, even when the sample has been unfavorably dried, electro-spray can be performed.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】導電性探針の先端を試料に接触させて試料を捕捉し,
 試料を捕捉し,かつ試料から離れた上記探針の先端に溶媒を供給しながら,上記探針にエレクトロスプレーのための高電圧を印加して上記探針先端の試料の分子をイオン化する,
 イオン化方法。

【請求項2】試料を捕捉した上記探針の先端に高温の溶媒の蒸気を吹き付ける,請求の範囲第1項に記載のイオン化方法。

【請求項3】上記探針を試料の方向に近づけて上記探針を試料表面に接触させ,上記探針が試料表面に接触したところから上記探針を試料中の所定の深さまで侵入させる,請求の範囲第1項または第2項に記載のイオン化方法。

【請求項4】試料の捕捉に先だち,上記探針先端の表面を,所望の化合物を捕捉する分子で化学修飾する,
 請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか一項に記載のイオン化方法。

【請求項5】探針,
 試料を保持する試料ステージ,
 探針および試料ステージの少なくともいずれか一方を,これらが互いに接近離間する方向に移動させる変位装置,
 少なくとも探針の先端が試料ステージから離れた位置において探針に高電圧を印加する電源装置,ならびに
 少なくとも探針の先端が試料ステージから離れた位置において探針先端に溶媒を供給する溶媒供給装置,
 を備えたイオン化装置。

【請求項6】溶媒供給装置が溶媒の高温蒸気を探針先端に吹き付けるものである,請求の範囲第5項に記載のイオン化装置。

【請求項7】探針先端が試料ステージ上の試料の表面に接触したことを検出する接触検出装置をさらに備え,
 上記変位装置は,探針を相対的に試料ステージの方向に近づけ,探針先端が試料ステージ上の試料の表面に接触したことが上記接触検出装置によって検出されると,その検出された位置から探針を試料中の所定の深さまで侵入させるように変位させるものである,
 請求の範囲第5項または第6項に記載のイオン化装置。

【請求項8】先端に試料を捕捉した導電性探針の少なくとも先端部を真空中において冷却し,
 冷却した上記探針先端部に溶媒ガスを吹き付ける,
 請求の範囲第1項に記載のイオン化方法。

【請求項9】導電性探針の先端部の表面にマトリクスを塗布し,
 マトリクスが塗布された上記探針先端を試料に接触させて試料を捕捉し,
 試料を捕捉した上記探針の先端に上記マトリクスが吸収する波長のレーザ光を照射し,かつ上記探針にエレクトロスプレーのための高電圧を印加して,上記探針先端の試料の分子を離脱,イオン化する,
 イオン化方法。

【請求項10】試料から離れた位置にある上記探針の先端付近にレーザ光を照射して試料のイオン化を促進する,請求の範囲第1項ないし第4項および第8項のいずれか一項に記載のイオン化方法。

【請求項11】請求の範囲第1項ないし第4項および第8項ないし第10項のいずれか一項に記載のイオン化方法によりイオン化された分子を分析するイオン化分析方法。

【請求項12】請求の範囲第5項ないし第7項のいずれか一項に記載のイオン化装置と,イオン化された分子を分析する分析装置とを備えたイオン化分析装置。

【請求項13】探針の先端が試料に接触する下至点と探針の先端が試料から離れた上至点の間で往復動可能に探針を保持し,
 上至点付近にある探針の先端の近傍に,試料イオンを分析装置に導くイオン導入路の先端部が位置するように上記イオン導入路を配置し,
 探針を下至点に向けて動かして探針先端を試料に接触させて試料を捕捉し,
 探針と上記イオン導入路との間には常時エレクトロスプレーのための高電圧を印加しておいて,これによって
 探針が試料に接触している間は,この接触により探針と試料とが同電位に保たれ,
 その後,探針を上至点に向けて動かし,探針が試料から離れたときに探針と上記イオン導入路との間にエレクトロスプレーのための高電圧がかかって探針先端に捕捉した試料がイオン化される,
 イオン化方法。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • UNIVERSITY OF YAMANASHI
  • Inventor
  • HIRAOKA, Kenzo
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CL(UTILITY MODEL),CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM,DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT(UTILITY MODEL),HN,HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME,MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM(UTILITY MODEL),PE(UTILITY MODEL),PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,ST,SV(UTILITY MODEL),SY,TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MK,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,SM,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
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