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METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING HYDROGEN PEROXIDE

Foreign code F110002908
File No. S2009-0376-C0
Posted date May 9, 2011
Country WIPO
International application number 2010JP052392
International publication number WO 2010/093052
Date of international filing Feb 10, 2010
Date of international publication Aug 19, 2010
Priority data
  • P2009-032466 (Feb 16, 2009) JP
Title METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING HYDROGEN PEROXIDE
Abstract The presence of a hydrogen peroxide steam can be detected with high sensitivity. An oxygen molecule contained in air is ionized by means of an electron generated by discharge plasma to produce an oxygen molecule negative ion O2-. The oxygen molecule negative ion O2- thus produced is supplied to a space in which a hydrogen peroxide molecule H2O2 is to be detected. When a hydrogen peroxide molecule H2O2 is present, a cluster ion O2-(H2O2) between the oxygen molecule negative ion O2- and the hydrogen peroxide molecule H2O2 is generated. Therefore, the hydrogen peroxide molecule H2O2 can be detected by mass spectrometry of the cluster ion. Besides the oxygen molecule negative ion O2-, other gas phase negative ions such as a chloride ion Cl- may be used.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】気相負イオンを生成し,
 生成した気相負イオンを,過酸化水素分子H2O2とのクラスタリング反応空間に供給し,
 上記クラスタリング反応空間内のイオンを分析装置に導いて,上記気相負イオンと過酸化水素分子H2O2とのクラスタイオンの少なくとも存在の有無を検出し,それによって過酸化水素の少なくとも存在の有無を検出する,
 過酸化水素の検出方法。

【請求項2】上記気相負イオンが酸素分子負イオンO2 ?であり,分析装置において酸素分子負イオンO2 ?と過酸化水素分子H2O2とのクラスタイオンO2 ?(H2O2)を検出する,請求の範囲第1項に記載の過酸化水素の検出方法。

【請求項3】上記気相負イオンが塩化物イオンCl?であり,分析装置においてクラスタイオンCl?(H2O2)を検出する,請求の範囲第1項に記載の過酸化水素の検出方法。

【請求項4】電子を生成し,生成した電子により空気中の酸素分子をイオン化して酸素分子負イオンO2 ?を生成する,請求の範囲第2項に記載の検出方法。

【請求項5】大気圧下または減圧下での放電により電子を生成する,請求の範囲第4項に記載の検出方法。

【請求項6】気相負イオンを生成する手段,
 生成した気相負イオンを,過酸化水素分子H2O2とのクラスタリング反応空間に供給する手段,および
 上記クラスタリング反応空間内のイオンが導入され,気相負イオンと過酸化水素分子H2O2とのクラスタイオンの少なくとも存在の有無を検出し,それによって過酸化水素の少なくとも存在の有無を検出するための分析装置,
 を備えた過酸化水素の検出装置。

【請求項7】サンプルを上記クラスタリング反応空間に供給する手段をさらに備えた請求の範囲第6項に記載の検出装置。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • UNIVERSITY OF YAMANASHI
  • Inventor
  • HIRAOKA Kenzo
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW(UTILITY MODEL),BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CL(UTILITY MODEL),CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM,DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT(UTILITY MODEL),HN(UTILITY MODEL),HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME,MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM(UTILITY MODEL),PE(UTILITY MODEL),PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,ST,SV(UTILITY MODEL),SY,TH(PETTY PATENT),TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MK,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,SM,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
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