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CHAMBER FOR OPTICAL OBSERVATION, METHOD FOR OPTICALLY OBSERVING SAMPLE, AND METHOD FOR MANUFACTURING LOWER TRANSPARENT PLATE

Foreign code F110005438
File No. S2009-0942-C0
Posted date Sep 6, 2011
Country WIPO
International application number 2010JP060748
International publication number WO 2011/010525
Date of international filing Jun 24, 2010
Date of international publication Jan 27, 2011
Priority data
  • P2009-170605 (Jul 21, 2009) JP
Title CHAMBER FOR OPTICAL OBSERVATION, METHOD FOR OPTICALLY OBSERVING SAMPLE, AND METHOD FOR MANUFACTURING LOWER TRANSPARENT PLATE
Abstract Disclosed is a chamber for optical observation wherein a sample put therein is not only hard to evaporate but also hard to adsorb, and the motility of the sample and the like can be more accurately evaluated. Specifically disclosed is a chamber for optical observation, which is provided with a lower transparent plate for mounting a sample thereon, and an upper transparent plate for covering the upper side of the sample therewith, wherein the lower transparent plate is formed by a material having flexibility, and when the sample is mounted on the central portion of the lower transparent plate and covered with the upper transparent plate, the central portion of the lower transparent plate is dented by the weight thereof and the weight of the sample, and the peripheral edge portion of the lower transparent plate is brought into contact with the upper transparent plate in that state, thereby being able to seal the sample between the upper transparent plate and the lower transparent plate.
Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】 試料を載せるための下側透明板と、試料の上側に被せるための上側透明板とを備えた光学的観察用チャンバーであって、
 下側透明板が可撓性を有する素材によって形成され、下側透明板の中央部に試料を載せて上側透明板を試料に被せた際に、下側透明板の中央部が自重及び試料の重さによって窪み、その状態で下側透明板の周縁部が上側透明板に接触することにより、上側透明板と下側透明板とで試料を密封できるようにしたことを特徴とする光学的観察用チャンバー。

【請求項2】 下側透明板の下面における周縁部から下方に突出して脚部が設けられ、下側透明板に試料を載せた際に、下側透明板の自重及び試料の重量によって下側透明板の中央部が押し下げられるようにした請求項1記載の光学的観察用チャンバー。

【請求項3】 下側透明板が平面視略矩形状とされ、前記脚部が平面視略矩形状に設けられた請求項2記載の光学的観察用チャンバー。

【請求項4】 上側透明板が可撓性を有する素材によって形成された請求項1~3いずれか記載の光学的観察用チャンバー。

【請求項5】 上側透明板及び/又は下側透明板が、水接触角70°以上の素材によって形成された請求項1~4いずれか記載の光学的観察用チャンバー。

【請求項6】 上側透明板及び/又は下側透明板が、シリコーンエラストマーである請求項5記載の光学的観察用チャンバー。

【請求項7】 下側透明板と上側透明板とを備えた光学的観察用チャンバーに試料を挟んだ状態で該試料を光学的観察手段によって観察する試料の光学的観察方法であって、
 可撓性を有する素材によって形成した下側透明板の中央部に試料を載せて上側透明板を試料に被せて、下側透明板の中央部を自重及び試料の重さによって窪ませ、その状態で下側透明板の周縁部を上側透明板に接触させることにより、上側透明板と下側透明板とで試料を密封した状態で試料を観察することを特徴とする試料の光学的観察方法。

【請求項8】 試料を載せるための下側透明板と、試料の上側に被せるための上側透明板とを備えた光学的観察用チャンバーにおける下側透明板の製造方法であって、
 脚部形成用凹部が設けられた下側透明板成形用型枠に透明な熱硬化性樹脂を未硬化の状態で流し込んだ後、熱硬化性樹脂を下側透明板成形用型枠とともに加熱して硬化させることにより、脚部形成用凹部で下側透明板の下面における周縁部から下方に突出した脚部を形成することを特徴とする下側透明板の製造方法。

【請求項9】 下側透明板成形用型枠として、その脚部形成用凹部の底部に複数本の微細な溝が形成されたものを用いる請求項8記載の下側透明板の製造方法。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION OKAYAMA UNIVERSITY
  • Inventor
  • MATSUURA, Koji
  • FUNAHASHI, Hiroaki
IPC(International Patent Classification)
Specified countries AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA,BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW,BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CL(UTILITY MODEL),CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM,DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT(UTILITY MODEL),HN(UTILITY MODEL),HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME,MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM(UTILITY MODEL),PE(UTILITY MODEL),PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,ST,SV(UTILITY MODEL),SY,TH(PETTY PATENT),TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AL,AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MK,MT,NL,NO,PL,PT,RO,SE,SI,SK,SM,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LR(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)

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