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CONTACT STATE DETECTION DEVICE, CONTACT STATE DETECTION METHOD, COMPUTER PROGRAM FOR CONTACT STATE DETECTION, ELECTRICAL CONDUCTIVITY MEASUREMENT SYSTEM PROVIDED WITH CONTACT STATE DETECTION DEVICE, AND ELECTRICAL CONDUCTIVITY MEASUREMENT METHOD INVOLVING CONTACT STATE DETECTION METHOD

外国特許コード F120006631
整理番号 S2010-1001
掲載日 2012年5月17日
出願国 世界知的所有権機関（ＷＩＰＯ）
国際出願番号 2011JP065959
国際公開番号 WO 2012/008484
国際出願日 平成23年7月13日(2011.7.13)
国際公開日 平成24年1月19日(2012.1.19)
優先権データ
  • 特願2010-159971 (2010.7.14) JP
発明の名称 （英語） CONTACT STATE DETECTION DEVICE, CONTACT STATE DETECTION METHOD, COMPUTER PROGRAM FOR CONTACT STATE DETECTION, ELECTRICAL CONDUCTIVITY MEASUREMENT SYSTEM PROVIDED WITH CONTACT STATE DETECTION DEVICE, AND ELECTRICAL CONDUCTIVITY MEASUREMENT METHOD INVOLVING CONTACT STATE DETECTION METHOD
発明の概要（英語） Disclosed are a contact state detection device with a simple structure capable of accurately detecting, without damaging a contact body (such as a probe) or a contacted body, the pressing state of the contact body pressing on the contacted body; also disclosed is an electrical conductivity measurement system provided with the contact state detection device. The contact detection device suitable for an electrical conductivity measurement system (100) is provided with a contact body approach unit (123), a probe light source (131), an imaging element (135), and a computer device (140). The contact body approach unit (123) is displaced towards the contacted body (WK) while holding the contact body (110) oriented so as to intersect the contacted surface of the contacted body (WK). The probe light source (131) irradiates light towards the contact body (110) which is displaced towards the contacted body (WK). The imaging element (135) images the illuminated contact body (110) and outputs to the computer device (140) contact body captured image information. The computer device (140) detects the pressing state of the contact body (110) pressing on the contacted body (WK) on the basis of changes in the contact body captured image information.
  • 出願人（英語）
  • ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION SHIZUOKA UNIVERSITY
  • 発明者（英語）
  • Iwata Futoshi
  • Shiomi Toshio
  • Suzuki Koji
国際特許分類(IPC)
指定国 AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA(CONSENSUAL PATENT),BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW,BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CL(UTILITY MODEL),CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM,DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT(UTILITY MODEL),HN(UTILITY MODEL),HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,JP(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME,MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM(UTILITY MODEL),PE(UTILITY MODEL),PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,ST,SV(UTILITY MODEL),SY,TH(PETTY PATENT),TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AL,AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MK,MT,NL,NO,PL,PT,RO,RS,SE,SI,SK,SM,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LR(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)

日本語項目の表示

発明の名称 接触状態検出装置、接触状態検出方法、接触状態検出用コンピュータプログラム、接触状態検出装置を備える電気伝導度測定システムおよび接触状態検出方法を含む電気伝導度測定方法
発明の概要 プローブなどの接触体や被接触物を損傷することなく簡単な構成で精度良く接触体の被接触物への押圧状態を検出することができる接触状態検出装置および接触状態検出装置を備える電気伝導度測定システムを提供する。 電気伝導度測定システム１００に適用された接触検出装置は、接触体アプローチ部１２３、プローブ光源１３１、撮像素子１３５およびコンピュータ装置１４０を備えている。接触体アプローチ部１２３は、被接触物ＷＫにおける被接触面に交わる姿勢で接触体１１０を保持しつつ被接触物ＷＫに向って変位させる。プローブ光源１３１は、被接触物ＷＫに向って変位する接触体１１０に向って光を照射する。撮像素子１３５は、光が照射された接触体１１０を撮像して接触体撮像画像情報をコンピュータ装置１４０に出力する。コンピュータ装置１４０は、接触体撮像画像情報の変化に基づいて接触体１１０の被接触物ＷＫへの押圧状態を検出する。
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