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SIGNAL REPRODUCING APPARATUS

Foreign code F120006691
File No. S2010-0084
Posted date May 24, 2012
Country WIPO
International application number 2010JP071161
International publication number WO 2011065500
Date of international filing Nov 26, 2010
Date of international publication Jun 3, 2011
Priority data
  • P2009-271659 (Nov 30, 2009) JP
Title SIGNAL REPRODUCING APPARATUS
Abstract Provided is a signal reproducing apparatus capable of stably obtaining a good response characteristic even when the amplitude or offset of an input signal varies. The signal reproducing apparatus (1) comprises: a plurality of FETs (61-6N) the gate terminals of which receive a common input signal (VIN) and to the drain terminals of which a bias voltage (VDD) is applied; and an adder circuit (4) that is connected to the source terminals of the plurality of FETs (61-6N) and that combines and outputs the currents flowing between the respective drain and source terminals of the plurality of FETs (61-6N). The plurality of FETs (61-6N) are adapted such that when the bias voltage (VDD) having the same value is applied, the FETs (61-6N) will have different threshold voltages with respect to the applied voltages of the gate terminals of the FETs (61-6N).
Outline of related art and contending technology BACKGROUND ART
From the prior art, noise is added when performing the detection of micro-electrical signal, using a filter which removes frequency components including noise components and a method, an input signal to attenuate the noise averaging technique and the like have been adopted. In addition, in the following Patent Document 1 as described, power spectrum analysis and statistical analysis by repeating data processing such as, detection of a small signal due to noise has been proposed a technique of performing.
In addition, as described in the following Patent Document 2, the gate terminal of the plurality of FET is applied to the input signal, the drain - source current generated can be synthesized and output, the probability expression of the resonance phenomenon to improve the detection sensitivity is also contemplated that the device has been started.
Scope of claims (In Japanese)請求の範囲 [請求項1]
 共通の入力信号をゲート端子に受け、ドレイン端子にバイアス電圧が印加される複数の電界効果トランジスタと、
 前記複数の電界効果トランジスタのソース端子に接続されて、前記複数の電界効果トランジスタの前記ドレイン端子と前記ソース端子との間の電流を合成して出力する加算回路とを備え、
 前記複数の電界効果トランジスタは、同一値の前記バイアス電圧が印加された際に、前記入力信号に対して前記ドレイン端子と前記ソース端子との間に異なる電流を生成するように設定されている、
ことを特徴とする信号再生装置。

[請求項2]
 前記複数の電界効果トランジスタは、同一値の前記バイアス電圧が印加された際に前記ゲート端子の印加電圧に関して異なる閾値電圧を有するように設定されている、
ことを特徴とする請求項1記載の信号再生装置。

[請求項3]
 前記複数の電界効果トランジスタの閾値電圧の設定間隔が、前記入力信号の振幅の3倍よりも小さい、
ことを特徴とする請求項2記載の信号再生装置。

[請求項4]
 前記複数の電界効果トランジスタは、ゲート長に差を設けることにより、異なる閾値電圧を有するように設定されている、
ことを特徴とする請求項2又は3記載の信号再生装置。

[請求項5]
 前記複数の電界効果トランジスタは、チャネル幅に差を設けることにより、異なる閾値電圧を有するように設定されている、
ことを特徴とする請求項2~4のいずれか1項に記載の信号再生装置。

[請求項6]
 前記複数の電界効果トランジスタのそれぞれの前記ゲート端子に入力される前記入力信号に対して、互いに異なるオフセット電圧が付加可能に構成されている、
ことを特徴とする請求項1記載の信号再生装置。

  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • HOKKAIDO UNIVERSITY
  • Inventor
  • KASAI Seiya
IPC(International Patent Classification)
Specified countries National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IS JP KE KG KM KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LT LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PE PG PH PL PT RO RS RU SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG
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