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METHOD FOR ANALYZING STRUCTURE OF SUBSTANCE

外国特許コード	F120006727
整理番号	E100P01WO
掲載日	2012年5月28日
出願国	世界知的所有権機関（ＷＩＰＯ）
国際出願番号	2011JP070322
国際公開番号	WO 2012/033111
国際出願日	平成23年9月7日(2011.9.7)
国際公開日	平成24年3月15日(2012.3.15)
優先権データ	特願2010-199676 (2010.9.7) JP
発明の名称（英語）	METHOD FOR ANALYZING STRUCTURE OF SUBSTANCE
発明の概要（英語）	The purpose of the present invention is to provide a method for analyzing the structure of a substance using triple quadrupole mass spectrometry (TQ-MS), the method making it possible to acquire MSn information from data obtained through a TQ-MS examination. This method for analyzing the structure of a substance comprises: (a) subjecting the substance to be analyzed to an examination by TQ-MS while changing the value of CID energy; (b) determining, with respect to each of the values of CID energy, the percentage of the amount of precursor ions to the total ion amount and the percentage of the amount of product ions having a specific m/z value to the total ion amount; (c) extracting the values of the percentage of the amount of product ions having a specific m/z value to the total ion amount which correspond to the values of CID energy that give the values of the percentage of the amount of precursor ions to the total ion amount which were determined in the step (b); (d) determining, with respect to each of all combinations, the sum of the values of the percentage of the amount of product ions having a specific m/z value to the total ion amount which were extracted in the step (c); and (e) selecting the functions that each can be approximated to a straight line from among functions where the value of the percentage of the amount of precursor ions to the total ion amount is expressed by x and the value of the sum determined above with respect to each combination is expressed by y, and analyzing the structure of the substance on the basis of the values of m/z of product ions which give the selected functions.
出願人（英語） ※2012年7月以前掲載分については米国以外のすべての指定国	JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY
発明者（英語）	KANIE Osamu
国際特許分類(IPC)	G01N 27/62 ガスのイオン化の調査によるもの；放電の調査によるもの，例．陰極の放射
指定国	AE(UTILITY MODEL),AG,AL(UTILITY MODEL),AM(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),AO(UTILITY MODEL),AT(UTILITY MODEL),AU,AZ(UTILITY MODEL),BA(CONSENSUAL PATENT),BB,BG(UTILITY MODEL),BH(UTILITY MODEL),BR(UTILITY MODEL),BW,BY(UTILITY MODEL),BZ(UTILITY MODEL),CA,CH,CL(UTILITY MODEL),CN(UTILITY MODEL),CO(UTILITY MODEL),CR(UTILITY MODEL),CU(INVENTOR'S CERTIFICATE),CZ(UTILITY MODEL),DE(UTILITY MODEL),DK(UTILITY MODEL),DM,DO(UTILITY MODEL),DZ,EC(UTILITY MODEL),EE(UTILITY MODEL),EG(UTILITY MODEL),ES(UTILITY MODEL),FI(UTILITY MODEL),GB,GD,GE(UTILITY MODEL),GH(UTILITY CERTIFICATE),GM,GT(UTILITY MODEL),HN(UTILITY MODEL),HR(CONSENSUAL PATENT),HU(UTILITY MODEL),ID,IL,IN,IS,KE(UTILITY MODEL),KG(UTILITY MODEL),KM,KN,KP(INVENTOR'S CERTIFICATE)(UTILITY MODEL),KR(UTILITY MODEL),KZ(PROVISIONAL PATENT)(UTILITY MODEL),LA,LC,LK,LR,LS(UTILITY MODEL),LT,LU,LY,MA,MD(UTILITY MODEL),ME,MG,MK,MN,MW,MX(UTILITY MODEL),MY(UTILITY-INNOVATION),MZ(UTILITY MODEL),NA,NG,NI(UTILITY MODEL),NO,NZ,OM(UTILITY MODEL),PE(UTILITY MODEL),PG,PH(UTILITY MODEL),PL(UTILITY MODEL),PT(UTILITY MODEL),QA,RO,RS(PETTY PATENT),RU(UTILITY MODEL),RW(UTILITY MODEL),SC,SD,SE,SG,SK(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SM,ST,SV(UTILITY MODEL),SY,TH(PETTY PATENT),TJ(UTILITY MODEL),TM(PROVISIONAL PATENT),TN,TR(UTILITY MODEL),TT(UTILITY CERTIFICATE),TZ,UA(UTILITY MODEL),UG(UTILITY CERTIFICATE),US,UZ(UTILITY MODEL),VC(UTILITY CERTIFICATE),VN(PATENT FOR UTILITY SOLUTION),ZA,ZM,ZW,EP(AL,AT,BE,BG,CH,CY,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,FR,GB,GR,HR,HU,IE,IS,IT,LT,LU,LV,MC,MK,MT,NL,NO,PL,PT,RO,RS,SE,SI,SK,SM,TR),OA(BF(UTILITY MODEL),BJ(UTILITY MODEL),CF(UTILITY MODEL),CG(UTILITY MODEL),CI(UTILITY MODEL),CM(UTILITY MODEL),GA(UTILITY MODEL),GN(UTILITY MODEL),GQ(UTILITY MODEL),GW(UTILITY MODEL),ML(UTILITY MODEL),MR(UTILITY MODEL),NE(UTILITY MODEL),SN(UTILITY MODEL),TD(UTILITY MODEL),TG(UTILITY MODEL)),AP(BW(UTILITY MODEL),GH(UTILITY MODEL),GM(UTILITY MODEL),KE(UTILITY MODEL),LR(UTILITY MODEL),LS(UTILITY MODEL),MW(UTILITY MODEL),MZ(UTILITY MODEL),NA(UTILITY MODEL),SD(UTILITY MODEL),SL(UTILITY MODEL),SZ(UTILITY MODEL),TZ(UTILITY MODEL),UG(UTILITY MODEL),ZM(UTILITY MODEL),ZW(UTILITY MODEL)),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM)
参考情報（研究プロジェクト等）	ERATO ITO Glycotrilogy AREA

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発明の名称	物質の構造解析方法
発明の概要	本発明の目的は、三連四重極質量分析法（TQ-MS）を用いた物質の構造解析方法であって、TQ-MS測定により得られたデータからＭＳn情報の取得を可能とする方法を提供することにある。本発明によれば、（ａ）目的物質について、ＣＩＤエネルギーの値を変化させてＴＱ－ＭＳ測定を行い、（ｂ）各ＣＩＤエネルギーの値において、プレカーサーイオン量の総イオン量に対する百分率と、特定のｍ／ｚのプロダクトイオン量の総イオン量に対する百分率とを求め、（ｃ）工程（ｂ）において求めたプレカーサーイオン量の総イオン量に対する百分率の各値を与えるＣＩＤエネルギーの各値における、前記特定のｍ／ｚのプロダクトイオン量の総イオン量に対する百分率の各値を抽出し、（ｄ）工程（ｃ）において抽出した前記特定のｍ／ｚのプロダクトイオン量の総イオン量に対する百分率の各値について、全ての組合せの和を求め、（ｅ）プレカーサーイオン量の総イオン量に対する百分率の値をｘとし、かつ前記求めた各組合せの和の値をｙとする関数のうち直線近似できるものを選択し、選択した各関数を与えるプロダクトイオンのｍ／ｚ値から目的物質の構造を解析することを含む、物質の構造解析方法が提供される。

発明の名称

物質の構造解析方法

発明の概要

本発明の目的は、三連四重極質量分析法（TQ-MS）を用いた物質の構造解析方法であって、TQ-MS測定により得られたデータからＭＳn情報の取得を可能とする方法を提供することにある。本発明によれば、（ａ）目的物質について、ＣＩＤエネルギーの値を変化させてＴＱ－ＭＳ測定を行い、（ｂ）各ＣＩＤエネルギーの値において、プレカーサーイオン量の総イオン量に対する百分率と、特定のｍ／ｚのプロダクトイオン量の総イオン量に対する百分率とを求め、（ｃ）工程（ｂ）において求めたプレカーサーイオン量の総イオン量に対する百分率の各値を与えるＣＩＤエネルギーの各値における、前記特定のｍ／ｚのプロダクトイオン量の総イオン量に対する百分率の各値を抽出し、（ｄ）工程（ｃ）において抽出した前記特定のｍ／ｚのプロダクトイオン量の総イオン量に対する百分率の各値について、全ての組合せの和を求め、（ｅ）プレカーサーイオン量の総イオン量に対する百分率の値をｘとし、かつ前記求めた各組合せの和の値をｙとする関数のうち直線近似できるものを選択し、選択した各関数を与えるプロダクトイオンのｍ／ｚ値から目的物質の構造を解析することを含む、物質の構造解析方法が提供される。

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