COMPOUND MICROSCOPE DEVICE
| 外国特許コード | F120006959 |
|---|---|
| 整理番号 | S2010-0686 |
| 掲載日 | 2012年10月26日 |
| 出願国 | 世界知的所有権機関（ＷＩＰＯ） |
| 国際出願番号 | 2011JP058684 |
| 国際公開番号 | WO 2011/126041 |
| 国際出願日 | 平成23年4月6日(2011.4.6) |
| 国際公開日 | 平成23年10月13日(2011.10.13) |
| 優先権データ |
|
| 発明の名称 （英語） | COMPOUND MICROSCOPE DEVICE |
| 発明の概要（英語） |
Disclosed is a compound microscope device (1) which is provided with a transmissive electron microscope (2), and an optical microscope (4). On the electron optical axis (C) of an electron beam, a sample (10) and a reflecting mirror (41) are disposed, and the reflecting mirror is tilted from the electron optical axis toward an optical objective lens (43) and the sample. Light, such as fluorescent light, reflected light and the like, which is generated from the sample, is inputted to the optical objective lens by being reflected by the reflecting mirror, and is detected by an optical detecting section (46). The electron beam that has passed through the sample passes through the installation center hole (42) of the reflecting mirror, and is detected by a detecting section (30). Thus, the compound microscope device, whereby the same sample can be observed at the same time by means of the transmissive electron microscope and the optical microscope, is provided. |
|
|
|
|
| 国際特許分類(IPC) |
|
日本語項目の表示
| 発明の名称 | 複合顕微鏡装置 |
|---|---|
| 発明の概要 | 本発明の複合顕微鏡装置（１）は、透過型の電子顕微鏡（２）と、光学顕微鏡（４）とを備える。電子線の電子光軸（Ｃ）上には試料（１０）と反射鏡（４１）とが配置され、前記反射鏡は光学対物レンズ（４３）と試料に向かって前記電子光軸から傾斜している。試料から発生する蛍光光、反射光等の光は、反射鏡で反射されて光学対物レンズに入射し、光学検出部（４６）で検出される。試料を透過した電子線は反射鏡の設置中心孔（４２）を通過して、検出部（３０）で検出される。 これにより、透過電子顕微鏡と光学顕微鏡で同一試料を同時に観察可能な複合顕微鏡装置を提供することが可能になった。 |
『 COMPOUND MICROSCOPE DEVICE 』に関するお問合せ
- 大学共同利用機関法人 自然科学研究機構 岡崎統合事務センター 総務部 国際研究協力課 産学連携係
- URL: https://www.nins.jp/
-
E-mail:
- Address: 〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中３８番地
- TEL: 0564-55-7136
- FAX: 0564-55-7119
※ 同じキーワードでJ-STORE内を検索することが出来ます。→ J-STORE内を検索
