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METHOD AND APPARATUS FOR ASSESSMENT OF DEPTH OF ANESTHESIA, AND USE meetings

Foreign code F150008412
File No. S2013-0861-C0
Posted date Oct 5, 2015
Country WIPO
International application number 2014JP065545
International publication number WO 2014208343
Date of international filing Jun 12, 2014
Date of international publication Dec 31, 2014
Priority data
  • P2013-133871 (Jun 26, 2013) JP
  • P2013-199987 (Sep 26, 2013) JP
Title METHOD AND APPARATUS FOR ASSESSMENT OF DEPTH OF ANESTHESIA, AND USE meetings
Abstract The present invention provides a method for assessment of the depth of anesthesia, the method including a step in which the major-axis-direction sharpness of a Poincare plot distribution is quantified and a step in which randomness contained in the electroencephalogram is evaluated on the basis of the sharpness to assess the depth of anesthesia.
Scope of claims (In Japanese)[請求項1]
ポワンカレプロット分布の長軸方向への先鋭度を定量化する工程、前記先鋭度に基づき脳波に含まれる乱雑性を評価して麻酔深度を判定する工程を含む、麻酔深度測定法。
[請求項2]
以下の工程を含む、麻酔深度測定法
(1)脳波計により全身麻酔患者の脳波を測定する工程
(2)前記脳波をフィルタリング処理とアナログ/デジタル変換して、脳波時系列信号を出力する工程(但し、アナログ/デジタル変換及びフィルタリング処理の順序は問わない)
(3)前記脳波時系列信号と前記脳波時系列信号の遅延時系列信号を、ある時間での脳波電圧Axと前記ある時間から所定時間の遅延後の脳波電圧Ayのペア(Ax, Ay)でxy平面上にプロットする工程、
(4)前記xy平面上にプロットされた前記脳波電圧Ayの前記ペア(Ax, Ay)を2つの直交する軸からの変位で定量化し、前記2つの直交する軸に対する前記ペア(Ax, Ay)のそれぞれの変位L1、変位L2に基づいて、前記ペア(Ax, Ay)の前記2つの直交する軸に対する距離に関係づけられた量であるちらばり度V1、ちらばり度V2をそれぞれ求めるちらばり度算出工程、
(5)前記ちらばり度V1と前記ちらばり度V2との比に基づき、麻酔深度を判定する工程。
[請求項3]
前記直交する軸は、前記xy平面上のそれぞれ長軸(式y=xで表される軸)と短軸(式y=xで表される軸に直交する軸)とである、請求項2に記載の麻酔深度測定法。
[請求項4]
前記変位L1を前記短軸方向の変位とし、前記変位L2を前記長軸方向の変位とし、前記ちらばり度算出工程は、前記変位L1と前記変位L2を以下の式に従い算出するL1・L2算出工程を含み、L1とL2の比(L1/L2もしくはL2/L1)に基づいて麻酔深度を判定する、請求項2又は3に記載の麻酔深度測定法
[数1]
[請求項5]
前記変位L1を前記短軸方向の変位とし、前記変位L2を前記長軸方向の変位とし、前記ちらばり度算出工程は、前記変位L1と前記変位L2を以下の式に従い算出するL1・L2算出工程と
[数2]
前記変位L1の標準偏差SD1と前記変位L2の標準偏差SD2とを求めるSD1・SD2算出工程とを含み、
前記ちらばり度V1、前記ちらばり度V2は、それぞれ前記SD1または前記SD2であり、
SD1/SD2またはSD2/SD1に基づいて、麻酔深度を判定する、請求項2又は3に記載の麻酔深度測定法。
[請求項6]
前記SD1/SD2または前記SD2/SD1と他の麻酔深度の解析手段を組み合わせて前記麻酔深度を判定する、請求項5に記載の麻酔深度測定法。
[請求項7]
前記他の麻酔深度の解析手段が、前記脳波の周波数解析、バイスペクトラル解析、スペクトラル解析、エントロピー解析、聴覚誘発電位による解析手段、又はこれらの解析手段の2種以上の組み合わせである、請求項6に記載の麻酔深度測定法。
[請求項8]
全身麻酔患者の脳波を測定する脳波計と、
前記脳波のアナログ/デジタル(A/D)変換手段と、
A/D変換後、またはA/D変換前の脳波をフィルタリング処理するフィルタリング手段と、
前記脳波をフィルタリング処理して得られる脳波時系列信号と前記脳波時系列信号の遅延時系列信号を、ある時間での脳波電圧Axと前記ある時間から所定時間の遅延後の脳波電圧Ayのペア(Ax, Ay)でxy平面上にプロットし、
前記xy平面上にプロットされた前記脳波電圧Ayの前記ペア(Ax, Ay)を2つの直交する軸からの変位で定量化し、
前記2つの直交する軸に対する前記ペア(Ax, Ay)のそれぞれの変位V1、変位V2に基づいて、前記ペア(Ax, Ay)の前記2つの直交する軸に対する距離に関係づけられた量であるちらばり度V1、ちらばり度V2をそれぞれ求めてちらばり度を算出する演算手段と、
前記ちらばり度V1と前記ちらばり度V2との比に基づき、麻酔深度を判定する麻酔深度判定手段と、
前記判定結果を表示する表示手段と、
を備えた麻酔深度測定装置。
[請求項9]
前記直交する軸は、前記xy平面上のそれぞれ長軸(式y=xで表される軸)と短軸(式y=xで表される軸に直交する軸)とであって、
前記変位L1を前記短軸方向の変位とし、前記変位L2を前記長軸方向の変位とし、
前記変位L1と前記変位L2を以下の式に従い算出し、
[数3]
前記変位L1の標準偏差SD1と前記変位L2の標準偏差SD2とを求め、
前記ちらばり度V1、前記ちらばり度V2は、それぞれ前記SD1または前記SD2であり、
SD1/SD2またはSD2/SD1に基づいて、麻酔深度を判定する麻酔深度判定手段と、
を備えた請求項8に記載の麻酔深度測定装置。
[請求項10]
前記麻酔深度判定手段が、前記SD1/SD2または前記SD2/SD1と他の麻酔深度の解析手段を組み合わせて前記麻酔深度を判定する手段である、請求項9に記載の麻酔深度測定装置。
[請求項11]
前記他の麻酔深度の解析手段が、前記脳波の周波数解析、バイスペクトラル解析、スペクトラル解析、エントロピー解析、聴覚誘発電位による解析手段、又はこれらの解析手段の2種以上の組み合わせである、請求項10に記載の麻酔深度測定装置。
[請求項12]
ちらばり度V1と前記ちらばり度V2との比の麻酔深度判定のための使用であって、脳波計により全身麻酔患者の脳波を測定し、
前記脳波をアナログ/デジタル変換後フィルタリング処理して脳波時系列信号を出力し、
前記脳波時系列信号と前記脳波時系列信号の遅延時系列信号を、ある時間での脳波電圧Axと前記ある時間から所定時間の遅延後の脳波電圧Ayのペア(Ax, Ay)でxy平面上にプロットし、
前記xy平面上にプロットされた前記脳波電圧Ayの前記ペア(Ax, Ay)を2つの直交する軸からの変位で定量化し、
前記2つの直交する軸に対応する前記ペア(Ax, Ay)のそれぞれの変位L1、変位L2に基づいて、前記ペア(Ax, Ay)の前記2つの直交する軸に対する距離に関係づけられた量であるちらばり度V1、ちらばり度V2をそれぞれ求めてちらばり度V1と前記ちらばり度V2との比を算出することを含む、使用。
[請求項13]
前記直交する軸は、前記xy平面上のそれぞれ長軸(式y=xで表される軸)と短軸(式y=xで表される軸に直交する軸とであって、
前記変位L1を前記短軸方向の変位とし、前記変位L2を前記長軸方向の変位とし、
前記変位L1と前記変位L2を以下の式に従い算出し、
[数4]
前記変位L1の標準偏差SD1と前記変位L2の標準偏差SD2とを求め、
前記ちらばり度V1、前記ちらばり度V2は、それぞれ前記SD1または前記SD2である、
SD1/SD2またはSD2/SD1の麻酔深度判定のための請求項12に記載の使用。
[請求項14]
前記SD1/SD2または前記SD2/SD1を、脳波の周波数解析、バイスペクトラル解析、スペクトラル解析、エントロピー解析、聴覚誘発電位による解析手段からなる群から選ばれる少なくとも1種と組み合わせて麻酔深度の判定を行う、請求項13に記載の使用。
[請求項15]
前記SD1/SD2または前記SD2/SD1を麻酔深度の測定のためのアルゴリズムと組み合わせて麻酔深度の判定を行う、請求項13に記載の使用。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • KYOTO PREFECTURAL PUBLIC UNIVERSITY CORPORATION
  • Inventor
  • HAYASHI KAZUKO
  • SAWA TEIJI
IPC(International Patent Classification)
Specified countries National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BN BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IR IS JP KE KG KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LT LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PA PE PG PH PL PT QA RO RS RU RW SA SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA RW SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW KM ML MR NE SN TD TG
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