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SCAN BIST LFSR SEED GENERATION METHOD AND MEMORY MEDIUM FOR STORING PROGRAM FOR SAME

Foreign code F150008430
File No. S2013-1178-C0
Posted date Oct 9, 2015
Country WIPO
International application number 2014JP069103
International publication number WO 2015008843
Date of international filing Jul 17, 2014
Date of international publication Jan 22, 2015
Priority data
  • P2013-148663 (Jul 17, 2013) JP
  • P2013-148812 (Jul 17, 2013) JP
  • P2014-146027 (Jul 16, 2014) JP
Title SCAN BIST LFSR SEED GENERATION METHOD AND MEMORY MEDIUM FOR STORING PROGRAM FOR SAME
Abstract Provided is a scan BIST LFSR seed generation method that is provided with procedures for forming a scan BIST seed generation model and for generating an LFSR seed by performing target fault test generation on the formed seed model. The seed generation model is provided with an XOR network configured by subjecting the scan BIST LFSR to time development for the length of a scan pass in a scan FF of a circuit to be inspected, and with a combinational circuit portion for the circuits to be inspected. The XOR network output is connected to the combinational circuit portion.
Scope of claims (In Japanese)[請求項1]
スキャンBISTのシード生成モデルを形成し、
前記形成したシード生成モデルに対して対象故障のテスト生成を行ってLFSRのシードを生成する、各手順を備え、
前記シード生成モデルは、前記スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分とを備え、前記組合せ回路部分に前記XORネットワーク出力が接続された構成を有する、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項2]
請求項1に記載の方法において、前記シード生成モデルは、前記XORネットワークと前記被検査回路の組合せ回路部分との間にフェーズシフタグループが接続されている、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項3]
請求項1に記載の方法において、前記シード生成モデルは、前記XORネットワークと前記被検査回路の組合せ回路部分との間にランダム反転回路グループが接続されている、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項4]
請求項3に記載の方法において、前記ランダム反転回路グループのそれぞれのランダム反転回路は、前記XORネットワークと前記被検査回路の組合せ回路部分との間に挿入された反転論理回路と、第2のXORネットワークと、第2のXORネットワークの出力を用いて前記反転論回路の動作を制御するための反転制御回路とを備える、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項5]
請求項1乃至4の何れか1項に記載の方法において、前記対象故障はスタティック故障である、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項6]
請求項1に記載の方法において、前記シード生成モデルは更に、前記XORネットワーク出力と前記スキャンFF出力とを時間的に切り替えて前記組合せ回路部分に入力するためのマルチプレクサと、前記マルチプレクサの切り替えのタイミングを制御するタイミング生成器とを備える、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項7]
請求項6に記載の方法において、前記シード生成モデルは更に、前記XORネットワーク出力に接続されたフェーズシフタグループを備え、前記フェーズシフタグループの出力が前記被検査回路の組合せ回路部分および前記マルチプレクサに入力される、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項8]
請求項6に記載の方法において、前記シード生成モデルは更に、前記XORネットワーク出力に接続されたランダム反転回路グループを備え、前記ランダム反転回路グループの出力が前記被検査回路の組合せ回路部分および前記マルチプレクサに入力される、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項9]
請求項8に記載の方法において、前記ランダム反転回路グループのそれぞれのランダム反転回路は、前記XORネットワークと前記被検査回路の組合せ回路部分との間に挿入された反転論理回路と、第2のXORネットワークと、第2のXORネットワークの出力を用いて前記反転論理回路の動作を制御するための反転制御回路とを備える、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項10]
請求項1に記載の方法において、前記シード生成モデルは更に、前記組合せ回路部分の複製である第2の組合せ回路部分を有し、当該第2の組合せ回路部分の入力には前記XORネットワークの出力と前記組合せ回路部分の出力とが接続される、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項11]
請求項1に記載の方法において、前記シード生成モデルは更に、前記LFSRを前記スキャンパス長+1スキャンシフト分時間展開して構成した第2のXORネットワークと、前記XORネットワーク出力と前記第2のXORネットワーク出力とを時間的に切り替えて前記組合せ回路部分に入力するためのマルチプレクサと、前記マルチプレクサの切り替えのタイミングを制御するタイミング生成器とを備える、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項12]
請求項6乃至11の何れか1項に記載の方法において、前記対象故障は遅延故障である、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項13]
請求項1乃至12の何れか1項に記載の方法において、前記対象故障のテスト生成は自動テストパターン生成ツールを用いて行われる、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[請求項14]
スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開してXORネットワークを形成し、当該XORネットワークを前記被検査回路の組合せ回路部分に接続することによってシード生成モデルを形成する手順と、
前記シード生成モデルに対して対象故障のテスト生成を行って前記LFSRのシードを生成する手順と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶する、記憶媒体。
[請求項15]
スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記XORネットワーク出力と前記スキャンFF出力とを時間的に切り替えて前記被検査回路の組合せ回路部分に印加するマルチプレクサと、前記マルチプレクサの切換えタイミングを制御するタイミング生成器と、によってシード生成モデルを形成する手順と、
前記シード生成モデルに対して対象故障のテスト生成を行って、前記LFSRのシードを形成する手順と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶する、記憶媒体。
[請求項16]
スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分と、前記LFSRを前記スキャンパス長+1スキャンシフト分時間展開して構成した第2の組合せ回路部分とを備え、前記XORネットワーク出力を前記組合せ回路部分の入力に接続し、前記XORネットワーク出力と前記組合せ回路部分出力とを前記第2の組合せ回路部分の入力に接続してシード生成モデルを形成する手順と、
前記シード生成モデルに対して対象故障のテスト生成を行って、前記LFSRのシードを形成する手順と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶する、記憶媒体。
[請求項17]
スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分と、前記LFSRを前記スキャンパス長+1スキャンシフト分時間展開して構成した第2のXORネットワークと、前記XORネットワークまたは前記第2のXORネットワーク出力を時間的に切り替えて前記組合せ回路部分に印加するマルチプレクサと、前記マルチプレクサの切換えタイミングを制御するタイミング生成器とによって、シード生成モデルを形成する手順と、
前記シード生成モデルに対して対象故障のテスト生成を行って、前記LFSRのシードを形成する手順と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶する、記憶媒体。
補正された請求の範囲(条約第19条)
[
2014年12月15日
(
15.12.2014
) 国際事務局受理 ]

[1]
スキャンBISTのシード生成モデルを形成し、
前記形成したシード生成モデルに対して対象故障のテスト生成を行ってLFSRのシードを生成する、各手順を備え、
前記シード生成モデルは、前記スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分とを備え、前記組合せ回路部分に前記XORネットワーク出力が接続された構成を有する、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[2]
請求項1に記載の方法において、前記シード生成モデルは、前記XORネットワークと前記被検査回路の組合せ回路部分との間にフェーズシフタグループが接続されている、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[3]
請求項1に記載の方法において、前記シード生成モデルは、前記XORネットワークと前記被検査回路の組合せ回路部分との間にランダム反転回路グループが接続されている、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[4]
請求項3に記載の方法において、前記ランダム反転回路グループのそれぞれのランダム反転回路は、前記XORネットワークと前記被検査回路の組合せ回路部分との間に挿入された反転論理回路と、第2のXORネットワークと、第2のXORネットワークの出力を用いて前記反転論回路の動作を制御するための反転制御回路とを備える、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[5]
請求項1乃至4の何れか1項に記載の方法において、前記対象故障はスタティック故障である、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[6]
請求項1に記載の方法において、前記シード生成モデルは更に、前記XORネットワーク出力と前記スキャンFF出力とを時間的に切り替えて前記組合せ回路部分に入力するためのマルチプレクサと、前記マルチプレクサの切り替えのタイミングを制御するタイミング生成器とを備える、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[7]
請求項6に記載の方法において、前記シード生成モデルは更に、前記XORネットワーク出力に接続されたフェーズシフタグループを備え、前記フェーズシフタグループの出力が前記被検査回路の組合せ回路部分および前記マルチプレクサに入力される、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[8]
請求項6に記載の方法において、前記シード生成モデルは更に、前記XORネットワーク出力に接続されたランダム反転回路グループを備え、前記ランダム反転回路グループの出力が前記被検査回路の組合せ回路部分および前記マルチプレクサに入力される、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[9]
請求項8に記載の方法において、前記ランダム反転回路グループのそれぞれのランダム反転回路は、前記XORネットワークと前記被検査回路の組合せ回路部分との間に挿入された反転論理回路と、第2のXORネットワークと、第2のXORネットワークの出力を用いて前記反転論理回路の動作を制御するための反転制御回路とを備える、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[10]
請求項1に記載の方法において、前記シード生成モデルは更に、前記組合せ回路部分の複製である第2の組合せ回路部分を有し、当該第2の組合せ回路部分の入力には前記XORネットワークの出力と前記組合せ回路部分の出力とが接続される、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[11]
請求項1に記載の方法において、前記シード生成モデルは更に、前記LFSRを前記スキャンパス長+1スキャンシフト分時間展開して構成した第2のXORネットワークと、前記XORネットワーク出力と前記第2のXORネットワーク出力とを時間的に切り替えて前記組合せ回路部分に入力するためのマルチプレクサと、前記マルチプレクサの切り替えのタイミングを制御するタイミング生成器とを備える、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[12]
請求項6乃至11の何れか1項に記載の方法において、前記対象故障は遅延故障である、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[13]
請求項1乃至12の何れか1項に記載の方法において、前記対象故障のテスト生成は自動テストパターン生成ツールを用いて行われる、スキャンBISTのLFSRシード生成方法。
[14]
スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開してXORネットワークを形成し、当該XORネットワークを前記被検査回路の組合せ回路部分に接続することによってシード生成モデルを形成する手順と、
前記シード生成モデルに対して対象故障のテスト生成を行って前記LFSRのシードを生成する手順と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶する、記憶媒体。
[15]
スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記XORネットワーク出力と前記スキャンFF出力とを時間的に切り替えて前記被検査回路の組合せ回路部分に印加するマルチプレクサと、前記マルチプレクサの切換えタイミングを制御するタイミング生成器と、によってシード生成モデルを形成する手順と、
前記シード生成モデルに対して対象故障のテスト生成を行って、前記LFSRのシードを形成する手順と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶する、記憶媒体。
[16]
[補正後] スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分と、前記組合せ回路部分を複製した第2の組合せ回路部分とを備え、前記XORネットワーク出力を前記組合せ回路部分の入力に接続し、前記XORネットワーク出力と前記組合せ回路部分出力とを前記第2の組合せ回路部分の入力に接続してシード生成モデルを形成する手順と、
前記シード生成モデルに対して対象故障のテスト生成を行って、前記LFSRのシードを形成する手順と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶する、記憶媒体。
[17]
スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分と、前記LFSRを前記スキャンパス長+1スキャンシフト分時間展開して構成した第2のXORネットワークと、前記XORネットワークまたは前記第2のXORネットワーク出力を時間的に切り替えて前記組合せ回路部分に印加するマルチプレクサと、前記マルチプレクサの切換えタイミングを制御するタイミング生成器とによって、シード生成モデルを形成する手順と、
前記シード生成モデルに対して対象故障のテスト生成を行って、前記LFSRのシードを形成する手順と、をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶する、記憶媒体。
条約第19条(1)に基づく説明書
1.補正の内容
(1)請求項16を補正した。
2.説明
請求項16における、「スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分と、前記LFSRを前記スキャンパス長+1スキャンシフト分時間展開して構成した第2の組合せ回路部分とを備え、・・・」を、『スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分と、前記組合せ回路部分を複製した第2の組合せ回路部分とを備え、・・・』に補正した。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION OITA UNIVERSITY
  • Inventor
  • OHTAKE SATOSHI
  • HONDA TARO
  • MORIYASU TAKANORI
IPC(International Patent Classification)

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