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POLARIZATION ANALYZER meetings

Foreign code F160008675
File No. (S2014-0960-N0)
Posted date Feb 5, 2016
Country WIPO
International application number 2015JP063282
International publication number WO 2015174332
Date of international filing May 8, 2015
Date of international publication Nov 19, 2015
Priority data
  • P2014-102446 (May 16, 2014) JP
Title POLARIZATION ANALYZER meetings
Abstract In the present invention, an excitation light source (10) irradiates excitation light (4) onto a sample (2) to be measured. An image sensor (20) includes a plurality of pixels (22) arranged in one or two dimensions and receives measurement light emitted from the sample (2) in response to the excitation light (4). A polarization selection element (30) is inserted between the sample (2) and the image sensor (20) and includes a plurality of pixels (32) arranged in one or two dimensions. Each pixel (32) is configured so as to receive a corresponding portion of the measurement light (6), select measurement light having a polarization direction corresponding to a drive signal (S1) applied to the pixel (32), and supply the selected measurement light to the image sensor (20). A measurement control unit (40) applies a periodic drive signal (S1) having a first period (T1) to each pixel (32) of the polarization selection element (30), divides the first period (T1) into four exposure times (T2 = T1 / 4), and acquires data (I1, I2, I3, I4) obtained from each pixel (22) of the image sensor (20) at each exposure time.
Scope of claims (In Japanese)[請求項1]
測定対象の試料に励起光を照射する励起光源と、
前記励起光に応答して前記試料から発せられる測定光を受ける1次元または2次元に配列された複数の画素を含むイメージセンサと、
前記試料と前記イメージセンサの間に挿入され、1次元または2次元に配列された複数の画素を含み、各画素は、前記測定光の対応する部分を受け、当該画素に印加される駆動信号に応じた偏光方向を有する前記測定光を選択し、前記イメージセンサに供給するように構成された偏光選択素子と、
前記偏光選択素子の各画素に、第1周期T1を有する周期的な前記駆動信号を与えるとともに、前記第1周期T1を複数N個(Nは整数)の露光時間T2=T1/Nに区分したときに露光時間T2_1~T2_Nそれぞれにおいて前記イメージセンサの各画素から得られるデータI1~INを取得する測定制御部と、
を備えることを特徴とする偏光分析装置。
[請求項2]
前記N=4であり、データI1~I4が取得されることを特徴とする請求項1に記載の偏光分析装置。
[請求項3]
前記測定制御部は、各画素ごとに、
√{(I1-I32+(I2-I42}/(I1+I2+I3+I4
を演算することにより、偏光度Pを測定することを特徴とする請求項2に記載の偏光分析装置。
[請求項4]
前記測定制御部は、前記第1周期T1を複数M個(M≧3,M≠N)の露光時間T3=T1/Mに区分し、露光時間T3_1~T3_Mそれぞれにおいて前記イメージセンサの各画素から得られる中間データIm1~ImMを取得し、前記中間データIm1~ImMを前記データI1~INに変換することを特徴とすることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の偏光分析装置。
[請求項5]
前記偏光選択素子は、
液晶パネルと、
偏光板と、
を含むことを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の偏光分析装置。
[請求項6]
前記駆動信号は、正弦波、矩形波、のこぎり波、台形波のいずれかであることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の偏光分析装置。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • TOKYO INSTITUTE OF TECHNOLOGY
  • NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION HOKKAIDO UNIVERSITY
  • Inventor
  • HIBARA AKIHIDE
  • TOKESHI MANABU
  • WAKAO OSAMU
IPC(International Patent Classification)
Specified countries National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BN BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IR IS JP KE KG KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PA PE PG PH PL PT QA RO RS RU RW SA SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA RW SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW KM ML MR NE SN TD TG
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