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DEVICE FOR MEASURING MATERIAL BY USING GHOST IMAGING

Foreign code F160008741
File No. (S2014-1216-N0)
Posted date May 23, 2016
Country WIPO
International application number 2015JP073097
International publication number WO 2016027797
Date of international filing Aug 18, 2015
Date of international publication Feb 25, 2016
Priority data
  • P2014-166515 (Aug 19, 2014) JP
Title DEVICE FOR MEASURING MATERIAL BY USING GHOST IMAGING
Abstract [Problem] To provide a device for measuring a material by using ghost imaging which is capable of measuring the optical properties of a material two-dimensionally. [Solution] A device for measuring a material is provided with: a light irradiation means 10; a detection means 20 for detecting light transmitted through a subject to be measured M or light reflected by the subject to be measured M; and a calculation means 30 for estimating the properties of the subject to be measured M on the basis of information on the light detected by the detection means 20 and information on irradiation light SL irradiated on the subject to be measured M. The light irradiation means 10 is provided with: a light source 11; and a polarization adjusting part 12 for periodically modulating the polarized state of light emitted by the light source 11 to form the irradiation light SL. The light source 11 has a function for emitting a plurality of pattern lights having different intensity distributions. The calculation means 30 is provided with a function for forming a ghost image of the subject to be measured M on the basis of information pertaining to the intensity distributions of the pattern lights and a timing when the pattern lights are emitted, and information pertaining to the intensity of the light detected by the detection means.
Scope of claims (In Japanese)[請求項1]
空間的に強度分布を有する照射光を前記被測定対象物に照射する光照射手段と、
前記被測定対象物を透過した光または前記被測定対象物で反射した光を検出する検出手段と、
該検出手段が検出した光の情報と前記被測定対象物に照射された照射光の情報に基づいて、前記被測定対象物の性質を推定する演算手段と、と備えており、
前記光照射手段は、
空間的に強度分布を有する光を放出する光源と、
該光源が放出した光の偏光状態を周期的に変調して前記照射光を形成する偏光調整部と、を備えており、
前記光源は、
異なる強度分布を有する複数のパターン光を放出し得る機能を有しており、
前記演算手段は、
前記パターン光の強度分布および該パターン光が放出されるタイミングに関する情報と、前記検出手段が検出した光の強度に関する情報と、に基づいて前記被測定対象物各部の偏光パラメータを算出し、該偏光パラメータに基づいて前記被測定対象物のゴーストイメージを形成する機能を備えている
ことを特徴とするゴーストイメージングを利用した物質測定装置。
[請求項2]
前記光源は、
前記照射光の偏光が変調する周期よりも一のパターン光が放出される期間が長くなるように、前記複数のパターン光を切り換えて放出するように制御されている
ことを特徴とする請求項1記載のゴーストイメージングを利用した物質測定装置。
[請求項3]
前記光源が放出する複数のパターン光が、循環パターンである
ことを特徴とする請求項1または2記載のゴーストイメージングを利用した物質測定装置。
[請求項4]
前記偏光調整部は、
前記光源から放出された光を直線偏光に変換する偏光子と、
該偏光子によって直線偏光に変換された偏光光を前記照射光に変調する変調部と、を備えており、
前記検出手段は、
前記被測定対象物を透過した光または前記被測定対象物で反射した光を直線偏光に変換する検出子を備えている
ことを特徴とする請求項1、2または3記載のゴーストイメージングを利用した物質測定装置。
[請求項5]
前記変調部が、光弾性変調器である
ことを特徴とする請求項4記載のゴーストイメージングを利用した物質測定装置。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • TOKUSHIMA UNIVERSITY
  • Inventor
  • MIZUTANI YASUHIRO
IPC(International Patent Classification)
Specified countries National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BN BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IR IS JP KE KG KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PA PE PG PH PL PT QA RO RS RU RW SA SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA RW SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW KM ML MR NE SN ST TD TG
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