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STRESS VISUALIZATION DEVICE, AND MECHANICAL PROPERTY VALUE VISUALIZATION DEVICE meetings

Foreign code F160008743
File No. (S2014-1413-N0)
Posted date May 23, 2016
Country WIPO
International application number 2015JP073457
International publication number WO 2016027874
Date of international filing Aug 21, 2015
Date of international publication Feb 25, 2016
Priority data
  • P2014-168802 (Aug 21, 2014) JP
Title STRESS VISUALIZATION DEVICE, AND MECHANICAL PROPERTY VALUE VISUALIZATION DEVICE meetings
Abstract A control computation unit 114 changes the state of polarization by using an optical modulator 110, thereby shifting the phase of polarized waves illuminating an object W to be measured, and on the basis of phase differences among interference signals obtained during each phase shift of the of polarized waves, computes a spatial gradient of a phase difference stratigraphic distribution of the interference signals, and produces a visualized display on a display device 116, in which the stratigraphic distribution of the spatial gradient is associated with a stratigraphic distribution of stress. On the basis of the light interference signals, the control computation unit 114 computes a deformation rate vector distribution at a stratigraphic position of the object to be measured, and further computes a strain rate tensor stratigraphic distribution. A mechanical property value stratigraphic distribution is then computed on the basis of the stress stratigraphic distribution and the strain rate tensor stratigraphic distribution, and a visualized display is produced.
Scope of claims (In Japanese)[請求項1]
測定対象に作用又は内在する応力の分布を断層可視化する応力可視化装置であって、
低コヒーレンス光又は波長走査した光を出射する光源と、
前記光源から出射された光を直線偏光する偏光子と、
直線偏光された光を前記測定対象を経由するオブジェクトアームと、参照鏡を経由するリファレンスアームとに分けるビームスプリッタと、
前記オブジェクトアームに設けられ、前記直線偏光された光の偏光状態を変化させることが可能な光学変調器と、
前記測定対象にて反射した物体光と前記参照鏡にて反射した参照光とが重畳された干渉光を、その水平偏光成分と垂直偏光成分とに分けて検出する光検出装置と、
前記光学変調器を制御することにより前記偏光状態を調整する一方、前記測定対象の奥行き方向の位置とその直交方向の位置とにより特定される断層位置における応力分布を、前記光検出装置が検出した干渉信号の水平偏光成分と垂直偏光成分との位相差に基づいて演算する制御演算部と、
前記制御演算部の演算結果に基づいて、前記測定対象における応力分布を断層可視化する態様で表示する表示装置と、
を備え、
前記制御演算部は、前記光学変調器による偏光状態を変化させることにより前記測定対象に照射する偏光波の位相をシフトさせ、その偏光波の位相シフトごとに得られる干渉信号の位相差に基づき、その干渉信号の位相差断層分布の空間勾配を演算し、その空間勾配の断層分布を応力の断層分布と対応づけるようにして前記表示装置に可視化表示させることを特徴とする応力可視化装置。
[請求項2]
前記制御演算部は、
前記測定対象となりうる部材の材質ごとに、前記干渉信号として得られるべき位相差の空間勾配と応力値との対応関係が予め定められた演算マップを保持し、
前記干渉信号の位相差断層分布の空間勾配を演算した後、その演算結果に基づいて前記演算マップを参照することにより応力を算出し、その算出結果としての応力分布を断層可視化することを特徴とする請求項1に記載の応力可視化装置。
[請求項3]
前記測定対象に外的負荷をかけることなく、その測定対象に内在する残留応力を可視化表示することを特徴とする請求項1または2に記載の応力可視化装置。
[請求項4]
高分子基材料を前記測定対象とすることを特徴とする請求項1~3のいずれかに記載の応力可視化装置。
[請求項5]
測定対象の力学物性値の断層分布を可視化する力学物性値可視化装置であって、
光コヒーレンストモグラフィーを用いる光学系を含む光学ユニットと、
前記測定対象を変形させるための変形エネルギーを付与可能な負荷装置と、
前記光学ユニットおよび前記負荷装置の駆動を制御し、それらの駆動に基づいて前記光学ユニットから出力された光干渉信号を処理し、所定の演算処理を行う制御演算部と、
前記制御演算部の演算結果を表示可能な表示装置と、
を備え、
前記制御演算部は、
前記光学ユニットの駆動に伴って得られた光干渉信号に基づいて、前記測定対象に作用又は内在する応力の断層分布を演算し、
前記光学ユニットおよび前記負荷装置の駆動に伴って得られた光干渉信号に基づいて、前記変形エネルギーによる前記測定対象の断層位置での変形速度ベクトル分布又は変形ベクトル分布を演算し、その変形速度ベクトル分布又は変形ベクトル分布に基づいてひずみ速度テンソル又はひずみテンソルの断層分布を演算し、
前記応力の断層分布の演算結果と、前記ひずみ速度テンソル又はひずみテンソルの断層分布の演算結果とに基づいて、前記力学物性値の断層分布を演算し、前記表示装置に可視化表示させることを特徴とする力学物性値可視化装置。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • OSAKA CITY UNIVERSITY
  • Inventor
  • SAEKI SOUICHI
IPC(International Patent Classification)
Specified countries National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BN BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IR IS JP KE KG KN KP KR KZ LA LC LK LR LS LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PA PE PG PH PL PT QA RO RS RU RW SA SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA RW SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW KM ML MR NE SN ST TD TG

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