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MORBID STATE DIAGNOSIS SUPPORT SYSTEM, MORBID STATE DIAGNOSIS DATA-GENERATING SYSTEM, AND MORBID STATE DIAGNOSIS SUPPORT METHOD

Foreign code F180009392
File No. (S2016-0928-N0)
Posted date Apr 20, 2018
Country WIPO
International application number 2017JP026690
International publication number WO 2018021240
Date of international filing Jul 24, 2017
Date of international publication Feb 1, 2018
Priority data
  • P2016-145435 (Jul 25, 2016) JP
Title MORBID STATE DIAGNOSIS SUPPORT SYSTEM, MORBID STATE DIAGNOSIS DATA-GENERATING SYSTEM, AND MORBID STATE DIAGNOSIS SUPPORT METHOD
Abstract Provided are a morbid state diagnosis support system, a morbid state diagnosis data-generating system, and a morbid state diagnosis support method which are capable of supporting a highly reliable morbid state diagnosis. A morbid state diagnosis support system comprises: a stretching device 10 for stretching a cell tissue piece P; an image capture device 30 for obtaining image data by capturing an image of the tissue piece P; an image analysis device 40 for analyzing the image data and calculating a morbid-state index based on the pattern of cracks produced in the tissue piece P due to stretching; and an output device 50 for outputting the calculated index.
Outline of related art and contending technology BACKGROUND ART
As a method for diagnosing a disease state of the tested person, the person who makes a diagnosis of the cells obtained from tissue sections were observed with an optical microscope, in the form of a micro-level cells based on the diagnosis and the standard techniques. However, the tissue sections were observed with a microscope even in the case, for example tissue sections included in the malignant or benign tumor to determine whether the case is often difficult. Therefore, the diagnosis of a disease condition of the diagnosis support system and pathological diagnosis support method has been demanded.
Patent Document 1 is, by the X-ray imaging apparatus configured as described in the diagnosis support apparatus. The diagnosis supporting apparatus, the image captured by the X-ray imaging apparatus 2 with respect to the two-dimensional discrete wavelet transform processing on the calculated frequency coefficients, for each frequency band of the frequency coefficient from the average value of the objective measure of the tumor is calculated and displayed.
Scope of claims (In Japanese)[請求項1]
細胞の組織切片を伸展する伸展装置と、
前記組織切片を撮影することで画像データを取得する撮影装置と、
前記画像データを解析することで、前記伸展により前記組織切片に生じたひび割れの態様に基づく病態の指標を算出する画像解析装置と、
算出された前記指標を出力する出力装置とを備える
ことを特徴とする病態診断支援システム。
[請求項2]
前記伸展装置は、前記組織切片が設けられた伸縮シートを挟み、当該伸縮シートを引っ張ることで前記組織切片を伸展する
ことを特徴とする請求項1に記載の病態診断支援システム。
[請求項3]
前記伸縮シートは、ポリウレタンゲルにより形成されている
ことを特徴とする請求項2に記載の病態診断支援システム。
[請求項4]
前記画像解析装置は、前記組織切片に含まれる細胞の面積と、当該組織切片に生じているひび割れ部分の面積とを算出し、前記細胞の面積と前記ひび割れ部分の面積とに基づいて、前記指標を算出する
ことを特徴とする請求項1~3のいずれか一項に記載の病態診断支援システム。
[請求項5]
前記画像解析装置は、前記組織切片に生じているひび割れ部分の面積と、当該ひび割れ部分の長さとを算出し、前記ひび割れ部分の面積と長さとに基づいて、前記指標を算出する
ことを特徴とする請求項1~4のいずれか一項に記載の病態診断支援システム。
[請求項6]
前記画像解析装置は、前記撮影装置で撮影した画像の少なくとも一部を空間周波数領域に変換し、当該空間周波集領域への変換結果として得られる周波数分布に基づいて、前記指標を算出する
ことを特徴とする請求項1~5のいずれか一項に記載の病態診断支援システム。
[請求項7]
前記画像解析装置は、前記撮影装置で撮影した画像上のひび割れの形状に基づいて、当該ひび割れの幾何学的形状の特徴を表す空間相関係数を算出し、前記空間相関係数に基づいて、前記指標を算出する
ことを特徴とする請求項1~6のいずれか一項に記載の病態診断支援システム。
[請求項8]
病態の診断を支援するための解析用データを生成する病態診断データ生成システムにおいて、
細胞の組織切片を伸展する伸展装置と、
前記組織切片を撮影することで前記解析用データとしての画像データを取得する撮影装置とを備える
ことを特徴とする病態診断データ生成システム。
[請求項9]
細胞の組織切片を伸展する組織切片伸展工程と、
前記組織切片の画像データを撮影装置で取得する画像データ取得工程と、
前記画像データを画像解析装置に解析させることで、前記伸展により前記組織切片に生じたひび割れの態様に基づく病態の指標を算出する指標算出工程と、
前記指標を出力装置で出力する指標出力工程とを備える
ことを特徴とする病態診断支援方法。
[請求項10]
伸縮シート上に前記組織切片を設けてプレパラートを作成するプレパラート作成工程をさらに備え、
前記組織切片伸展工程において、前記伸縮シートを引っ張ることで前記組織切片を伸展する
ことを特徴とする請求項9に記載の病態診断支援方法。
[請求項11]
前記プレパラート作成工程において、前記組織切片を染色する
ことを特徴とする請求項10に記載の病態診断支援方法。
[請求項12]
前記プレパラート作成工程において、前記伸縮シートとしてポリウレタンゲルシートを使用する
ことを特徴とする請求項10または11に記載の病態診断支援方法。
  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • THE DOSHISHA
  • Inventor
  • YOSHIKAWA Kenichi
  • IKEGAWA Masaya
  • KENMOTSU Takahiro
  • KAKUDA Nobuto
  • NAKAMURA Takuto
  • DANNO Keisuke
  • OKOSO Natsumi
  • NAKAMURA Naohiko
  • IGUCHI Kohta
  • HATANO Etsuro
  • UEMOTO Shinji
IPC(International Patent Classification)
Specified countries National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BN BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DJ DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IR IS JO JP KE KG KH KN KP KR KW KZ LA LC LK LR LS LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PA PE PG PH PL PT QA RO RS RU RW SA SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA RW SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW KM ML MR NE SN ST TD TG

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