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ELECTROSPRAY IONIZATION DEVICE, MASS ANALYSIS APPARATUS, ELECTROSPRAY IONIZATION METHOD, AND MASS ANALYSIS METHOD

Foreign code F190009763
File No. (S2017-0731-N0)
Posted date May 7, 2019
Country WIPO
International application number 2018JP018263
International publication number WO 2018207903
Date of international filing May 11, 2018
Date of international publication Nov 15, 2018
Priority data
  • P2017-095719 (May 12, 2017) JP
Title ELECTROSPRAY IONIZATION DEVICE, MASS ANALYSIS APPARATUS, ELECTROSPRAY IONIZATION METHOD, AND MASS ANALYSIS METHOD
Abstract The present invention provides an electrospray ionization device comprising a probe member for contacting and thereby capturing a sample, and a voltage application member configured to apply a voltage to the probe member. The probe member is provided with a continuous supply mechanism or an intermittent supply mechanism for supplying a liquid solvent to the sample. Alternatively, the electrospray ionization device further comprises a solvent supply member provided with a continuous supply mechanism or an intermittent supply mechanism for supplying a liquid solvent to the sample.
Outline of related art and contending technology BACKGROUND ART
In recent years, in the field of organic chemistry or biochemistry, and attempt to analyze a sample of molecules in the ionizing, that detects the mass of the ions by mass spectrometry (MS) is widely used. In mass spectrometry, sample molecules with one or a plurality of ions having 1 charges the ions can be detected, further, the association of the molecules in the sample, or derived from the dissociated ions can be detected and the like, the wealth of information can be obtained. Therefore, identification of the substance and the unknown substance known as a means for determining the structure and is very useful, a better mass spectrometry studies, which have been actively developed.
For example, in Patent Document 1, the tip end of the metal probe to capture the sample, by applying a voltage to the metal probe, the probe generated by the electrospray (PESI) and electrospray ionization mass spectrometer using the PESI (PESI-MS) have been reported. According to Patent Document 1, the PESI, without pretreatment such as a living tissue of the sample object can be achieved, the metal probe and the sample under atmospheric pressure, the sample can be ionized are disclosed.
In Patent Document 2, high temperature vapor is sprayed in a probe with a solvent, are ionized from the ion component easy to difficult to sequentially ionize the component, the analysis of the entire component contained in the sample to the PESI-MS have been reported.
Scope of claims (In Japanese)請求の範囲 [請求項1]
 エレクトロスプレーイオン化装置であって、
 接触することにより試料を捕捉する探針部材と、
 前記探針部材に電圧を印加するように構成された電圧印加部材とを有し、
 前記探針部材が前記試料への液状溶媒の連続供給機構又は液状溶媒の断続供給機構を備えるか、又は前記エレクトロスプレーイオン化装置が前記試料への液状溶媒の連続供給機構又は液状溶媒の断続供給機構を備える溶媒供給部材をさらに有する、
 エレクトロスプレーイオン化装置。

[請求項2]
 前記探針部材が、探針及び溶媒ローディングチップを含み、
 前記探針が、前記溶媒ローディングチップの下端から突き出しており、
 前記溶媒ローディングチップの内側に液状の溶媒を貯蔵するように構成された、
 請求項1に記載のエレクトロスプレーイオン化装置。

[請求項3]
 前記探針が、前記溶媒ローディングチップの下端から0mm以上0.2mm以下の範囲で突き出している、請求項2に記載のエレクトロスプレーイオン化装置。

[請求項4]
 前記探針部材が探針を含み、
 前記溶媒供給部材が溶媒貯蔵部及び作動部を含み、
 前記作動部は、前記探針を前記溶媒貯蔵部が貯蔵する液状の溶媒に接触させて前記試料に前記溶媒を供給するように構成された、
 請求項1に記載のエレクトロスプレーイオン化装置。

[請求項5]
 前記探針部材が、探針及び前記探針を覆う絶縁体を含み、
 前記絶縁体が、表面で液状の溶媒を保持し、前記試料の一部がイオン化した際に、前記溶媒を供給するように構成された、
 請求項1に記載のエレクトロスプレーイオン化装置。

[請求項6]
 前記探針部材を前記探針部材の長手方向に反復移動させる反復移動手段をさらに含む、請求項1~請求項5のいずれか1つに記載のエレクトロスプレーイオン化装置。

[請求項7]
 マニピュレータをさらに含む、請求項1~請求項6のいずれか1つに記載のエレクトロスプレーイオン化装置。

[請求項8]
 請求項1~請求項7のいずれか1つに記載のエレクトロスプレーイオン化装置と、
 前記エレクトロスプレーイオン化装置によってイオン化されたイオンを分離する分析装置と、
 前記分析装置で分離されたイオンを検出するイオン検出装置と、
 を備える、質量分析機器。

[請求項9]
 探針部材が試料を捕捉する捕捉工程と、
 前記探針部材に電圧を印加して前記試料をイオン化するイオン化工程と、
 前記試料に連続的又は断続的に液状の溶媒を供給する溶媒供給工程と、
 を有するエレクトロスプレーイオン化の方法。

[請求項10]
 前記探針部材が、探針及び溶媒ローディングチップを含み、
 前記探針が、前記溶媒ローディングチップの下端から突き出しており、
 前記溶媒ローディングチップに液状の溶媒を充填する溶媒充填工程を有し、
 前記溶媒供給工程で、前記探針部材を前記試料に接触させ、前記溶媒ローディングチップの内側から前記液状の溶媒を供給する
 請求項9に記載のエレクトロスプレーイオン化の方法。

[請求項11]
 前記探針部材が探針を含み、
 前記溶媒供給工程で、前記探針を液状の溶媒に接触させて前記試料に液状の溶媒を供給する、
 請求項9に記載のエレクトロスプレーイオン化の方法。

[請求項12]
 前記探針部材が、探針及び前記探針を覆う絶縁体を含み、
 前記捕捉工程において、前記探針部材が、前記試料に0mmより大きく2mm以下の深さで接触して前記試料を捕捉し、
 前記イオン化工程において前記試料の一部がイオン化すると共に、前記溶媒供給工程において、前記絶縁体の表面で保持されている液状の溶媒を前記試料に供給する、
 請求項9に記載のエレクトロスプレーイオン化の方法。

[請求項13]
 前記溶媒供給工程で、前記探針部材を前記探針部材の長手方向に反復移動させる、請求項9~請求項13のいずれか1つに記載のエレクトロスプレーイオン化の方法。

[請求項14]
 前記捕捉工程で、前記探針部材が、前記試料を全方位から採取することができる、請求項9~請求項13のいずれか1つに記載のエレクトロスプレーイオン化の方法。

[請求項15]
 請求項9~請求項14のいずれか1つに記載のエレクトロスプレーイオン化の方法と、
 前記イオン化の方法によってイオン化されたイオンを分離する分析工程と、
 前記分析工程で分離されたイオンを検出するイオン検出工程と、
 を有する、質量分析方法。

  • Applicant
  • ※All designated countries except for US in the data before July 2012
  • UNIVERSITY OF YAMANASHI
  • Inventor
  • HIRAOKA, Kenzo
IPC(International Patent Classification)
Specified countries National States: AE AG AL AM AO AT AU AZ BA BB BG BH BN BR BW BY BZ CA CH CL CN CO CR CU CZ DE DJ DK DM DO DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM GT HN HR HU ID IL IN IR IS JO JP KE KG KH KN KP KR KW KZ LA LC LK LR LS LU LY MA MD ME MG MK MN MW MX MY MZ NA NG NI NO NZ OM PA PE PG PH PL PT QA RO RS RU RW SA SC SD SE SG SK SL SM ST SV SY TH TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN ZA ZM ZW
ARIPO: BW GH GM KE LR LS MW MZ NA RW SD SL SZ TZ UG ZM ZW
EAPO: AM AZ BY KG KZ RU TJ TM
EPO: AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR
OAPI: BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW KM ML MR NE SN ST TD TG
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