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放射線照射時における標的臓器と線量分布の同時測定システム

Patent code P06P004495
File No. T14
Posted date 2006年6月30日
Application number 特願2004-354816
Publication number 特開2006-158678
Patent number 特許第4288351号
Date of filing 平成16年12月8日(2004.12.8)
Date of publication of application 平成18年6月22日(2006.6.22)
Date of registration 平成21年4月10日(2009.4.10)
Inventor
  • 照沼 利之
Applicant
  • 国立大学法人 筑波大学
Title 放射線照射時における標的臓器と線量分布の同時測定システム
Abstract
【課題】 本発明は、がんの放射線治療の精度向上のために、体内の臓器位置及び形状の情報と、陽子線による線量分布情報とを、リアルタイムに表示することが可能な放射線治療時における標的臓器と線量分布の同時測定方法及びその測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は、超音波検出器により超音波の送受信を行う臓器情報検出手段と、前記超音波検出器の送信を停止し、放射線照射により発生した音響波を同超音波検出器で受信する線量分布情報検出手段と、前記臓器情報検出手段及び線量分布情報検出手段で検出した情報をコンピュータに保存する記録手段と、記録した情報をコンピュータで編集し画像化する演算手段と、画像化した情報を画面に表示する可視化手段とからなることを特徴とする放射線治療時における標的臓器と線量分布の同時測定方法の構成とした。
【選択図】 図1
Outline of related art and contending technology


がんの治療方法として、放射線治療があり、エックス線やガンマ線の他に陽子線などの荷電粒子線が使用されている。放射線治療においては、がんの位置及び形状と、放射線の高線量領域の位置及び形状が精度良く一致していることが重要である。



放射線治療では、予めエックス線コンピュータ断層撮影装置(CT)により、がんの位置及び形状を把握し、次に治療計画装置により、照射条件の最適化と放射線の線量分布が計算されるが、実際に体内で形成される放射線の線量分布が計画通りであるか否かを確認するための手段は確立されていない。



体内の線量分布把握手段としては、特許文献1に記載されているように、荷電粒子ビームを加速する加速手段と、荷電粒子ビームを輸送し射出させる手段と、荷電粒子ビームの照射箇所から発生する音響信号を検知する手段と、照射箇所を求める演算手段と、照射箇所を記録する手段とからなる医療用荷電粒子ビーム装置という発明も公開されている。
【特許文献1】
特開平10-52509号公報



しかしながら、特許文献1に記載の発明では、予めエックス線コンピュータ断層撮影装置(CT)で臓器を撮影しておき、後から陽子線などの放射線を照射して線量分布を求めるため、臓器位置と線量分布には時間的なずれが生じており、精度が悪い。



また、エックス線やガンマ線の場合、表面付近の相対線量が強く、体内に入るにつれて弱くなっていくため、がん以外の細胞にも影響を与えてしまうので、体内の特定の位置に高線量領域を合わせることができる陽子線の方が適している。

Field of industrial application


本発明は、がん治療等のために体内の臓器位置と放射線による線量分布をリアルタイムに表示することができる放射線治療時における標的臓器と線量分布の同時測定方法及びその測定装置に関する発明である。

Scope of claims 【請求項1】
超音波検出器から送信した超音波の反射波を同超音波検出器で受信する臓器情報検出手段と、前記超音波検出器の送信を停止して加速器からビーム輸送系を介して放射線を照射することにより発生した音響波を同超音波検出器で受信する線量分布情報検出手段と、前記臓器情報検出手段で検出した臓器情報と前記線量分布情報検出手段で検出した線量分布情報をコンピュータに保存する記録手段と、前記臓器情報と前記線量分布情報をコンピュータで編集し画像化する演算手段と、画像化した当該臓器情報及び線量分布情報を画面に表示する可視化手段とからなることを特徴とする放射線照射時における標的臓器と線量分布の同時測定システム。

【請求項2】
放射線が、エネルギーの強さにより相対線量が最大になる深さが変化する陽子線であることを特徴とする請求項1に記載の放射線照射時における標的臓器と線量分布の同時測定システム。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2004354816thum.jpg
State of application right 登録
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