TOP > 国内特許検索 > 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡

走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 (Patent unpublished to the public) 新技術説明会

Patent code P210017806
File No. P19-091
Posted date 2021年7月9日
Application number 特願2020-137405
Date of filing 令和2年8月17日(2020.8.17)
Inventor
  • 髙橋 康史
Applicant
  • 国立大学法人金沢大学
Title 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 (Patent unpublished to the public) 新技術説明会
Abstract 走査機構の改良により、SICM(イオンコンダクタンス顕微鏡)計測を高速化する。生細胞から蓄電材料に至るまでの幅広い領域で活用できる。(例)ナノスケールでの細胞表面の可視化,ウイルスが細胞の取り込まれる様子の連続的な可視化。
IPC(International Patent Classification)
  • G01Q 9/00
Reference ( R and D project ) 金沢大学高橋研究室
(有)金沢大学ティ・エル・オーは、金沢大学の研究者の出願特許を産業界へ技術移転することを主目的として、金沢大学の教官の出資により設立された技術移転機関です。
ご興味のある方は、下記「問合せ先」へ整理番号と共にご連絡願います。
なお、既に活用のお申し込み・お打合わせ等の段階に入っている場合もございますので、予めご承知おきください。


PAGE TOP

close
close
close
close
close
close
close