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INSPECTION METHOD AND DEVICE OF MATERIAL CONTAINING MAGNETIC SUBSTANCE

Patent code P06A009705
Posted date Mar 2, 2007
Application number P2005-057442
Publication number P2006-242701A
Patent number P4660751
Date of filing Mar 2, 2005
Date of publication of application Sep 14, 2006
Date of registration Jan 14, 2011
Inventor
  • (In Japanese)小竹 茂夫
  • (In Japanese)川上 博士
  • (In Japanese)長谷 浩一
  • (In Japanese)太田 充洋
  • (In Japanese)鈴木 泰之
  • (In Japanese)青山 智胤
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人三重大学
Title INSPECTION METHOD AND DEVICE OF MATERIAL CONTAINING MAGNETIC SUBSTANCE
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring method and a measuring device capable of estimating a breakage form or examining the position of a crack starting point, a crack developing direction, a stress distribution or the like simply in detail regardless of the sample size, in a machine or a building comprising a material including a magnetic substance, broken by an accident, a disaster or the like.
SOLUTION: A magnetic flux density is measured by using a magnetic flux density sensor, and by using the rupture phase of the material including at least a magnetic substance. The magnetic flux density on the rupture phase is measured, while keeping the distance between the magnetic flux density sensor and the rupture phase of the material approximately constant.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


従来、鉄鋼材料等の強磁性体を含む材料は、磁歪効果の逆に相当する「逆磁歪効果」が存在し、弾性変形等、外部応力の負荷に比例して透磁率や磁化などの磁性の性質が変化するため、それを使った非破壊検査や塑性変形状態の解析が、広く試みられてきた。例えば、非特許文献1では、磁気センサーとしてホール素子(磁束密度センサー)を用いた走査ホール素子顕微鏡によって、材料の内部応力と磁場強度を測定し、それを非破壊検査に使うことが示された。



一方、事故調査や製品の品質管理、製造プロセスなどにおいて、破壊形態を解析する必要性がある場合、その多くは、破面形態の単なる観察(光学又は電子顕微鏡を使用)から得られる情報を元にしたフラクトグラフィーにより、脆性破壊、延性破壊、疲労破壊、亀裂開始点などの判定を行ってきた。例えば、特許文献1が公知である。



【非特許文献1】
太田昭男他、電気学会論文誌A, 123巻7号(2003)p.611-617.



【特許文献1】
特開2000-266613号公報

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は、磁性体を含む材料の破面における破断時の破面進展方向や亀裂起点、延性・脆性破壊、破壊進行時の応力等の分布を測定する検査方法及び検査装置に関するものである。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
磁性体を含む材料の破断原因を調べる検査方法において、
前記材料の破断表面上に磁束密度センサーを配置し、前記破断表面と前記磁束密度センサーとの距離を略一定に保持して3次元的に移動走査させて磁場強度と磁場ベクトルを測定し、
前記磁場ベクトルの強度が最大になる点を内部亀裂開始点と判断することを特徴とする磁性材料の破断面検査方法。

【請求項2】
 
磁性体を含む材料の破断原因を調べる検査装置であって、
前記材料の破断表面上に磁束密度センサーを配置し、前記破断表面と前記磁束密度センサーとの距離を略一定に保持して3次元的に移動走査させて磁場強度と磁場ベクトルを測定し、
前記磁場ベクトルの強度が最大になる点を内部亀裂開始点と判断することを特徴とする磁性材料の破断面検査装置。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2005057442thum.jpg
State of application right Registered
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