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SAMPLE TEMPERATURE CONTROLLER

Patent code P07A009777
File No. A0300119
Posted date Apr 13, 2007
Application number P2004-095450
Publication number P2005-283796A
Patent number P4547176
Date of filing Mar 29, 2004
Date of publication of application Oct 13, 2005
Date of registration Jul 9, 2010
Inventor
  • (In Japanese)徳永 万喜洋
  • (In Japanese)上 喜裕
Applicant
  • (In Japanese)大学共同利用機関法人情報・システム研究機構
  • (In Japanese)オリンパス株式会社
Title SAMPLE TEMPERATURE CONTROLLER
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sample temperature controller by which an observer can observe a sample to be observed stably for a long period of time almost without causing image blurring due to the change of ambient temperature.
SOLUTION: The sample temperature controller is equipped with a sample base 100 on which a cultivation container 150 in which an observation sample 162 is laid is mounted and a temperature controlling element 103 which is attached to the sample base 100. The sample base 100 has a ring-shaped groove 102 which encloses a part on which the cultivation container 150 in which the observation sample 162 is laid is mounted. The temperature controlling element 103 is arranged in the groove 102 of the sample base 100.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


一般に、顕微鏡を使用した試料観察は、顕微鏡ステージ上に載置された試料に対して対物レンズを接近させ、試料上の観察要部を拡大することによって行なう。この場合、試料に近接される対物レンズは、倍率が高くなるほど焦点深度が小さくなるため、対物レンズと観察試料との位置合わせが難しくなるとともに、対物レンズと試料の間の微小な距離の変化に対しても観察像が大きくぼけてしまう。また、対物レンズと観察試料との見かけ上の位置は、非常に近接しているが、これらの機械的結合の長さは、顕微鏡フレーム、対物レンズ移動機構、レボルバーなどの多数の機械部品が介在するため非常に大きい。さらに、これらの機械部品は、温度変化によってその寸法を変えやすい。このため、試料観察時に、観察試料に対して対物レンズの焦点合わせを行なっても、例えば、照明のオンオフ、内部電源や空調設備の作動によって、周囲温度が変化して各機械部品の寸法が変化すると、対物レンズと試料の間の距離が変化するため焦点が簡単にずれてしまう。



この不具合を解決するため、特開2001-305432号公報は、対物レンズと試料台の間の距離を変位センサーで検出し、この距離を一定に保つ装置を開示している。



一方、最近では、顕微鏡による生体試料観察が広くなされており、生体試料を顕微鏡上で長時間生かしつづける必要がある。このため、例えば、特開2003-50358号公報は、生体試料を一定の温度に保温する装置を開示している。
【特許文献1】
特開2001-305432号公報
【特許文献2】
特開2003-50358号公報

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は、観察試料の温度を調節する試料温度調節装置に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
観察試料の温度を調節する試料温度調節装置であり、
観察試料が載せられる試料台であって、観察試料が載せられる部分を取り囲んでいる溝を有している試料台と、
試料台に取り付けられた温度調節素子であって、試料台の溝の中に配置されている温度調節素子とを備えている、試料温度調節装置。

【請求項2】
 
請求項1において、試料台が一枚の板で構成されている、試料温度調節装置。

【請求項3】
 
請求項1において、温度調節素子がヒーターで構成されている、試料温度調節装置。

【請求項4】
 
請求項1において、温度調節素子は加熱と冷却を行なえる、試料温度調節装置。

【請求項5】
 
請求項4において、温度調節素子がペルチェ素子で構成されている、試料温度調節装置。

【請求項6】
 
請求項1において、観察試料と試料台の少なくとも一方の温度を計測する温度センサーと、温度センサーによって計測される温度に基づいて温度調節素子を制御する温度コントローラーとをさらに備えている、試料温度調節装置。

【請求項7】
 
請求項1において、観察試料を入れた容器の使用に対応しており、容器は底面から突出している足を備えており、試料台は容器の足が収まる凹部を有しており、凹部は、その中に容器の足が収められたとき、容器の底面が試料台と接触することを可能にする、試料温度調節装置。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2004095450thum.jpg
State of application right Registered


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