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熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法および健全性診断システム

国内特許コード P07A011917
整理番号 220
掲載日 2007年11月30日
出願番号 特願2005-195079
公開番号 特開2007-010619
登録番号 特許第3968443号
出願日 平成17年7月4日(2005.7.4)
公開日 平成19年1月18日(2007.1.18)
登録日 平成19年6月15日(2007.6.15)
発明者
  • 牧村 俊助
  • 下村 浩一郎
出願人
  • 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構
発明の名称 熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法および健全性診断システム
発明の概要 【課題】熱衝撃を受ける機器の稼動中に、安価かつ安全にその機器の健全性を診断することにある。
【解決手段】熱衝撃を受ける機器1の熱衝撃を受ける位置の周囲の複数位置に圧力波検知素子5A~5Dをそれぞれ固着し、前記機器の稼動によってその機器に熱衝撃を与えるとともに、前記複数位置の圧力波検知素子の出力信号を信号計測装置でそれぞれ計測し、前記熱衝撃による応力波に対応する出力信号を前記圧力波検知素子が出力しなかった位置がある場合に、前記機器のその圧力波検知素子を固着した位置と前記熱衝撃を与えた位置との間に亀裂があって前記機器の健全性が損なわれていると判断することを特徴とする、熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法である。
【選択図】図1
従来技術、競合技術の概要


ミュオン標的は、パルス状陽子ビームを受けてミュオンを発生させるが、パルス状の粒子ビームを受け続けていると、材料の疲労や収縮によって内部亀裂による破損が生じ、健全性が損なわれる可能性がある。



このような健全性を診断する従来の方法としては、例えば、図3に示すように構造材等の診断対象物1に超音波発信機2と超音波受信機3とを取り付けて超音波SSWにより内部の亀裂を発見する超音波探傷法や、図4に示すようにパルス状レーザー光PLを結晶やミラー等の診断対象物1に照射して内部の亀裂で反射させてその反射光RLをフォトダイオード4等を持つ検出装置で検出する方法が知られている。

産業上の利用分野


この発明は、熱衝撃を受ける機器の健全性を診断する方法およびシステムに関するものである。



この発明は、例えば、パルス状陽子ビームをミュオン標的で受けてそこで発生するミュオンを用いるミュオン科学実験機器や常温核融合機器等に利用でき、さらには、パルスレーザービームを用いるレーザー加工機器等にも利用することができる。

特許請求の範囲 【請求項1】
熱衝撃を受ける機器の熱衝撃を受ける位置の周囲の複数位置に圧力波検知素子をそれぞれ固着し、
前記機器の稼動によってその機器に熱衝撃を与えるとともに、前記複数位置の圧力波検知素子の出力信号を信号計測装置でそれぞれ計測し、
前記熱衝撃による応力波に対応する出力信号を前記圧力波検知素子が出力しなかった位置がある場合に、前記機器のその圧力波検知素子を固着した位置と前記熱衝撃を与えた位置との間に亀裂があって前記機器の健全性が損なわれていると判断することを特徴とする、熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法。

【請求項2】
前記圧力波検知素子は、圧電素子であることを特徴とする、請求項1記載の熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法。

【請求項3】
前記機器は、パルス粒子ビームを受ける標的であることを特徴とする、請求項1または2記載の熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法。

【請求項4】
前記機器は、パルスレーザー装置の光学部品であることを特徴とする、請求項1または2記載の熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法。

【請求項5】
熱衝撃を受ける機器の熱衝撃を受ける位置の周囲の複数位置にそれぞれ固着された圧力波検知素子と、
前記機器の稼動中前記複数位置の圧力波検知素子の出力信号をそれぞれ計測する信号計測装置と、
を具えてなる、請求項1記載の健全性診断方法用の熱衝撃を受ける機器の健全性診断システム。

国際特許分類(IPC)
Fターム
画像

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JP2005195079thum.jpg
出願権利状態 登録
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