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SOUNDNESS DIAGNOSTIC METHOD AND SOUNDNESS DIAGNOSTIC SYSTEM FOR EQUIPMENT OF RECEIVING THERMAL SHOCK

Patent code P07A011917
File No. 220
Posted date Nov 30, 2007
Application number P2005-195079
Publication number P2007-010619A
Patent number P3968443
Date of filing Jul 4, 2005
Date of publication of application Jan 18, 2007
Date of registration Jun 15, 2007
Inventor
  • (In Japanese)牧村 俊助
  • (In Japanese)下村 浩一郎
Applicant
  • (In Japanese)大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構
Title SOUNDNESS DIAGNOSTIC METHOD AND SOUNDNESS DIAGNOSTIC SYSTEM FOR EQUIPMENT OF RECEIVING THERMAL SHOCK
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To inexpensively and safely diagnose soundness of equipment under an operation of the equipment receiving thermal shock.
SOLUTION: In this soundness diagnostic method for the equipment receiving the thermal shock, pressure wave detecting elements 5A-5D are fixed in a plurality of positions in a periphery of a position receiving the thermal shock in the equipment receiving the thermal shock, the thermal shock is applied onto the equipment by the operation of the equipment, output signals from the pressure wave detecting elements in the plurality of positions are measured respectively by a signal measuring instrument, the presence of a crack is determined between the position where the pressure wave detecting element is fixed and the position where the thermal shock is applied, in the equipment, when the position where the output signal corresponding to a pressure wave by the thermal shock is not output from the pressure wave detecting element exists, and the soundness of the equipment is judged based thereon to be impaired.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


ミュオン標的は、パルス状陽子ビームを受けてミュオンを発生させるが、パルス状の粒子ビームを受け続けていると、材料の疲労や収縮によって内部亀裂による破損が生じ、健全性が損なわれる可能性がある。



このような健全性を診断する従来の方法としては、例えば、図3に示すように構造材等の診断対象物1に超音波発信機2と超音波受信機3とを取り付けて超音波SSWにより内部の亀裂を発見する超音波探傷法や、図4に示すようにパルス状レーザー光PLを結晶やミラー等の診断対象物1に照射して内部の亀裂で反射させてその反射光RLをフォトダイオード4等を持つ検出装置で検出する方法が知られている。

Field of industrial application (In Japanese)


この発明は、熱衝撃を受ける機器の健全性を診断する方法およびシステムに関するものである。



この発明は、例えば、パルス状陽子ビームをミュオン標的で受けてそこで発生するミュオンを用いるミュオン科学実験機器や常温核融合機器等に利用でき、さらには、パルスレーザービームを用いるレーザー加工機器等にも利用することができる。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
熱衝撃を受ける機器の熱衝撃を受ける位置の周囲の複数位置に圧力波検知素子をそれぞれ固着し、
前記機器の稼動によってその機器に熱衝撃を与えるとともに、前記複数位置の圧力波検知素子の出力信号を信号計測装置でそれぞれ計測し、
前記熱衝撃による応力波に対応する出力信号を前記圧力波検知素子が出力しなかった位置がある場合に、前記機器のその圧力波検知素子を固着した位置と前記熱衝撃を与えた位置との間に亀裂があって前記機器の健全性が損なわれていると判断することを特徴とする、熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法。

【請求項2】
 
前記圧力波検知素子は、圧電素子であることを特徴とする、請求項1記載の熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法。

【請求項3】
 
前記機器は、パルス粒子ビームを受ける標的であることを特徴とする、請求項1または2記載の熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法。

【請求項4】
 
前記機器は、パルスレーザー装置の光学部品であることを特徴とする、請求項1または2記載の熱衝撃を受ける機器の健全性診断方法。

【請求項5】
 
熱衝撃を受ける機器の熱衝撃を受ける位置の周囲の複数位置にそれぞれ固着された圧力波検知素子と、
前記機器の稼動中前記複数位置の圧力波検知素子の出力信号をそれぞれ計測する信号計測装置と、
を具えてなる、請求項1記載の健全性診断方法用の熱衝撃を受ける機器の健全性診断システム。

IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2005195079thum.jpg
State of application right Registered
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