Top > Search of Japanese Patents > RADIATION ARRIVAL POSITION DETECTION SYSTEM

RADIATION ARRIVAL POSITION DETECTION SYSTEM

Patent code P07A011920
File No. 223
Posted date Nov 30, 2007
Application number P2005-204589
Publication number P2007-024584A
Patent number P4217788
Date of filing Jul 13, 2005
Date of publication of application Feb 1, 2007
Date of registration Nov 21, 2008
Inventor
  • (In Japanese)上原 貞治
Applicant
  • (In Japanese)大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構
Title RADIATION ARRIVAL POSITION DETECTION SYSTEM
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To allow the measurement of a beam shape and the detection of a radiation arrival position for X-rays, gamma rays, and charged particle radiation without requiring a transmitter.
SOLUTION: In the radiation arrival position detection system, a radiation device is configured as follows. It comprises an emission part H including a scintillator and a lens part L. The lens part is provided with a lens surface on one side. The volumes of the emission part H and the lens part L are formed so that they have the relationship VH>VL, wherein VH is the volume of the emission part H and VL is the volume of the lens part L. A narrow part R is formed between the emission part H and the side of the lens part L opposite to the lens surface. The optical axis of the emission part H and that of the lens part L are parallel to each other. An array is configured which consists of an arrangement of a plurality of the radiation devices so that their lens surfaces are arranged in a row on a plane. The spatial distribution of the emission intensity of the scintillator is measured as an image.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


シンチレータを用いた何らかの構造体に放射線を照射し、その到達位置を直接的に測定するためには、ライトガイドや光ファイバーなど光を伝送するための構造を必要とする。また、カメラなどを使って撮像する方法も考えられる。
しかしながら、全体の構造が複雑になる。また、このために構造の各部分に用いられる材質の放射線耐性の検討が必要となる。放射線耐性に劣る部分があった場合、その部分のために使用中に性能が劣化することとなる。また、通常の撮像の場合、一般に集光率が極端に低くなる場合が多い。

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は、放射線到達位置検出装置及びその応用分野に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
シンチレータを含有する発光部Hとレンズ部Lとを有し、該レンズ部は一方側にレンズ面を形成し、該発光部Hと該レンズ部Lのレンズ面の反対側との間にくびれ部Rを形成し、該発光部Hの中心軸とレンズ部Lの光軸が平行になるように放射装置を構成するとともに、該放射装置の複数個をレンズ面が平面上に並列するように配列したアレーを構成し、シンチレータの発光強度の空間分布をイメージとして測定することを特徴とする放射線到達位置検出方法。

【請求項2】
 
シンチレータを含有する発光部Hとレンズ部Lとを有し、該レンズ部は一方側にレンズ面を形成し、該発光部Hと該レンズ部Lのレンズ面の反対側との間にくびれ部Rを形成し、該発光部Hの中心軸とレンズ部Lの光軸が平行になるように放射装置を構成するとともに、該放射装置の複数個をレンズ面が平面上に並列するように配列したアレーを構成し、シンチレータの発光強度の空間分布をイメージとして測定することを特徴とする放射線到達位置検出装置。

【請求項3】
 
該発光部Hと該レンズ部Lとの体積は、該発光部Hの体積をVH とし、該レンズ部の体積をVL としたとき、VH>VLの関係に構成することを特徴とする請求項2に記載の放射線到達位置検出装置。

【請求項4】
 
シンチレータにより発生する光を検出するための検出器を具えたことを特徴とする請求項2又は3記載の放射線到達位置検出装置。

【請求項5】
 
シンチレータにより発生する光を検出するための検出器を具えるとともに前記レンズ面に正対させて設けたことを特徴とする請求項2乃至4のいずれか一項に記載の放射線到達位置検出装置。

【請求項6】
 
シンチレータにより発生する光を検出するための検出器を具えるとともにミラーを設け、ミラーにより光路を変えて、検出器を該光路上に配設したことを特徴とする請求項2乃至5のいずれか一項に記載の放射線到達位置検出装置。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

※Click image to enlarge.

JP2005204589thum.jpg
State of application right Registered
Please contact us by E-mail if you have any interests on this patent.


PAGE TOP

close
close
close
close
close
close
close