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ANGLE-MEASUREMENT-ACCURACY MEASURING APPARATUS

Patent code P07A013052
Posted date Jan 25, 2008
Application number P2002-080970
Publication number P2003-279336A
Patent number P3912667
Date of filing Mar 22, 2002
Date of publication of application Oct 2, 2003
Date of registration Feb 9, 2007
Inventor
  • (In Japanese)末谷 貴憲
  • (In Japanese)兵頭 章三
Applicant
  • (In Japanese)防衛装備庁長官
Title ANGLE-MEASUREMENT-ACCURACY MEASURING APPARATUS
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a small angle-measuring-error measuring apparatus for easily preventing a measuring error from being generated due to a parallax between a visible-ray angle measuring device and a specimen.
SOLUTION: A mirror 6 reflects a light beam emitted by a beam combiner 5 to an arbitrary direction regarding a swivel, a depression and an elevation so as to be guided to a half-mirror group 7, the group 7 transmits and reflects the light beam so as to be guided to a position of the specimen and so as to be guided to other specimens, and the mirror 8 guides the light beam to the position of the specimen. Consequently, the small angle-measuring-error measuring apparatus for easily preventing the measuring error from being generated due to the parallax between the visible-ray angle measuring device and the specimen is realized by aligning a detection position coarsely to an extent that a bundle of rays is detected.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


図3は従来の測角精度計測装置の構成を示す図であり、1は供試品用光源、2は可視光源、3は可視光線測角装置、4は検出位置再現装置である。



一般に光波センサは基準角度に対する角度差計測手段を具備しており、複雑なメカニズムを有するほどにその計測誤差が大きくなる。
従って、その計測値である測角値に含まれる誤差を計測することで、その精度を把握することにより測角値を較正することが望まれる。



従来の測角精度計測装置は、供試品である角度差計測手段を具備した光波センサのための供試品用光源1は、光波センサ設置位置から離れて複数の位置に設置され、1つの光波センサの方向に光波センサが検出可能な波長帯の光線を発し、設置された光波センサによる個々の光線角度と角度差の計測を可能にする。



可視光源2は供試品用光源1を使用前に供試品用光源1と同位置に設置し、供試品用光源1が発する光線と同方向に可視光線を発するように設置する。
可視光線測角装置3は、セオドライトに代表されるもので、供試品位置に別途設置し、可視光源2が発する可視光線の入射した可視映像を利用して旋回方向と俯仰角方向に調整し、複数の可視光源2の方向に指向させることで、個々の光線角度と角度差を測る。可視光源2による角度差と供試品による角度差との差が誤差となる。



検出位置再現装置4は、可視光線測角装置3を設置する時の高さ及び並進位置差を補償して、光線検出位置を供試品設置時と同位置とさせるための装置である。

Field of industrial application (In Japanese)


この発明は角度差計測手段を具備した光波センサの測角精度計測装置に関するものである。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
供試品である光波センサの測角精度を計測する測角精度計測装置において、
前記光波センサが検出可能な波長帯の光線を発し、前記光波センサの測角精度の測定に使用するための光源と、
前記光源から発する光線を透過するとともに可視光源からの光線を反射して、当該光源からの透過光線と可視光源からの反射光線とを重ねて一体化し同一方向に放出するビームコンバイナと、
前記ビームコンバイナにて一体化された光線を反射するミラーと、
前記光波センサの位置へ光線を誘導するとともに他のハーフミラーへ誘導するハーフミラーで構成されるハーフミラー群と、
前記光波センサへ光線を誘導するミラーと、
前記光波センサの位置に別途設置し旋回方向と俯仰角方向の光線角度を測る可視光線測角装置と、
前記光波センサと可視光線測角装置との設置状態の違いによる高さ及び並進位置差を補償し、光源検出位置を同位置とさせる検出位置合わせを実現する検出位置再現手段とを具備することを特徴とする測角精度計測装置。

【請求項2】
 
供試品である光波センサの測角精度を計測する測角精度計測装置において、
前記光波センサが検出可能な波長帯の光線を発し、前記光波センサの測角精度の測定に使用するための光源と、
前記光源から発する光線を平行光線化して発する供試品用コリメータと、
可視光源から発する光線を平行光線化して発する可視コリメータと、
前記2つのコリメータから発する平行光線を一体化するビームコンバイナと、
前記ビームコンバイナにて平行光線化された光線を反射するミラーと、
前記光波センサの位置へ光線を誘導するとともに群内の他のハーフミラー品に誘導するハーフミラー群と、
前記光波センサへ光線を誘導するミラーと、
前記光波センサの位置に別途設置し旋回方向と俯仰角方向の光線角度を測る可視光線測角装置とを具備することを特徴とする測角精度計測装置。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2002080970thum.jpg
State of application right Registered
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