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SCANNING MICROSCOPE WHICH CAN ACQUIRE CONFOCAL IMAGE AND EVANESCENCE ILLUMINATION IMAGE INFORMATION commons

Patent code P07A013108
File No. 430
Posted date Feb 22, 2008
Application number P2003-187142
Publication number P2005-024647A
Patent number P4461250
Date of filing Jun 30, 2003
Date of publication of application Jan 27, 2005
Date of registration Feb 26, 2010
Inventor
  • (In Japanese)寺川 進
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人浜松医科大学
Title SCANNING MICROSCOPE WHICH CAN ACQUIRE CONFOCAL IMAGE AND EVANESCENCE ILLUMINATION IMAGE INFORMATION commons
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a scanning microscope capable of acquiring a confocal image and an evanescence illumination image information.
SOLUTION: The scanning microscope capable of acquiring the confocal image and the evanescence illumination image information is equipped with a transparent board 9 which has a first face and a second face and which supports a sample on the first face. The optical system (4, 5, 6, 7, 8) of the confocal scanning microscope is arranged at the side of the first face. The light source (3, 13, 14) of the evanescence illumination supplies illumination light for cutting the sample with evanescence illumination light from the side of the second face. The optical system (11, 12, 15 ) of the scanning microscope for evanescence illumination image is arranged at the side of the second face.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


共焦点顕微鏡は対象標本のz軸上の1点でこれに垂直な面に沿って切断したような顕微鏡画像が得られ、医学生物学、半導体工学などの領域で使われる。
共焦点顕微鏡は照明用のレンズを備える板と、像からの信号を透過させるピンホール板を組にしたレンズつきニプコウ円板を用いて実現されている。



一方本件発明者は下記の「顕微鏡用極薄照明光発生装置および前記装置を用いた観察方法」の発明により、界面の全反射領域で発生するエバネッセンス光を用いて、極めて薄い光で標本を照明または励起してその結果発生する情報を得る顕微鏡用極薄照明光発生装置を提案している。エバネッセンス照明法では1μmより薄く切れる極薄照明光を発生できる。
【特許文献1】
特願2003-186769号
この装置を用いると、標本である細胞の断層情報、2以上の断層の情報から、細胞等の立体情報を獲得することができる。

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は、標本を光学的に切断した像を与える共焦点光学系と、ガラス‐水(または空気)界面にできるエバネッセンス光による照明を利用したエバネッセンス顕微鏡光学系を備え、同一標本について共焦点像とエバネッセンス照明像情報の両方を同時に取得できる走査顕微鏡に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
第1の面と第2の面を備え前記第1の面に標本を支持する透明板と、
前記第1の面側に配置される共焦点走査顕微鏡光学系と、
前記第2の面から第1の面に抜ける光の成分がミクロン以下の単位の厚さになるように前記第2の面に全反射角より大きい角度で入射させてエバネッセンス照明光を形成し前記標本を前記エバネッセンス照明光で切断するための照明光を供給するエバネッセンス照明光源と、
前記第2の面側に配置されているエバネッセンス照明像用の走査顕微鏡光学系とから構成し、
前記共焦点走査顕微鏡光学系からの照明を標本の特定の面に照明し、該照明により発生した信号光を受けて撮像される共焦点像と、前記エバネッセンス照明光により標本をミクロン以下の単位の厚さの光で切断してその部分より信号光を受けて撮像されるエバネッセンス照明像とを同時に観察するように構成し、且つ前記エバネッセンス照明光による照明点と前記共焦点走査顕微鏡光学系からの照明による照明点は標本上で重ならない様構成したことを特徴とする、
共焦点像とエバネッセンス照明像情報を取得できる走査顕微鏡。

【請求項2】
 
請求項1記載の走査顕微鏡において、共焦点走査顕微鏡光学系は、光源からの光をレンズつき円板、対応するピンホール円板からなるニプコウ円板組立、前記円板間に配置されているダイクロイックミラー、共焦点走査顕微鏡光学系対物レンズを介して標本の特定の面を照明し、照明により発生した信号光を前記ピンホール円板、前記ダイクロイックミラーで反射して撮像するように構成されている共焦点像とエバネッセンス照明像情報を取得できる走査顕微鏡。

【請求項3】
 
請求項1記載の走査顕微鏡において、
エバネッセンス照明像用の走査顕微鏡光学系は、
エバネッセンス照明により発生した信号光を対物レンズおよび収束レンズを介して信号光発生点に対応するピンホールを有するニプコウ円板を介して撮像するように構成されている共焦点像とエバネッセンス照明像情報を取得できる走査顕微鏡。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2003187142thum.jpg
State of application right Registered
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