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MEASURING DEVICE FOR OBJECT

Patent code P08P005596
Posted date Sep 12, 2008
Application number P2007-042929
Publication number P2008-203221A
Patent number P4967130
Date of filing Feb 22, 2007
Date of publication of application Sep 4, 2008
Date of registration Apr 13, 2012
Inventor
  • (In Japanese)木本 晃
  • (In Japanese)信太 克規
  • (In Japanese)辻 聡史
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人佐賀大学
Title MEASURING DEVICE FOR OBJECT
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring device capable of measuring thickness and location of a measured object simply, quickly, and surely with a single measuring means (sensor) by the use of optical thickness and electrical property of the measured object consisting of transparent body or conductive material.
SOLUTION: The measuring device for object, where when the measured object 100 is transparent body, any opaque member is arranged at its backside, and when conductive material, any non-conductive material is arranged at its backside, while light is irradiated to the measured object concerned to receive reflected light from the object, and a plurality of photoconductive elements changing resistance of two electrodes due to light of the received light concerned are arranged separately at a predetermined interval, is equipped with: a detecting means 2, in which while an AC power supply is connected to at least one side of electrode of a photoconductive element of a plurality of photoconductive elements, one side of electrode of other photoconductive elements is formed as an output terminal; a basis database memory 32, in which thickness and positional information for the measured object detected preliminary are stored as a reference data; and a discriminating means 3 discriminating thickness and location of the measured object based on the detected signal and the reference data from the detecting means.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


従来、この種の対象物測定装置として、測定対象物に光を投射することにより測定対象物までの距離を計測する距離計測装置又は測定対象物の電気特性の差異により測定対象物の材質又は測定対象物との距離を判別する対象物測定装置がある。この従来の対象物測定装置の概略回路構成図を図10に示す。



同図において対象物測定装置は、インピーダンス計測を自動平衡ブリッジ法に基づくLCRメータが用いられるものがあり、測定対象物に総ての電流が流入するために、測定用のLow側端子を電位が接地電位となる零となるように制御され、測定対象物100である測定対象物100の材質又は、測定対象物100との距離を測定できることとなる。



また、非接触で測定対象物の厚さを検出するためのセンサとして、光センサや電気インピーダンスセンサを利用した対象物測定装置がある。

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は、ロボットハンド等のセンサとして用いられる対象物測定装置に関し、特に非接触で測定対象物の厚さ及び位置を測定できる対象物測定装置に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
透明体又導電体からなる測定対象物に対して光を照射する光照射手段と、
前記測定対象物が透明体の場合は不透明な部材を背面に配設し、測定対象物が導電体の場合は不導電体の部材を背面に配設し、当該各々配設された測定対象物に光を照射して測定対象物からの反射光を受光し、当該受光光により二つの所定面積を有する電極間の光電半導体の抵抗値を変化させる複数の光導電素子を所定の間隔で離隔配設し、前記複数の光導電素子の少なくとも一の光導電素子の一方の電極に交流電源が接続されると共に、他の光導電素子の一方の電極が出力端子として形成される検知手段と、
前記検知手段の検知動作と同じ条件で予め検出された前記測定対象物に関する厚さ情報及び位置情報が基準データとして格納される基準データ記録手段と、
前記光照射手段で測定対象物に対して光を照射した場合と、光を照射しない場合の、前記検知手段の出力端子からの検知信号及び基準データに基づき前記測定対象物の厚さ及び光導電素子からの距離を判別する測定対象物判別手段とを備えることを
特徴とする対象物測定装置。

【請求項2】
 
前記請求項1に記載の対象物測定装置において、
前記検知手段が、二つの光導電素子を同一の平面上に各電極を整列状態にして配設し、当該整列状態の各電極における端部に位置する二つの電極のうちの一方に前記交流電源を接続し、他方を出力端子とすることを
特徴とする対象物測定装置。

【請求項3】
 
前記請求項1又は2に記載の対象物測定装置において、
前記光照射手段が、各光導電素子に直接光を照射しない位置に配設又は遮蔽部を配設することを
特徴とする対象物測定装置。

【請求項4】
 
前記請求項2に記載の対象物測定装置において、
前記光照射手段が、二つの光導電素子が配設される平面近傍であって、二つの光導電素子の中間に配設されることを
特徴とする対象物測定装置。

【請求項5】
 
前記請求項1ないし4のいずれかに記載の対象物測定装置において、
前記光照射手段が測定対象物に特定波長の光を照射し、検出手段が当該特定波長のみを選択透過して検出することを
特徴とする対象物測定装置。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2007042929thum.jpg
State of application right Registered
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