TOP > 国内特許検索 > A/D変換器および読み出し回路
非特許文献1の回路では、カラムに接続された高利得アンプを用いてカラムからの信号を増幅することによって、信号に対するノイズの影響を少なくする。非特許文献2の回路では、ノイズの低減と広いダイナミックレンジとの両立を図るために、アンプが1倍の増幅率と8倍の増幅率を持っている。非特許文献3の回路は、低ノイズの信号読み出しを提供している。この読み出しでは、イメージセンサの周辺回路は、高利得のアンプを用いた2段のノイズキャンセル回路を含む。
特許文献1には、A/D変換アレイ及びイメージセンサが記載されている。A/D変換アレイ及びイメージセンサでは、3個のキャパシタを用いて信号レベルとリセットレベルとの差を生成すると共にこの差をn倍に増幅する。また、特許文献2には、ディジタルノイズキャンセル機能をもつイメージセンサが記載されている。このイメージセンサでは、そのカラムにおいてアナログ領域でのノイズキャンセル回路を用いることなく、イメージアレイの信号レベルとリセットレベルのそれぞれのA/D変換を行ってディジタル値を生成した後に、その差を求めている。【非特許文献1】 A. Krymski, N. Khaliullin, H Krymski, N. Khaliullin, H. Rhodes, “A 2e noise 1.3Megapixel CMOS sensor,” Proc. IEEE workshop CCD and Advanced Image Sensors, Elmau, Germany.【非特許文献2】 M. Sakakibara, S. Kawahito, D. Handoko, N. Nakamura, H. Satoh, M. Higashi, K. Mabuchi, H. Sumi,”A high-sensitivity CMOS image sensor with gain-adaptive column amplifiers,” IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 40, no. 5, pp. 1147-1156, 2005.【非特許文献3】 N. Kawai, S. Kawahito, ”Noise analysis of high-gain low-noise column readout circuits for CMOS image sensors”, IEEE Trans. Electron Devices, vol.51, no.2, pp.185-194 (2004).【特許文献1】 特開2005-136540号公報【特許文献2】 特開2006-25189号公報
本発明は、CMOSイメージセンサのためのA/D変換器および読み出し回路に関する。
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