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(In Japanese)ラマン分光分析に用いる分析用基板及び分析用基板組合体 foreign

Patent code P10A015689
File No. QP050074-JP
Posted date Aug 31, 2010
Application number P2007-542322
Patent number P4491616
Date of filing Oct 18, 2006
Date of registration Apr 16, 2010
International application number JP2006320703
International publication number WO2007049487
Date of international filing Oct 18, 2006
Date of international publication May 3, 2007
Priority data
  • P2005-309337 (Oct 25, 2005) JP
Inventor
  • (In Japanese)小名 俊博
  • (In Japanese)村上 修一
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人九州大学
Title (In Japanese)ラマン分光分析に用いる分析用基板及び分析用基板組合体 foreign
Abstract (In Japanese)ラマン分光分析用の、低濃度の物質も高感度で分析することができる分析用基板若しくは分析用基板組合体を提供すること。
ラマン分光分析に用いる分析用基板1であって、所定の透明基板3と、この透明基板3の表面に不均一に付着した金属粒子5とからなること。
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


ラマン分光法は、光の非弾性散乱(ラマン散乱)を利用した分光法である。ラマン散乱は、光を照射した分子の各振動に起因するため、このラマン散乱を測定することにより、物質固有の振動に起因するスペクトルを得ることができる。ラマン分光法は赤外分光と同様に状態分析ができること、種々の形状の試料測定が可能で、特に水分の影響を受けないこと、波数精度が良いこと、測定時間が短いことなどから工学、薬学および農学分野など多くの分野から注目されている。また、製造業における品質管理手法としての利用も考えられている。しかし、ラマンスペクトルの検出感度は本質的には低く、微量成分の分析には適していない。また、再現性や定量性などの問題から癌診断の臨床医学に応用された例もない。



ラマン分光法を改良したSERS(表面増強ラマン分光法)は金属ナノ構造体に吸着した分子のラマン散乱が通常よりも増強する現象を用いた分光法である。原理として、分子が金属表面に吸着すると、金属表面の凹凸により電磁場の局所的増強(電磁場効果)と、局所的に増強された場における吸着分子の空軌道への電荷移動(化学効果)の2つの効果の重畳により、ラマン散乱の増強が起きると考えられている。SERSにより迅速に微量成分の分析が可能なことから、環境ホルモン、残留農薬および有毒成分などの検出の目的のために研究が行われている。

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は、ラマン分光分析に用いる分析用基板及び分析用基板組合体に係り、特に、試料内の物質を高感度に分析することができる分析用基板及び分析用基板組合体に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
ラマン分光分析に用いる分析用基板であって、所定の透明基板と、この透明基板の表面に不均一に付着した金属粒子とからなり、
前記金属粒子は、前記透明基板上の所定の領域ではナノオーダーの間隔で密集し、それ以外の領域ではマイクロオーダーの間隔で分散していることを特徴とする分析用基板。

【請求項2】
 
前記金属粒子は金、銀、銅、白金、パラジウム、アルミニウム、チタン又はコバルトからなることを特徴とする請求項1に記載の分析用基板。

【請求項3】
 
前記透明基板は、板状であることを特徴とする請求項1又は2に記載の分析用基板。

【請求項4】
 
前記透明基板は、円筒状であることを特徴とする請求項1又は2に記載の分析用基板。

【請求項5】
 
前記透明基板は、直方体状であることを特徴とする請求項1又は2に記載の分析用基板。

【請求項6】
 
少なくとも2枚の上記請求項3に記載の板状の分析用基板を相互に平行に配列したことを特徴とする分析用基板組合体。

【請求項7】
 
上記請求項4に記載の円筒状の分析用基板と、この円筒状の分析用基板の内部に挿入される少なくとも1枚の上記請求項3に記載の板状の分析用基板とからなることを特徴とする分析用基板組合体。

【請求項8】
 
直径の異なる少なくとも2つの上記請求項4に記載の円筒状の分析用基板を備え、直径の大きな分析用基板の内部に直径の小さな分析用基板を配置したことを特徴とする分析用基板組合体。

【請求項9】
 
上記請求項5に記載の直方体状の分析用基板と、この直方体状の分析用基板の内部に挿入される少なくとも1枚の上記請求項3に記載の板状の分析用基板とからなることを特徴とする分析用基板組合体。

【請求項10】
 
前記複数の分析用基板には、相互に異なる金属粒子が付着されていることを特徴とする請求項6~9の何れか一項に記載の分析用基板組合体。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2007542322thum.jpg
State of application right Registered
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