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APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING PH OR CONCENTRATION commons achieved foreign

Patent code P110002189
File No. S2009-1030-N0
Posted date Apr 6, 2011
Application number P2009-194304
Publication number P2011-047685A
Patent number P4452843
Date of filing Aug 25, 2009
Date of publication of application Mar 10, 2011
Date of registration Feb 12, 2010
Inventor
  • (In Japanese)山田 章
  • (In Japanese)中村 通宏
  • (In Japanese)毛利 聡
  • (In Japanese)成瀬 恵治
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人 岡山大学
Title APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING PH OR CONCENTRATION commons achieved foreign
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus and a method for measuring pH or concentration measuring in a shortest possible time even for a specimen having a low buffering activity.
SOLUTION: The apparatus and method for measuring pH or concentration for measuring the pH and concentration of a sample solution includes: first and second sensors outputting a signal in accordance with the pH or concentration of a solution; an inspection tube in which a first reservoir part with the first sensor and a second reservoir with the second sensor are disposed; a feeding means for feeding a baseline solution into the inspection tube; and an injection means for contacting the first sensor with the sample solution by injecting the specimen sample solution into the first reservoir part of the inspection tube, wherein a vibration means is provided which vibrates the interface between the sample solution stored in the first reservoir part and the baseline solution.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


従来、半導体材料を用いて構成した電界効果トランジスタ(FET:Field Effect Transistor)のゲート部分に所定の感応膜を設けたISFET(Ion Sensitive FET)が知られている。このISFETでは、感応膜が所定のイオンと反応することによって生じた電位変動を検出可能としている。



このようなISFETにおいて、感応膜に酸化タンタル(Ta2O5)膜などを用いることにより液体中の水素イオンを検出可能としてpHセンサとして機能するものが知られている(例えば、特許文献1参照。)。また、感応膜の材質を適宜調整することによって各種のイオンを検出することができ、濃度検出用のセンサなどとして用いられることも多い。



そして、上記したpHセンサを用いて液体のpHを自動測定する装置が提案されている(例えば、特許文献2参照。)。



このpH自動測定装置では、測定用pHセンサと、参照用pHセンサと、擬似比較電極を内部の所定位置に設けたpHセンサプローブを備えており、測定用pHセンサと、参照用pHセンサと、擬似比較電極をベースライン溶液に浸漬させて各センサでベースライン電位を検出することにより校正を行い、その後、pHセンサプローブ内に被検体の検体溶液を吸引することにより測定用pHセンサを検体溶液に接触させて電位を検出することにより水素イオン濃度を検出して、pHを測定可能としている。

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は、pHまたは濃度の測定装置及びpHまたは濃度の測定方法に関するものである。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
それぞれISFETで構成した第1と第2のセンサと、
先端側に被検体である検体溶液を貯留する第1貯留部を有するとともに基端側にベースライン溶液を貯留する第2貯留部を有する検査管と、
前記検査管の基端側から前記検査管内に前記ベースライン溶液を送給する送給手段と、
前記検査管の前記第1貯留部内に前記検体溶液を注入する注入手段と
を備えて、
前記第1貯留部には前記第1のセンサを測定用のセンサとして設けるとともに、
前記第2貯留部には前記第2のセンサを参照用のセンサとして設け、
前記送給手段で送給した前記ベースライン溶液により前記検査管内を洗浄した後に、前記注入手段で前記第1貯留部内に前記検体溶液を注入することにより、前記第1のセンサに前記検体溶液を接触させる一方で前記第2のセンサに前記ベースライン溶液を接触させて、前記検体溶液のpHまたは濃度を測定するpHまたは濃度の測定装置において、
前記第1貯留部内に前記検体溶液を注入したことにより前記検査管内に形成される前記検体溶液と前記ベースライン溶液との界面を振動させる振動手段を設けたpHまたは濃度の測定装置。

【請求項2】
 
前記振動手段は、前記第2貯留部内に貯留した前記ベースライン溶液に圧力変動を加えて前記界面を振動させる請求項1に記載のpHまたは濃度の測定装置。

【請求項3】
 
前記振動手段は、前記界面を0.1Hz以上の周波数で、0.1~60秒間振動させる請求項1または請求項2に記載のpHまたは濃度の測定装置。

【請求項4】
 
それぞれISFETで構成した第1と第2のセンサのうち、前記第1のセンサに被検体である検体溶液を接触させる一方、前記第2のセンサにベースライン溶液を接触させて前記検体溶液のpHまたは濃度を測定するpHまたは濃度の測定方法において、
前記第1のセンサが配設される第1貯留部と前記第2のセンサが配設される第2貯留部とを設けた検査管内に前記ベースライン溶液を送給した後に、前記第1貯留部内に前記検体溶液を注入することにより前記検査管内に前記検体溶液と前記ベースライン溶液との界面を形成し、この界面を振動させた後に測定するpHまたは濃度の測定方法。
IPC(International Patent Classification)
Drawing

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JP2009194304thum.jpg
State of application right Registered
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