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SPECTROMETRIC DEVICE FOR GEL-LIKE SAMPLE

Patent code P110003171
File No. E061P06
Posted date Jun 17, 2011
Application number P2003-143476
Publication number P2004-347412A
Patent number P3940376
Date of filing May 21, 2003
Date of publication of application Dec 9, 2004
Date of registration Apr 6, 2007
Inventor
  • (In Japanese)黒田 玲子
  • (In Japanese)真砂 央
  • (In Japanese)早川 広志
Applicant
  • (In Japanese)独立行政法人科学技術振興機構
  • (In Japanese)日本分光株式会社
Title SPECTROMETRIC DEVICE FOR GEL-LIKE SAMPLE
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectrometric device capable of performing accurate spectrometry even to a self-organizing sample, a gel like sample or the like.
SOLUTION: This spectrometric device 10 is equipped with a light irradiation part 12 for emitting monochromatic light having a wavelength selected from a plurality of wavelengths in order to perform wavelength scanning, an optical path changing part 16 for changing the course of light emitted from the light irradiation part 12, a polarized light modulation part 14 for modulating periodically the polarization state of the light whose course is changed by the optical path changing part 16, a rotating sample stand 18 rotatable on a horizontal plane around the optical axis as the center axis, and a photodetector 22 for detecting transmitted light transmitted through the sample 24 on the rotating sample stand 18. The device is characterized by irradiating light in the horizontal direction by the light irradiation part 12, changing the traveling direction of light, which is the light directed in the horizontal direction, in the vertical direction by the optical path changing part 14, and irradiating the sample installed horizontally on the rotating sample stand 18 with the light from the vertical direction.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)


物質の旋光性、偏光二色性、複屈折性などのスペクトルを測定することは、その物質の光学的特性及びその他の情報を調べる上で重要である。特に自己組織化する試料において、分子レベルでの配列、配向を調べる上で重要な測定である。このような円二色性等を測定する分光測定装置には、例えば特許文献1~4に記されたようなものがある。



【特許文献1】
特開2001-337035号公報
【特許文献2】
特開2001-311683号公報
【特許文献3】
特開2001-311684号公報
【特許文献4】
特開2002-313024号公報

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は分光測定装置、特にその試料保持機構の改良に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
光照射部及び光検出器を有し、光照射部と光検出部間で水平な光路が設定されている測定手段と、試料室とを備えた分光測定装置であって、
前記光照射部は、波長走査を行うため複数の波長の中から選択した波長を持つ単色光を出射し、
前記光検出器は、試料を透過した透過光を検出し、
前記試料室は、前記測定手段とは独立し、オプションとして装着可能に形成され、
前記試料室は、
前記光照射部から出射された光の進路を鉛直方向へ変更する光路変更部と、
該光路変更部によって進路を鉛直方向へ変更された光の偏光状態を周期的に変調させるための偏光変調部と、
光軸を中心軸として水平面内で回転可能な回転試料台と、を含み、
前記光照射部から水平方向に光が照射され、該水平方向に向かう光は前記光路変更部により鉛直方向に光の進行方向を変更され、前記回転試料台上に水平に設置されたゲル状試料に鉛直方向から光を照射することによって、前記ゲル状試料が水平に配置された状態での測定が可能であることを特徴とするゲル状試料用分光測定装置。

【請求項2】
 
請求項1のゲル状試料用分光測定装置において、
前記光路変更部は全反射プリズムまたはミラーにより構成され、水平方向に進む光を該全反射プリズム又はミラーで反射し進行方向を鉛直方向に変更することを特徴とするゲル状試料用分光測定装置。

【請求項3】
 
請求項1または2のゲル状試料用分光測定装置において、
該偏光状態が変調された光を試料に照射し、試料からの透過光を測定することで、試料の円偏光二色性または旋光分散または直線二色性または直線複屈折を測定することを特徴とするゲル状試料用分光測定装置。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2003143476thum.jpg
State of application right Registered
Reference ( R and D project ) ERATO KURODA Chiro morphology AREA
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