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APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING DNA DOUBLE-STRAND CUTTING DAMAGE

Patent code P110004119
File No. H22-058
Posted date Jul 7, 2011
Application number P2011-146381
Publication number P2013-015325A
Patent number P5938764
Date of filing Jun 30, 2011
Date of publication of application Jan 24, 2013
Date of registration May 27, 2016
Inventor
  • (In Japanese)栗政 明弘
  • (In Japanese)冨田 祐一郎
  • (In Japanese)渡部 勇哉
Applicant
  • Tottori University
Title APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING DNA DOUBLE-STRAND CUTTING DAMAGE
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an analytic technology with which DNA damage that occurs in a cell can be analyzed promptly and quantitatively.
SOLUTION: A DNA analysis apparatus (1) comprises image capture means (25) which captures images picked up in a time-series manner by introducing first fluorescent protein accumulated in a DNA double-strand cutting spot to a cell of an observation target, and image analysis means (15) which analyzes the captured images. For each of the images picked up in the time-series manner, the image analysis means (15) detects a region of an image of cell nucleus included in each image, counts the number of light-emitting spots with light emission of the first fluorescent protein included in the detected region, further determines an area of a light-emitting region with the light emission of the first fluorescent protein included in the detected region and generates, as analytic data, data determined in the time-series manner about a count value of the light-emitting spots and the area of the light-emitting region.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)

がんは我が国の死因の第1位であり、生涯のうちにがんに罹患する可能性は、おおよそ2人に1人とされる。がんは加齢により発症リスクが高まり、高齢化社会の進行にともない罹患者・死者数は今後とも増加していくと推測される。そのような状況で日本におけるがん治療は、これまでの手術療法を中心としたものであったが、今後は化学療法、放射線療法により重きが置かれると考えられている。

Field of industrial application (In Japanese)

本発明は、細胞のDNA二本鎖切断損傷を定量的に解析する装置及び方法に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
DNA二本鎖切断損傷を定量的に解析する装置であって、
DNA二本鎖切断箇所に集積する第1の蛍光タンパク質を観察対象の細胞に導入して同一の細胞が時系列で撮影された画像を取得する画像取り込み手段と、
取得した画像を解析する画像解析手段と、
表示手段と、を備え、
前記画像解析手段は、時系列で撮影された画像の各々について、
各画像に含まれる細胞核の画像の領域を検出し、
前記検出した領域に含まれる、細胞核における前記第1の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットの数をカウントし、
前記検出した領域に含まれる、細胞核における前記第1の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光領域の面積を求め、
時系列で求めた前記発光スポットのカウント値及び前記発光領域の面積のデータを前記細胞核と関連付けて解析データとして生成し、
前記表示手段は、前記発光スポットのカウント値及び前記発光領域の面積の前記解析データを時系列で表示する、
解析装置。

【請求項2】
 
前記画像は、前記第1の蛍光タンパク質に加えて、細胞周期のS期にある細胞を標識する第2の蛍光タンパク質をさらに観察対象の細胞に導入して前記同一の細胞が時系列で撮影された画像であり、
前記画像解析手段は、前記第1の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットのカウント及び発光領域の面積の算出に加えて、さらに、前記細胞核における前記第2の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットの数をカウントし、
前記表示手段は、前記発光スポットのカウント値及び前記発光領域の前記解析データに加えて、前記第2の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットの数を示すデータを時系列で表示する、
請求項1記載の解析装置。

【請求項3】
 
前記第1の蛍光タンパク質と前記第2の蛍光タンパク質とは異なる色の蛍光発光を示す、請求項2記載の解析装置。

【請求項4】
 
DNA二本鎖切断損傷を定量的に解析するためのプログラムであって、
コンピュータを、
DNA二本鎖切断箇所に集積する第1の蛍光タンパク質を観察対象の細胞に導入して同一の細胞が時系列で撮影された画像を取得する画像取り込み手段と、
取得した画像を解析する画像解析手段と、
表示手段と
して実行させ、
前記画像解析手段は、時系列で撮影された画像の各々について、
各画像に含まれる細胞核の画像の領域を検出し、
前記検出した領域に含まれる、細胞核における前記第1の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットの数をカウントし、
前記検出した領域に含まれる、細胞核における前記第1の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光領域の面積を求め、
時系列で求めた前記発光スポットのカウント値及び前記発光領域の面積のデータを前記細胞核と関連付けて解析データとして生成し、
前記表示手段は、前記発光スポットのカウント値及び前記発光領域の面積の前記解析データを時系列で表示する、
プログラム。

【請求項5】
 
前記画像は、前記第1の蛍光タンパク質に加えて、細胞周期のS期にある細胞を標識する第2の蛍光タンパク質をさらに観察対象の細胞に導入して前記同一の細胞が時系列で撮影された画像であり、
前記画像解析手段は、前記第1の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットのカウント及び発光領域の面積の算出に加えて、さらに、前記細胞核における前記第2の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットの数をカウントし、
前記表示手段は、前記発光スポットのカウント値及び前記発光領域の前記解析データに加えて、前記第2の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットの数を示すデータを時系列で表示する、
請求項4記載のプログラム。

【請求項6】
 
DNA二本鎖切断損傷を定量的に解析する方法であって、
DNA二本鎖切断箇所に集積する第1の蛍光タンパク質を観察対象の細胞に導入して時系列で同一の細胞の画像を撮影し、
時系列で撮影された複数の画像の各々について、
各画像に含まれる細胞核の画像の領域を検出し、
前記検出した領域に含まれる、細胞核における前記第1の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットの数をカウントし、
前記検出した領域に含まれる、細胞核における前記第1の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光領域の面積を求め、
時系列で求めた前記発光スポットのカウント値及び前記発光領域の面積のデータを前記細胞核と関連付けて解析データとして生成し、
前記発光スポットのカウント値及び前記発光領域の面積の前記解析データを時系列で表示手段に表示する、
解析方法。

【請求項7】
 
前記第1の蛍光タンパク質に加えて、細胞周期のS期にある細胞を標識する第2の蛍光タンパク質をさらに前記観察対象の細胞に導入して時系列で前記同一の細胞の画像を撮影し、
前記第1の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットのカウント及び発光領域の面積の算出に加えて、さらに、前記細胞核における前記第2の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットの数をカウントし、
前記発光スポットのカウント値及び前記発光領域の前記解析データに加えて、前記第2の蛍光タンパク質の蛍光発光による発光スポットの数を示すデータを時系列で前記表示手段に表示する、
請求項6記載の解析方法。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2011146381thum.jpg
State of application right Registered
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