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VACUUM MASS MEASURING DEVICE

Patent code P110004661
File No. 6423
Posted date Aug 2, 2011
Application number P2004-304402
Publication number P2006-118878A
Patent number P4729655
Date of filing Oct 19, 2004
Date of publication of application May 11, 2006
Date of registration Apr 28, 2011
Inventor
  • (In Japanese)阿部 哲也
  • (In Japanese)照沼 孝造
  • (In Japanese)小竹 富雄
Applicant
  • (In Japanese)独立行政法人 日本原子力研究開発機構
Title VACUUM MASS MEASURING DEVICE
Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To compensate the fluctuation of performance of a weighing means by making calibration of the weighing means possible while weighing process.

SOLUTION: After the lid 3 of the vacuum vessel 1 is opened, and the sample vessel 2 storing the measuring object M is mounted on the weighing dish 18, the vacuum vessel 1 is evacuated then the measurement is started. The weight of the object M is detected by the electronic balance 10 and its numeric value is displayed on the control display part 11. The electronic balance 10 must be calibrated frequently during the weighing process because of its inevitable influence of temperature of the measuring object M of high temperature. For the calibration the measurement is temporary stopped, and by remotely moving the cam 22 by the motor 21 the cylinder part 14 is raised by moving the lever 20 for supporting the weighing dish 18 by the flange 15 of the upper end of the cylinder part 14. By the elevation of the weighing dish 18, the weight transition rod 17 is separated into upper part 17a and lower part 17b in that condition the zero point adjustment can be performed.

Outline of related art and contending technology (In Japanese)


環境の悪い条件で、微小な荷重変化などを精度良く測定することは極めて難しい。



例えば、真空中において高温の溶融金属から放出されるガス量を時間単位で電子天びんを用いて質量変化として測定をしなければならない場合がある。しかし、電子天びんに対する熱影響等によりその特性が変化し、精度の良い測定が困難な場合が多い。

Field of industrial application (In Japanese)


本発明は、真空状態において質量測定を行い、秤量過程で校正を行い得る真空質量測定装置に関するものである。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
真空容器内において高温の試料を計量皿に載置してその質量変化を測定可能な真空質量測定装置であって、前記真空容器の下部に前記真空容器と気密に隔絶した熱遮蔽箱を設け、該熱遮断箱に秤量手段を内蔵し、該秤量手段は前記真空容器中に配置した前記計量皿を荷重伝達棒を介して支持し、前記計量皿を前記秤量手段から遠隔的に分離して前記秤量手段に前記計量皿の負荷が伝達しないようにする分離手段を設け、前記真空容器内を真空とした測定状態において前記計量皿を前記秤量手段から分離し前記秤量手段の零点調整を行うことを特徴とする真空質量測定装置。

【請求項2】
 
前記真空容器の上部に、前記試料を前記計量皿に載置するための開閉可能な蓋部を設けた請求項1に記載の真空質量測定装置。

【請求項3】
 
前記分離手段は前記荷重伝達棒を2つの部材から構成し、両部材を上下に分離するようにした請求項1又は2に記載の真空質量測定装置。

【請求項4】
 
前記荷重伝達棒の前記計量皿を固定した上部を、機械的手段により持ち上げ前記秤量手段から分離するようにした請求項3に記載の真空質量測定装置。

【請求項5】
 
前記熱遮蔽箱は前記真空容器と磁性流体により気密に隔絶した請求項1~4の何れか1つの請求項に記載の真空質量測定装置。
Industrial division
  • Measurement
IPC(International Patent Classification)
Drawing

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JP2004304402thum.jpg
State of application right Right is in force
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