PLANAR THIN-FILM SQUID DIFFERENTIAL MAGNETIC FLUX SENSOR AND NON-DESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS USING IT
Patent code | P110005622 |
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File No. | 05014P |
Posted date | Aug 18, 2011 |
Application number | P2005-148052 |
Publication number | P2006-322886A |
Patent number | P4635199 |
Date of filing | May 20, 2005 |
Date of publication of application | Nov 30, 2006 |
Date of registration | Dec 3, 2010 |
Inventor |
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Applicant |
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Title | PLANAR THIN-FILM SQUID DIFFERENTIAL MAGNETIC FLUX SENSOR AND NON-DESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS USING IT |
Abstract |
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a planar thin-film SQUID differential magnetic flux sensor having a special structure which makes any magnetic flux trap difficult to occur at a Josephson junction, and to provide a non-destructive inspection apparatus using it. SOLUTION: In the planar thin-film SQUID differential magnetic flux sensor which has a primary or more differential magnetic flux detecting coil for measuring a magnetic field differentiation, a SQUID ring is directly coupled with the magnetic flux detecting coil such that bias current flows in the Josephson junction in the SQUID ring along a direction parallel to a direction of an exciting magnetic field. |
Outline of related art and contending technology |
(In Japanese)
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Field of industrial application |
(In Japanese)
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Scope of claims |
(In Japanese) 【請求項1】 磁界微分を計測する一次以上の微分型磁束検出コイルを有する平面薄膜型SQUID微分型磁束センサにおいて、励磁磁場の方向と、SQUIDリング中のジョセフソン接合部に流れるバイアス電流の方向が平行になるようにSQUIDリング部と磁束検出コイルを直接結合させることを特徴とする平面薄膜型SQUID微分型磁束センサ。 【請求項2】 請求項1記載の平面薄膜型SQUID微分型磁束センサにおいて、前記バイアス電流を供給するリード線薄膜パターンの、中央部リード線薄膜パターンの方向を励磁磁場の方向と一致させるように配線することを特徴とする平面薄膜型SQUID微分型磁束センサを用いた非破壊検査用装置。 【請求項3】 請求項1又は2記載の平面薄膜型SQUID微分型磁束センサを用いた非破壊検査用装置において、前記励磁磁場を印加する逆向きの極性を持つ2個の電磁石を具備することを特徴とする平面薄膜型SQUID微分型磁束センサを用いた非破壊検査用装置。 【請求項4】 請求項1又は2記載の平面薄膜型SQUID微分型磁束センサを用いた非破壊検査用装置において、前記検出対象物が板状の検出対象物であり、前記励磁磁場を印加する二対の逆向きの極性を持つ4個の電磁石を具備することを特徴とする平面薄膜型SQUID微分型磁束センサを用いた非破壊検査用装置。 【請求項5】 請求項1又は2記載の平面薄膜型SQUID微分型磁束センサを用いた非破壊検査用装置において、前記励磁磁場を印加する逆向きの極性を持つ2個のソレノイドコイルを具備することを特徴とする平面薄膜型SQUID微分型磁束センサを用いた非破壊検査用装置。 |
IPC(International Patent Classification) |
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F-term |
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Drawing
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State of application right | Registered |
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