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PHOTON BEAM SCANNER AND PHOTON BEAM SCANNING METHOD

Patent code P120007959
File No. S2011-0389
Posted date Sep 28, 2012
Application number P2011-034193
Publication number P2012-173076A
Patent number P5737749
Date of filing Feb 21, 2011
Date of publication of application Sep 10, 2012
Date of registration May 1, 2015
Inventor
  • (In Japanese)紀井 俊輝
Applicant
  • Kyoto University
Title PHOTON BEAM SCANNER AND PHOTON BEAM SCANNING METHOD
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To facilitate collision of an electron beam and laser light.
SOLUTION: A path control device makes an electron beam E generated and laser light R collide with each other by controlling the paths of the electron beam E and laser light R. The path control device includes: an electron beam control part 7 which makes the electron beam E incident at a first focus 11 of a virtually set ellipse 10 by controlling the path of the electron beam E and changes the angle of incidence at the first focus 11; a laser light control part 8 which changes the traveling direction of the laser light R traveling from a second focus 12 of the ellipse 10 toward a part of the ellipse 10; and an elliptic surface mirror 9 which has a reflecting surface 19 along a part of the ellipse 10 and reflects the laser light R incident on the reflecting surface 19 from the second focus 12 to make the laser light R incident at the first focus 11 from the opposite side from the electron beam E.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)

加速器によって発生させた高エネルギー電子ビームとレーザ光とを衝突させることにより、レーザコンプトン散乱によるγ線(光子ビーム)を発生させることができ、発生させた準単色のγ線は、例えば貨物コンテナのような大型物品の内部(収容物)の非破壊検査を行う上で有用である。
このような非破壊検査を行う場合、検査対象となる対象物全体を走査(スキャン)するためには、γ線源と対象物との位置関係を変化させつつ走査する必要がある。

上記のような走査を行う装置として、例えば、特許文献1に記載のものがある。この走査装置は、衝突点に入射する電子ビームの入射角度を変化させるビーム入射角度制御装置と、衝突点に入射するレーザ光の入射角度を変化させるレーザ入射角度制御装置と、これら装置を制御する制御装置とを備えている。レーザコンプトン散乱では、電子ビームの衝突点への入射方向と同じ方向に光子ビームが放出されることから、前記走査装置によれば、電子ビームの衝突点への入射角度を変化させることにより、発生させる光子ビームの放射方向を変化させることができる。これにより、対象物を所定の範囲にわたって走査することが可能となる。

Field of industrial application (In Japanese)

本発明は、光子ビーム走査装置及び光子ビーム走査方法に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
電子ビームを発生させる電子ビーム発生装置と、
レーザ光を発生させるレーザ発生装置と、
発生させた電子ビーム及びレーザ光の経路を制御して電子ビームとレーザ光とを衝突させるための経路制御装置と、を備え、
前記経路制御装置は、
前記電子ビームの経路を制御して仮想的に設定された楕円の第1焦点に電子ビームを入射させると共に当該第1焦点への入射角度を変化させる電子ビーム制御部と、
前記楕円の第2焦点から当該楕円の一部へと向かう前記レーザ光の進行方向を変化させるレーザ光制御部と、
前記楕円の前記一部に沿った反射面を有し、前記第2焦点から当該反射面に入射したレーザ光を反射させて前記電子ビームの反対側から前記第1焦点に入射させる楕円面ミラーと、
を有し
前記レーザ光制御部は、前記第2焦点を焦点とする放物線の一部に沿った反射面を有し前記レーザ光が前記第2焦点を通過するように反射させる放物面ミラーを有していることを特徴とする光子ビーム走査装置。

【請求項2】
 
電子ビーム及びレーザ光の経路を制御して電子ビームとレーザ光とを衝突させ、光子ビームを発生させて行う光子ビーム走査方法であって、
前記電子ビームの経路を制御して仮想的に設定された楕円の第1焦点への電子ビームの入射角度を変化させる電子ビーム制御ステップと、
前記楕円の第2焦点を焦点とする放物線の一部に沿った反射面を有する放物面ミラーへレーザ光を入射させ、当該放物面ミラーで反射する当該レーザ光を、当該第2焦点を通過させるとともに、当該放物面ミラーにおけるレーザ光の入射点を変更することにより、当該第2焦点から、当該楕円の一部に沿った反射面を有する楕円面ミラーへと向かう前記レーザ光の進行方向を変化させるレーザ光制御ステップとを備えていることを特徴とする光子ビーム走査方法。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2011034193thum.jpg
State of application right Registered
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