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LIGHT STIMULATING RETINAL EXAMINATION METHOD AND APPARATUS achieved

Patent code P120008110
Posted date Nov 1, 2012
Application number P2004-225062
Publication number P2006-042952A
Patent number P4411435
Date of filing Aug 2, 2004
Date of publication of application Feb 16, 2006
Date of registration Nov 27, 2009
Inventor
  • (In Japanese)松本惣一セルソ
  • (In Japanese)古嶋正俊
  • (In Japanese)中塚和夫
Applicant
  • (In Japanese)国立大学法人大分大学
Title LIGHT STIMULATING RETINAL EXAMINATION METHOD AND APPARATUS achieved
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light stimulating retinal examination method and apparatus used for a physiological evaluation of the retina in an ophthalmologic field, and an evaluation of visual information processing in the ophthalmologic field, or neurological and neurosurgical fields.
SOLUTION: This light stimulating retinal examination method and apparatus use white light emitting diode as a background light source to the retina whole region, high-intensity light emitting diode as the light source of spot stimulus light to the retina region, and infrared light emitting diode as an observation light source in the method of examining the retina by locally stimulating the retina in the fundus oculi with light and obtaining bio-signals.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)

網膜は、眼底にある神経組織で主に視覚情報処理(光を電気信号に変換)を行なっている。その網膜を刺激することで眼科や脳神経分野で様々な疾患の診断や病態の進行の評価が可能となる。また、黄斑部は位置的に網膜の中心部にあり、視力や色覚に関わる割合は大きく、局所的に黄斑部を刺激することは視機能を評価する上で欠かせない手段である。刺激を受けた網膜と視覚情報を処理する脳から得られる電気的反応は網膜電図という。そのため、光刺激網膜検診方法と装置は網膜電図や視覚脳誘発電位を行うには必要不可欠なものである。

眼底カメラ型の光刺激網膜検診装置としては、ハロゲンランプを光源としたものを三宅らが試作し報告している。この光源は持続的に点灯するため、シャッターを用いることで点滅刺激(onとoff)を作成する。関連論文は非特許文献1に記載の通りである。
【非特許文献1】
三宅養三、近藤 俊、他。眼底直視下に計測する自覚的Perimetryと局所ERG、VER記録の組み合わせ装置による臨床疾患の解説。
【非特許文献2】
眼科(24):89-97、1982 Abe H, Usui T, TakagiM, others. A new focal pattern stimulator under direct observation of ocular fundus. Ophthalomologica(207):42~45, 1993.

Field of industrial application (In Japanese)

本発明は、眼科領域における網膜の生理学的評価及び眼科領域や神経内科・脳外科領域における視覚情報処理の評価に利用する光刺激網膜検診法及び光刺激網膜検診装置に関するものである。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
  眼底の網膜を局所的に光刺激して、眼球に装着した集光レンズの電極から光刺激による網膜からの生体電気信号を得て網膜を検診する光刺激網膜検診装置において、
赤外線カメラ本体における眼球正視ラインに直光しまたは偏光して、
赤外発光ダイオードを光源とする観察光学系と、
観察光学系の赤外線発光ダイオードの前方に白色発光ダイオードを設けカメラの先端の対物レンズの周囲を覆うドームを取付けその内壁に白色発光ダイオードを設けた背景光学系と、
網膜無刺激光源である高輝度発光ダイオードを光源とする刺激光学系とを設け、
眼球に装着した集光レンズの電極から光刺激による網膜からの生体電気信号を受信しその経時的変化をグラフ表示する網膜信号表示装置とを設けたことを特徴とする光刺激網膜検診装置。
IPC(International Patent Classification)
F-term
  • 4C316AA09
  • 4C316AB13
  • 4C316AB14
  • 4C316FY08
  • 4C316FZ03
Drawing

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JP2004225062thum.jpg
State of application right Registered
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