PLASTIC STANDARD MATERIAL AND ITS MANUFACTURING METHOD
| Patent code | P140011046 |
|---|---|
| File No. | 2002-P15 |
| Posted date | Oct 30, 2014 |
| Application number | P2003-047422 |
| Publication number | P2004-257809A |
| Patent number | P4154689 |
| Date of filing | Feb 25, 2003 |
| Date of publication of application | Sep 16, 2004 |
| Date of registration | Jul 18, 2008 |
| Inventor |
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| Applicant |
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| Title | PLASTIC STANDARD MATERIAL AND ITS MANUFACTURING METHOD |
| Abstract |
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a plastic standard material prepared by dispersing a known amount of a know element in a plastic base material, having a predetermined thickness and capable of obtaining an accurate analyzing result, and its manufacturing method. SOLUTION: A plurality of places of the plastic standard material are irradiated with an exciting beam to suppress the irregularity of the intensities of fluorescent X rays emitted from the element to 10% or below in a relative standard deviation. |
| Outline of related art and contending technology |
(In Japanese) 重合を促進するため、あるいは物理的、化学的な特性を付与するため、プラスチックには微量の金属が添加されていることが多い。ところが、この金属が所定量を超えて添加されていると、添加された金属が、人体や環境にとって有害なものとして問題になる。そのため、今日では、プラスチック中に金属を所定量以上添加することを規制する動きが出てきており、これに伴い、プラスチック製品に含まれる金属元素の濃度を正確に求めることが望まれる。 ところで、従来より、プラスチック製品に含まれる金属元素の定量には、原子吸光光度法が用いられている。しかしながら、この原子吸光分析法では、試料が分析後に原形を留めておらず、また、前処理が煩雑である。 そこで、プラスチック製品に含まれる金属元素の定量に、前処理が比較的簡単で、試料が分析後でも原形を留めている蛍光X線分析法を用いることが考えられる。この蛍光X線分析法の中には、既知の標準試料から得た、分析元素の濃度とX線強度との対応関係を表す検量線を用いる検量線法や、既知の標準試料を測定することで得た測定X線強度と、その標準試料から理論的に算出した理論X線強度との比（装置感度係数）を用いるファンダメンタルパラメータ法（以下、FP法と称する）がある。これらいずれの方法においても、既知の標準試料、すなわち分析対象試料の基材と同じ基材に、分析元素を既知量添加した試料が必要になる。 既知の元素をプラスチック基材に既知量添加したプラスチック標準試料としては、ポリエチレンパウダーに分析元素を添加し、200℃でポリエチレンパウダーを融解させながら混合、撹拌を行い、押出成型によって得られたブロック状のプラスチック標準試料が知られている（例えば、非特許文献1、非特許文献2参照）。 【非特許文献1】 |
| Field of industrial application |
(In Japanese) 本発明は、既知の元素がプラスチック基材中に既知量分散し、所定の厚さを有するプラスチック標準物質、およびその製造方法に関する。 |
| Scope of claims |
(In Japanese) 【請求項1】 プラスチック基材中に既知の元素が既知量分散した薄膜からなるプラスチック標準物質において、 このプラスチック標準物質の複数箇所に所定の励起ビームを照射し前記元素から発生する蛍光X線のX線強度のばらつきが、相対標準偏差10％以下に抑えられたものであることを特徴とするプラスチック標準物質。 【請求項2】 前記元素が、金属元素であることを特徴とする請求項1記載のプラスチック標準物質。 【請求項3】 プラスチック基材中に既知の元素が既知量分散した薄膜からなるプラスチック標準物質の製造方法において、 常温下において液状のプラスチック基材、既知の元素を既知量含む標準溶液及び硬化剤を混合する混合工程と、 前記混合工程を実施することで得られた混合溶液が硬化する前に、該混合溶液から薄膜を形成する形成工程と、 前記形成工程を実施することで得られた薄膜を硬化させる硬化工程と、 硬化された薄膜の複数個所に所定の励起ビームを照射し前記元素から発生する蛍光X線のX線ばらつきが相対標準偏差で10％以下であるものを合格とする判断工程と を有することを特徴とするプラスチック標準物質の製造方法。 【請求項4】 前記標準溶液が、金属塩類および有機金属化合物の少なくともいずれか一方を用いて調整されたことを特徴とする請求項3記載のプラスチック標準物質の製造方法。 |
| IPC(International Patent Classification) | |
| F-term |
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Drawing
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| State of application right | Registered |
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