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MEASUREMENT DEVICE meetings

Patent code P140011148
File No. TDU-268
Posted date Dec 5, 2014
Application number P2014-221143
Publication number P2016-090248A
Patent number P6445841
Date of filing Oct 30, 2014
Date of publication of application May 23, 2016
Date of registration Dec 7, 2018
Inventor
  • (In Japanese)吉田 俊哉
Applicant
  • (In Japanese)学校法人東京電機大学
Title MEASUREMENT DEVICE meetings
Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measurement device that curbs a measurement error and allows a measurement work to be easily and highly accurately performed.
SOLUTION: A measurement device comprises: a band-like measure part that has a first conductor part in which resistance per unit length is constant and an electric current flows in a long-side direction at a constant voltage, and a second conductor part opposing the first conductor part, and has flexibility in which, in a state having non-external force applied on a surface, the first conductor part and the second conductor part are arranged apart from each other so as to electrically insulate the first conductor part and the second conductor part, and in the state having the external force applied thereon, the first conductor part and the second conductor part come into contact at a pressure point having the external force applied thereon to be electrically connected; a voltage measurement unit that measures a voltage of an end part of the measure part; and a computation unit that uses the voltage measured in the state having the external force applied and the electric current to be flowed to the first conductor part therein and calculates a position of the pressure point in the long-side direction of the measure part.
Outline of related art and contending technology (In Japanese)

測定対象物について所定の部分の寸法を測定するために、巻尺テープを使用する方法が採用されてきた。即ち、巻尺テープを収納するケース部から巻尺テープを引き出し、巻尺テープを測定対象物に沿うように巻きつける。そして、ケース部から引き出された巻尺テープの長さによって寸法が測定される。このとき、巻尺テープの引き出された長さを静電容量や磁気を利用して取得することなどによって、目視で目盛りを読み取る必要のない測定装置が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。これにより、目盛りを読み取る煩雑さが解消され、誤読による測定ミスが防止される。また、接触抵抗の測定によって押圧箇所の圧力検出及び位置検出を行う接触センサの構造が開示されている(例えば、特許文献2参照。)。

Field of industrial application (In Japanese)

本発明は、測定対象物の寸法を測定する測定装置に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
単位長当たりの抵抗が一定であり且つ一定の電流値で電流が長手方向に流される第1の導体部、及び前記第1の導体部と対向する第2の導体部を有し、表面に外力が加わっていない状態では前記第1の導体部と前記第2の導体部とが電気的に絶縁するように離間して配置され、前記外力が加わった状態では前記外力を加えられた押圧点において前記第1の導体部と前記第2の導体部とが接触して電気的に接続する、屈曲性を有する帯形状のメジャー部と、
前記メジャー部の端部の電圧を計測する電圧計測部と、
前記押圧点に前記外力が加わった状態において計測された前記電圧及び前記第1の導体部に流される前記電流値を用いて、前記メジャー部の前記長手方向における前記押圧点の位置を算出する演算部と
を備え
前記演算部が、前記メジャー部において所定の基準電位が設定された基準位置から前記押圧点までの距離を算出することを特徴とする測定装置。

【請求項2】
 
前記演算部が、前記メジャー部の表面の離間した2箇所に外力を加えられた場合に、前記2箇所の2点間距離を算出することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。

【請求項3】
 
前記第1の導体部に前記電流を供給する電流源を更に備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の測定装置。

【請求項4】
 
前記演算部が、前記押圧点において前記第1の導体部と前記第2の導体部とが電気的に接続した状態における前記第2の導体部の前記端部の電圧V2、前記一定の電流値Ip、及び前記第1の導体部の単位長当たりの抵抗R1を用いて、前記基準位置から前記押圧点までの長さXを
X=V2/(R1×Ip)
の関係式を用いて算出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の測定装置。

【請求項5】
 
前記メジャー部の表面に前記外力が加えられていないことを検出して前記R1×Ipの値を前記演算部が算出することによって前記長さXを算出するための校正を行う自動校正機能を備えることを特徴とする請求項4に記載の測定装置。

【請求項6】
 
前記電圧計測部が、
複数箇所について計測された前記電圧がそれぞれ直接に入力されるアナログマルチプレクサと、
前記アナログマルチプレクサから順次出力される前記電圧を増幅する電圧増幅器と
を備え、前記複数箇所について計測された前記電圧が同一の前記電圧増幅器によって増幅されることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の測定装置。

【請求項7】
 
前記第1の導体部が、
長手方向に延伸し、前記電流が流される電流線と、
前記電流線とそれぞれ電気的に接続され、前記長手方向に沿って一定の間隔で配置されて短手方向に延伸する複数の電極と
を備えることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の測定装置。

【請求項8】
 
前記演算部によって算出された前記押圧点の位置を示す位置情報が入力されるデータ処理部を更に備え、
前記メジャー部の表面に対する前記外力の加え方を操作パラメータとして、前記データ処理部に入力された前記位置情報に対するデータ処理操作が制御されることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の測定装置。

【請求項9】
 
前記操作パラメータが、前記外力が加えられた時間、一定時間内に前記外力が加わった回数、前記外力が加えられる位置の変化の仕方の少なくともいずれかを含むことを特徴とする請求項8に記載の測定装置。
IPC(International Patent Classification)
F-term
Drawing

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JP2014221143thum.jpg
State of application right Registered
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