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(In Japanese)被測定対象の特性測定装置及び被測定対象の特性測定方法 meetings

Patent code P150011953
File No. J1027-01WO
Posted date Apr 28, 2015
Application number P2013-524664
Patent number P5892623
Date of filing Jul 10, 2012
Date of registration Mar 4, 2016
International application number JP2012067575
International publication number WO2013011869
Date of international filing Jul 10, 2012
Date of international publication Jan 24, 2013
Priority data
  • P2011-158637 (Jul 20, 2011) JP
Inventor
  • (In Japanese)生嶋 健司
Applicant
  • (In Japanese)国立研究開発法人科学技術振興機構
Title (In Japanese)被測定対象の特性測定装置及び被測定対象の特性測定方法 meetings
Abstract (In Japanese)
【課題】
 物体の特性測定手段として音波を利用することによって高い空間分解能を維持しつつ、仮に連続波であっても音波発生源の発生する電磁場ノイズ等から測定対象となる電気信号を確度高く抽出することのできる被測定対象の特性測定装置及びその方法を提供する。
【解決手段】
 本発明の1つの被測定対象の特性測定装置100は、被測定対象90から離れて配置される、振幅変調された音波を照射する音波照射部40と、その音波が被測定対象90に対して照射されることによって発生する電磁場を受信する受信部50と、その電磁場の強度、位相、及び周波数からなる群から選択される少なくとも1種の測定に基づいて、被測定対象90の電気特性、磁気特性、電気機械特性、及び磁気機械特性からなる群から選択される少なくとも1種の特性を抽出する測定部60とを備えている。
Outline of related art and contending technology (In Japanese)

非特許文献1において、強磁性体薄膜の磁化を時間変調すると、コヒーレントなテラヘルツ電磁波の放射が観測されることが報告されている。ただし、この文献1に記載されている技術は、音波ではなく、フェムト秒レーザー光の照射による磁化変調を開示しているにすぎない。

一方、音波(代表的には、超音波)による計測も、各種の構造物への非破壊検査として広く利用されている。これは、音波が、光の透過が困難な金属やコンクリートブロックのような対象物に対して内部透過性が高いという大きな利点を有するためである。しかしながら、これまでは、そのような音波の利用は被測定対象の質量密度分布や弾性的性質の検査又は診断に限定されていた。

上述のような状況の中、本願発明者は、音波の特徴を活かしながら、あらゆる対象物を被測定対象とし得る音波誘起電磁場による物体の特性測定装置及びその方法を提案している(特許文献1)。

Field of industrial application (In Japanese)

本発明は、振幅変調又は周波数変調された音波を受けることよって電磁場を発生し得る(放射し得る)対象物に対して適用可能な物体の特性測定装置及びその方法に関する。

Scope of claims (In Japanese)
【請求項1】
 
振幅変調された音波を照射する音波照射部と、
前記音波の発生源と被測定対象との距離を、前記音波の変調周波数に対する(1/4)波長の奇数の整数倍となる距離に設定する設定手段と、
前記音波が前記被測定対象に対して照射されることによって発生する電磁場を受信する受信部と、
前記電磁場の強度、位相、及び周波数からなる群から選択される少なくとも1種の測定に基づいて、前記被測定対象の電気特性、磁気特性、電気機械特性、及び磁気機械特性からなる群から選択される少なくとも1種の特性を抽出する測定部と、を備える、
被測定対象の特性測定装置。

【請求項2】
 
前記音波照射部が、連続して前記振幅変調された音波を発生する、
請求項1に記載の被測定対象の特性測定装置。

【請求項3】
 
前記測定部が、前記音波照射部から発生された前記音波の位相から所定角度ずれた電磁場に対して前記振幅変調の変調周波数を掃引することにより、極大又は極小となる前記強度を抽出する、
請求項1又は請求項2に記載の被測定対象の特性測定装置。

【請求項4】
 
前記受信部が、前記振幅変調された連続した前記音波が前記被測定対象に対して照射されることによって発生する前記電磁場を受信する、
請求項2に記載の被測定対象の特性測定装置。

【請求項5】
 
前記受信部が、磁場を検出するSQUID(超伝導量子干渉素子)を備えている、
請求項1、請求項2、又は請求項4に記載の被測定対象の特性測定装置。

【請求項6】
 
被測定対象に振幅変調された音波を照射する照射工程と、
前記照射工程における前記音波の発生源と前記被測定対象との距離を、前記音波の変調周波数に対する(1/4)波長の奇数の整数倍となる距離に設定する設定工程と、
前記被測定対象から発生する電磁場を受信する受信工程と、
前記電磁場の強度、位相、及び周波数からなる群から選択される少なくとも1種の測定に基づいて、前記被測定対象の電気特性、磁気特性、電気機械特性、及び磁気機械特性からなる群から選択される少なくとも1種の特性を抽出する測定工程と、を含む、
被測定対象の特性測定方法。

【請求項7】
 
前記音波が、連続した前記振幅変調された前記音波である、
請求項6に記載の被測定対象の特性測定方法。

【請求項8】
 
前記測定工程が、前記音波の発生源から発生された前記音波の位相から所定角度ずれた電磁場に対して前記振幅変調の変調周波数を掃引することにより、極大又は極小となる前記強度を抽出する、
請求項6又は請求項7に記載の被測定対象の特性測定方法。

【請求項9】
 
前記受信工程において、前記振幅変調された連続した前記音波が前記被測定対象に対して照射されることによって発生する前記電磁場を受信する、
請求項7に記載の被測定対象の特性測定方法。

【請求項10】
 
前記受信工程が、SQUID(超伝導量子干渉素子)により行われる、
請求項6、請求項7、又は請求項9に記載の被測定対象の特性測定方法。
IPC(International Patent Classification)
Drawing

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JP2013524664thum.jpg
State of application right Registered
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